2MOJ72, Rok akademicki 1994/95


Rok akademicki 1996/97

Laboratorium z fizyki

Nr ćwiczenia: 72

Zjawisko Halla.

Elektronika

telekomunikacja

Grupa: E.02

Tomasz Król

Data wykonania

Ocena

Data zaliczenia

Podpis

6.03.1997

T

S

1.Zasada pomiaru

Zjawisko Halla polega na powstaniu pola elektrycznego E w półprzewodniku, przez który płynie prąd o gęstości j umieszczonym w polu magnetycznym B.

EH = RH B x j

Gdy B jest prostopadła do j, to EH = RHBj.

gdzie: Fz - siła pochodząca od zew. pola elektrycznego.

RH - współczynnik Halla.

Powstawanie poprzecznego pola elektrycznego. (pola Halla): uporządkowany ruch elektronów w płytce odbywa się ze średnią prędkością unoszenia V w kierunku prostopadłym do wektora indukcji pola magnetycznego B i wówczas na poruszające się elektrony działa siła Lorentza FL = -e V x B która przemieszcza je ku jednemu bokowi płytki. W wyniku tego na powierzchniach bocznych płytki powstaje nadmiarowy ładunek:na jednej dodatni, na drugiej ujemny. Powstaje zatem dodatkowe pole elektryczne. skierowane wew. płytki od B do A, o natężeniu: EH = UH / a ,

gdzie: UH - napięcie Halla, różnica potencjałów między punktami A i B,

a - odległość między tymi punktami.

Pole to działa na elektrony siłą FE= - eE= - eUH /a przeciwnie skierowaną do siły Lorenyza. Gdy ustali się równowaga, napięcie Halla już nie wzrasta, FE=FL.

Z warunku równowagi:

e V B = eUH /a

otrzymamy

UH = V B a.

Uwzględniając, że V = -j / ne gdzie: V - średnia prędkość elektronów,

j - gęstość prądu w płytce,

n - koncentracja elektronów (liczba elektronów przewodnictwa w jedn. objętości próbki)

Otrzymamy formułę na napięcie Halla: gdzie:

Stąd stałą Halla wyznaczamy ze wzoru:

Przy znanej stałej Halla można obliczyć koncentrację elektronów swobodnych w metalu lub elektronów przewodnictwa w półprzewodniku zdegenerowanym oraz ich ruchliwość - ruchliwość holowską:

0x01 graphic
- opór właściwy materiału

2.Schemat układu pomiarowego

0x01 graphic

Ocena dokładności pojedynczych pomiarów

W doświadczeniu stosowano urządzenia:

woltomierz Digital Voltmeter typeV541 (Zakres: 100mV)

Błąd maksymalny ΔU= 0,05 mV

c) badana próbka - monokryształ Ge:(półprzewodnik typu n)

- długość próbki l = (5 ± 0,1) mm

- grubość próbki b = (2 ± 0,1) mm

- szerokość próbki a = (3 ± 0,1) mm

- oporność właściwa r = 1,5 * 10-3 Wm

d) magnes o indukcyjności B = (170 ± 7,5) mT

Błąd pomiaru miliamperomierzem obliczyłem ze wzoru

przy czym: K - klasa miernika,

Z - zakres na którym mierzono

ΔX - błąd miernika

Błąd amperomierza więc ΔI = 0,15mA

4.Tabele pomiarowe

Lp.

I

- UH

+ UH

UHśr

UHśrI

I2

UHśr*ΔI

I*ΔUHśr

I*ΔI

UH (teoret)

[mA]

[mV]

[mV]

[102mV]

[μW]

[μA2]

[μW]

[μW]

