Wyniki wyszukiwana dla hasla slide0138 image621 Image619 Na rysunku 5.5 przedstawiono schemat blokowy nowego typu próbnika, opracowanego również w fImage61 tictl p e tttttjl (dj: a D/cbluiPtt o Ocfi ftm riĄn<m>(*tj(p ^MiaeffiK ejuraifl ro&nbsImage61 tictl p e tttttjl (dj: a D/cbluiPtt o Ocfi ftm riĄn<m>(*tj(p ^MiaeffiK ejuraifl ro&nbsImage61 tictl p e tttttjl (dj: a D/cbluiPtt o Ocfi ftm riĄn<m>(*tj(p ^MiaeffiK ejuraifl ro&nbsImage61 tictl p e tttttjl (dj: a D/cbluiPtt o Ocfi ftm riĄn<m>(*tj(p ^MiaeffiK ejuraifl ro&nbsimage62 KOLOKWIUM NR 2 I. Wyjaśni brak crymoia optycznej racrmatu i związku mezo. 2 &nbImage6201 zeG : z == lż)4 > BzImage620 Przyrząd nakłada się na badany element, powodując tym dołączenie wyprowadzeń układu do wejśImage621 wyjść badanego układu do komparatora logicznego, w którym porównywane są odpowiedzi badanegImage622 nym czasie należy rejestrować grupę sygnałów we wzajemnym ich powiązaniu czasowym. Odnosi sImage623 T I | nym N cykli, otwierana jest bramka B2 i następuje wpisanie 16 słów Image624 5.6. Przyrządy do modelowania i testowania funkcjonalnego układów cyfrowych Przyrządy Image625 W zakresie badań funkcjonalnych można wyróżnić trzy metody sprawdzania układów: —Image626 Przegląd testerów przeznaczonych do testowania funkcjonalnego układów cyfrowychImage627 Omawiane testery należą do grupy przyrządów przeznaczonych dla użytkowników układów scalonyImage628 Podstawowe parametry techniczne przyrządu: — praca w systemie automatycznImage629 wadzane do separatorów, a stąd dwoma niezależnymi kanałami do wejść układu badanego iImage62 P O N D E li A ilEdłH nJii fair fcnbói, tpfcu. (P.. i, tłndv j. j. DtiJHr* f. fc> DfImage62 P O N D E li A ilEdłH nJii fair fcnbói, tpfcu. (P.. i, tłndv j. j. DtiJHr* f. fc> DfImage62 P O N D E li A ilEdłH nJii fair fcnbói, tpfcu. (P.. i, tłndv j. j. DtiJHr* f. fc> DfWybierz strone: [
8 ] [
10 ]
