r

NA RYNKU

ELEKTRONIKI

12

Radioelektronik Audio-HiFi-Video 1/2002

konywania na bie¿¹co prezentacji tych re-

zultatów na wykresach programu MS Excel.

Aby uczyniæ opisane mechanizmy bardziej

efektywnymi, Tektronix wykorzysta³ dwu-

monitorowy tryb pracy MS Windows. Ist-

nieje zatem mo¿liwoœæ do³¹czenia do

TDS5000 monitorów zewnêtrznych, gdzie

na jednym wyœwietlany jest widok ekranu

oscyloskopu, na drugim zaœ pulpit MS Win-

dows z uruchomionymi programami. Po-

nadto dostêpna jest w TDS5000 równie¿

opcja tworzenia oprogramowania oscylo-

skopu w jêzyku Java. Do tej pory opracowa-

ne w Tektronix programy Java umo¿liwiaj¹

transformacjê oscyloskopu (na czas uru-

chomienia programu) w specjalizowany

analizator jittera, analizator napêdów dysko-

wych lub analizator magistrali USB.

Integracja urz¹dzenia

w systemie

W celu umo¿liwienia integracji urz¹dzenia

w automatycznym systemie pomiarowym

oscyloskop TDS5000 wyposa¿ono w ze-

staw interfejsów obejmuj¹cy: IEEE 488.2

(GPIB), USB, LAN (10- i 100-baseT),

RS-232, IEEE 1284 (Centronics), dwa po-

rty VGA/SVGA oraz inne interfejsy umo¿li-

wiaj¹ce do³¹czenie myszy, klawiatury itp.

Interfejsy komunikacyjne uzupe³nia opro-

gramowanie, w tym wspomniana biblioteka

TekVISA bêd¹ca implementacj¹ standar-

dowej biblioteki we/wy VISA (Virtual Instru-

ment Software Architecture) oraz sterowni-

ki do popularnego pakietu programowania

pomiarów NI LabView. Ca³oœæ dope³nia ze-

staw standardowych pamiêci masowych –

napêd dyskietek, dysk twardy, napêd CD

(opcjonalnie mo¿e byæ zast¹piony nagrywar-

k¹ CD), oraz opcjonalnie dostêpne: wbudo-

wana drukarka graficzna i sterowanie doty-

kowe ekranu. Ostatnim atrybutem TDS5000,

o którym warto wspomnieæ , jest unikatowa

cecha bezpoœredniej wspó³pracy (przez

GPIB, bez koniecznoœci u¿ycia komputera

steruj¹cego) z rodzin¹ generatorów przebie-

gów programowalnych AWG oraz (z wyko-

rzystaniem interfejsu iView) z analizatorami

stanów logicznych TLA. Pierwsze po³¹cze-

nie umo¿liwia przesy³anie przebiegów zare-

jestrowanych przez oscyloskop do pamiêci

generatora, sk¹d sygna³ mo¿e byæ powta-

rzany. Drugie po³¹czenie umo¿liwia wyœwie-

tlanie przebiegów zbieranych przez oscylo-

skop na ekranie analizatora. Poniewa¿ tak

TDS5000 jak i TLA s¹ wyposa¿one w odpo-

wiednie wejœcia i wyjœcia synchronizuj¹ce,

przebiegi rejestrowane przez oba przyrz¹-

dy pozostaj¹ w pe³nej korelacji czasowej.

Wiêcej informacji o nowych oscyloskopach

TDS5000 mo¿na uzyskaæ na stronie inter-

netowej: http://www.tektronix.pl

n

Tadeusz Asyngier

Tektronix Polska

Wspó³praca przyrz¹dów; od lewej TDS5104,

TLA623 (u góry), AWG430

Programowanie pomiarów z wykorzystaniem

paska narzêdziowego programu Excel

(TDS toolbar)

Wies³aw Winiecki, Jacek Nowak,

S³awomir Stanik

GRAFICZNE ZINTEGROWANE

ŒRODOWISKA PROGRAMOWE

do projektowania komputerowych sy-

stemów pomiarowo-kontrolnych

Wydawnictwo MIKOM, Warszawa 2001.

