8377355869

III.    RENTGENOWSKA SPEKTROMETRIA FLUORESCENCYJNA (XRF)

dr hab. Beata Zawisza, pracownia 31

1.    Własności promieniowania rentgenowskiego.

2.    Widmo ciągłe i charakterystyczne, krótkofalowa granica widma.

3.    Oddziaływanie promieniowania rentgenowskiego z materią.

4.    Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego.

5.    Budowa, typy i zasada działania spektrometrów.

6.    Przygotowanie próbek do analizy XRF.

7.    Analiza jakościowa i ilościowa.

8.    Zastosowanie promieniowania rentgenowskiego.

IV.    SPEKTROFOTOMETRIA (UV-VIS)

dr Katarzyna Pytiakowska, pracownia 33

1.    Promieniowanie elektromagnetyczne.

2.    Prawa absorpcji.

3.    Odstępstwa od praw absorpcji.

4.    Absorpcja promieniowania a struktura cząsteczki.

5.    Widma absorpcyjne.

6.    Aparatura spektrofotometryczna dla zakresu UV-VIS: źródła promieniowania, monochromatory, kuwety, detektory promieniowania, układy pomiarowe.

7.    Zastosowanie spektrofotometrii w analizie jakościowej.

8.    Zastosowanie spektrofotometrii w ilościowej analizie nieorganicznej (czułość i selektywność, barwne układy, przykłady oznaczeń, zastosowanie spektroskopii w analizie organicznej).

Analiza instrumentalna w przemyśle budowlanym Zagadnienia do kolokwium

Uniwersytet Śląski w Katowicach Instytut Chemii - Zakład Chemii Analitycznej ul. Szkolna 9

4