[μA2]

mV

1

2

0,16

0,13

0,145

0,29

4

0,021

0,10

0,30

0,156

2

3

0,23

0,20

0,215

0,65

9

0,032

0,15

0,45

0,233

3

4

0,33

0,27

0,300

1,20

16

0,045

0,20

0,60

0,311

4

5

0,42

0,35

0,385

1,93

25

0,058

0,25

0,75

0,389

5

6

0,50

0,42

0,460

2,76

36

0,069

0,30

0,90

0,467

6

7

0,59

0,49

0,540

3,78

49

0,081

0,35

1,05

0,545

7

8

0,68

0,57

0,625

5,00

64

0,094

0,40

1,20

0,622

8

9

0,77

0,64

0,705

6,35

81

0,106

0,45

1,35

0,700

9

10

0,88

0,73

0,805

8,05

100

0,121

0,50

1,50

0,778

10

11

0,94

0,80

0,870

9,57

121

0,131

0,55

1,65

0,856

11

12

0,95

0,95

0,950

11,40

144

0,143

0,60

1,80

0,934

12

13

1,04

1,03

1,035

13,46

169

0,155

0,65

1,95

1,011

13

14

1,10

1,08

1,090

15,26

196

0,164

0,70

2,10

1,089

14

15

1,21

1,17

1,190

17,85

225

0,179

0,75

2,25

1,168

Δ

0,15

5

5

Σ

9,315

97,55

1239

1,397

5,95

17,85

10,73

Przykładowe obliczenia wyników pomiarów wielkości złożonej

a) Współczynnik kierunkowy prostej α

b) Stała Halla RH

c) Koncentracja nośników n

d) Ruchliwość nośników ładunku μ

e) UH teoretyczne

dla I = 2 mA , α = 77,772 *10-3 mV / mA

UH = 2 *77,772*10-3 = 0,156 *10-3 [mV]

Rachunek błędów

a) Błąd względny współczynnika kierunkowego prostej

0x01 graphic

można uprościć do postaci:

0x01 graphic

gdyż wszystkie pomiary zostały wykonane przy tych samych zakresach przyrządów.

b) Błąd bezwzględny współczynnika kierunkowego prostej

c) Błąd stałej Halla obliczany metodą różniczki logarytmicznej

d) Błąd bezwzględny koncentracji nośników Δn

Błąd bezwzględny ruchliwości nośników Δμ obliczany metodą różniczki logarytmicznej

Zestawienie wyników pomiarów

a) Współczynnik kierunkowy prostej α

α = ( 0,78 ± 0,07 ) V / A

b) Stała Halla RH

RH = ( 0,97 ± 0,19 ) ⋅ 10-6 m3 / C

c) Koncentracja nośników n

n = ( 6.42 ± 1,24 ) ⋅ 1024 1 / m3

d) Ruchliwość nośników ładunku μ

μ = ( 6,48 ± 1,25 ) ⋅ 10-4 s2 ⋅ A / kg

Uwagi i wnioski

W doświadczeniu mogą występować duże błędy wynikające z bardzo dużej wrażliwości potencjometru służącego do regulacji prądu. Stosunkowo duży błąd powstały przy obliczaniu stałej Halla (stanowiący aż 20%). Wynika to z pomiaru wielkości próbki albowiem już przy samej grubości (2 μm) mamy do czynienia z 5% błędem oraz błąd współczynnika kierunkowego stanowiący ok. 10%. W znacznym stopniu błąd stałej Halla przyczynił się do błędu (ok.20 %) koncentracji oraz ruchliwości nośników. Wykres jak i wyniki z tego ćwiczenia świadczą o tym, iż dzięki zastosowaniu multimetru cyfrowego do pomiaru napięcia Halla dało doskonały rezultat. Charakterystyka jest liniowa tak jak się tego spodziewaliśmy bez wielkich błędów.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
LABO7, Rok akademicki 1994/95
51 Ładunek Właściwy Elektronu, Cw 51 , Rok akademicki 1994/95
KOCIO, Rok akademicki 1994/95
FOGNIWO2, Rok akademicki 1994/95
2MOJ63, Rok akademicki 1994/95
2MOJ71, Rok akademicki 1994/95
C2, Rok akademicki 1994/95
LABO50, Rok akademicki 1994/95
LABO47, Rok akademicki 1994/95
DOSW2, Rok akademicki 1994/95
POL MAGN, Rok akademicki 1994/95
WAHADLO3 2, Rok akademicki 1994/95
2MOJ65, Rok akademicki 1994/95
47.Charakterystyka fotoogniwa, Rok akademicki 1994/95
C50-ZM~1, Rok akademicki 1994/95

więcej podobnych podstron