Wyniki wyszukiwana dla hasla C2 2� 1 Analiza czynników ryzyka zjawisk C1,C2,C3,C4 Wl, Ul, KI naturalnych w kontekście W2, U 2,skanuj0085 (35) d Ci, c2 średnica nominalna, równa w przybliżeniu średnicy walcowej powierzchni stykskanuj0086 Choroba C2>- zdrowie - wszystko m: jedno. Jesteś smutny, nu jesteś smutny: nic rozumieskanuj0088 (32) Ci +c2 59,8-0,28- 0,88 + 14,82 2,1 • 105 1252 -10 6 m = 1252 /um. Ponieważ N max = 2skanuj0246 (5) C2/c (Z = 4) i Pbca (Z = 4). Jeżeli dla PI Z = 1 lub dla P21/c Z = 2, środki symetriiSkrypt PKM 1 00088 176 Dla montażu napiszemy A0 , A0_Ąo Zatem 1 1 +i c„ = ć; c2 lub ctCi C° CjSkrypt PKM 1 00092 184 184 C2 X « di?1 <V i przyjmując odpowiednią skalę rysunkową odkształcenia.Skrypt PKM 200 206 Rozwijanie Para kół zjliXi+tj ■ 60 > 2z, *= 34 flę = — ^ *~ł m - 120 (mm) ParSlajd23 out (3)2 + (4 )2 a2 -b2 +c2 -d2 2 (Bx- )2_M> s 2(Bx ~ d) &nSlajd24 (109) l ci- l C2 - aktualne napięcia kolektorowe na tranzystorach Tx i T2; U31. lB2 - aktualSlajd28 out d ad c kx = — k2 = — k3 = g2 -Z>2 +c2 +J2 2 ac(sin ę sin ©3 + cos ęZdjęcie0171 (2) l/^^»owoć > Q9»x2<r Y-^-—l^.n) ___U) i / 77T JL_ vOI UV, C2 teoria p04 05 i cwLe 0 u/o fc*>/(.o.ua. zZd V fyt ~ 121/ £>& 2Z^C>00086 s4929f2605de3c43391d910b6633f9d 85 A Very Simple Set of Process Control Rules Cl = (T(l,l,-0Oimg009 (44) .24 Tom Ię,ę) C,Ql+(Q-Q,)-C2 «l +6^2-61^2 gj C .Gl-G Q &nbsimg014 >o c-c. (Zcudb c2.5 C&j- juJ^audi AŹe .+> 2SZ 2img052 (27) ^ r di C f ^ doC c2^ R> " A/7~ -<-2 & l7‘ 1 c. rh A ! P Co^/>img061 (21) 4 5 y^/^’ W ♦ £ 5>^-V ;**<„ = O,2> ^ *50, //(0Li = SJCh -W i-h OOLZ, u H * c „ * Q- c2 hJ_ s jtfc3 / * ff2 j/ ^ C l-f 1 Q A U> i c i^2 £ 2 cc2 V i— <2. w OL/‘ vA 2zX £--— ‘ / 2Z-Wybierz strone: [
1 ] [
3 ]