Wyd.I, stron 280

Treœci¹ ksi¹¿ki s¹ nowoczesne programowe na-

rzêdzia komputerowego wspomagania projek-

towania systemów kontrolno-pomiarowych. W au-

tomatyzacji pomiarów najwa¿niejszym d¹¿eniem

jest obecnie wzrost znaczenia oprogramowania

systemów przy jednoczesnej minimalizacji i uni-

fikacji czêœci sprzêtowej. Wynika st¹d bardzo

szybki rozwój komputerowych narzêdzi projekto-

wania systemów pomiarowo-kontrolnych. Narzê-

dzia te przyjmuj¹ formê rozbudowanych, zinte-

growanych œrodowisk programowych umo¿liwia-

j¹cych zaprojektowanie procesu generacji i akwi-

zycji sygna³ów, ich przetwarzania i wizualizacji.

W pierwszej czêœci ksi¹¿ki przedstawiono najpo-

pularniejsze zintegrowane œrodowiska pomiaro-

we do projektowania systemów pomiarowo-kon-

trolnych w przemyœle i laboratoriach badawczych.

Kolejne rozdzia³y tej czêœci obejmuj¹ charaktery-

stykê najczêœciej stosowanych œrodowisk po-

miarowych _ LabWindows/CVI i LabView 6i (oba

Przegl¹d wydawnictw

firmy National Instruments), VEE (Hewlett-Pac-

kard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments)

oraz DasyLab (DASYTEC). Jako przyk³ady zasto-

sowania omawianych œrodowisk programowych

przedstawiono projekty wirtualnego generatora

funkcyjnego, a tak¿e symulatorów tych generato-

rów oraz projekty prostych systemów pomiaro-

wych z zastosowaniem przyrz¹dów firmy Hewlett-

Packard. Druga czêœæ ksi¹¿ki zawiera opis wybra-

nych œrodowisk automatyki przemys³owej _ Brid-

geVIEW i Lookout (firmy National Instruments)

oraz GeniDAQ (Advantech). W rozdziale pod-

sumowuj¹cym podano wady i zalety opisanych

œrodowisk, oceniono ich mo¿liwoœci, ³atwoœæ ob-

s³ugi oraz przejrzystoœæ graficznego interfejsu

u¿ytkownika.

Materia³ merytoryczny ksi¹¿ki przedstawiono

w sposób przejrzysty i metodyczny. Jego przyswo-

jenie u³atwiaj¹ liczne ilustracje, niektóre z nich

barwne. Ksi¹¿ka jest jedn¹ z pierwszych w kra-

ju pozycji wydawniczych poœwiêconych metody-

ce projektowania systemów pomiarowo-kontrol-

nych z wykorzystaniem graficznych jêzyków pro-

gramowania, a zarazem jedyn¹ przedstawiaj¹c¹

temat tak szeroko. Du¿¹ jej zalet¹ jest aktualnoœæ

przedstawionych informacji, co nie jest ³atwe do

osi¹gniêcia przy omawianiu dziedziny rozwijaj¹-

cej siê bardzo szybko. Autorami ksi¹¿ki s¹ spe-

cjaliœci zwi¹zani z Politechnik¹ Warszawsk¹. Dr

Wies³aw Winiecki jest te¿ autorem ksi¹¿ki pt.

”Organizacja komputerowych systemów pomia-

rowych”, któr¹ ju¿ omawialiœmy na ³amach ReAV.

Ksi¹¿ka jest przeznaczona dla projektantów kom-

puterowych systemów pomiarowo-kontrolnych

oraz dla studentów wydzia³ów technicznych.

Mo¿na j¹ kupiæ w wybranych ksiêgarniach nau-

kowych, technicznych oraz uczelnianych albo

zamówiæ przez Internet korzystaj¹c ze strony

wydawnictwa MIKOM: http://www.mikom.com.pl

(mn)