Wyniki wyszukiwana dla hasla metrologia 003 XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów W dniach od 4 do 6 września 2006 r. odbyta się kolejThe Sl iv.ik Instilutc of Metrology (SML ł. Bratislava, Slovak Repuhlic the comparabilily of naNajważniejsze krajowe naukowe spotkania metrologiczne w 2007 rokuMiędzyzdroje, 12 - 16 lutego 2007 W• współczesne problemy podstaw metrologii; dydaktyka metrologii - teoria i modelowKATEDRA TECHNOLOGII MECHANICZNEJ I METROLOGII Laboratorium Komputerowych Pomiarów Wielkościskomplikowany układ optyczny. Dane metrologiczne: działka elementarna 0,2 (xm, zakres pomiarowy podzO O O® O® 0 003 OOCGO^^CaŚfiftGfiK)0000®® 900003600JPRS-UMS-92-003 16 March 1992ANALYSIS, TESTING 3 UDC 620.178.38 [Abstract] The shortcomings of tradi4ANALYSIS, TESTING JPRS-UMS-92-003 16 March 1992 elements from ethylene glycol model Solutions of chJPRS-UMS-92-003 16 March 1992ANALYSIS, TESTING 5 Proximate Photometric Antimony Identification in6ANALYSIS, TESTING JPRS-UMS-92-003 16 March 1992 modem photomultiplier (FEU) photodetectors which arJPRS-UMS-92-003 16 March 1992 ANALYSIS, TESTING 7 Ukrainian Academy of Sciences, Kiev, and Central8ANALYSIS, TESTING JPRS-UMS-92-003 16 March 1992 the method of separation of variables and the compuJPRS-UMS-92-003 16 March 1992ANALYSIS, TESTING 9 with the help of difTerential thermal analysis (DTA10ANALYSIS, TESTING JPRS-UMS-92-003 16 March 1992 induction and the dependence of the effective germJPRS-UMS-92-003 16 March 1992ANALYSIS, TESTING 11 in carbon materials has a grcater effect on their 12ANALYSIS, TESTING JPRS-UMS-92-003 16 March 1992 UDC (548.5+537.311 ):621.315.5 [Abstract] InSb foiJPRS-UMS-92-003 16 March 1992ANALYSIS, TESTING 13 The Effect of a Free Surface on the Distribution o14ANALYSIS, TESTING JPRS-UMS-92-003 16 March 1992 composite materiał with consideration for the arbiJPRS-UMS-92-003 16 March 1992ANALYSIS, TESTING 15 of sequential loading, the amount of damage incurrWybierz strone: [
4 ] [
6 ]
