BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA

BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA

PIEZOELEKTRYCZNEGO

Ćwiczenie 1: Wyznaczenie pojemności doprowadzeń oraz pojemności rozproszonych Cd

  1. Dane i tabele pomiarowe

Co=497[pF]

2R=59[mm]

R= 29,5[mm]

εo=8,854∙10-12[F/m]

Δx[µm] Czm[pF] h[µm] 1/h[1/µm]
10 453 59,71 0,017
20 399 69,71 0,014
30 342 79,71 0,013
40 305 89,71 0,011
50 277 99,71 0,010
60 252 109,71 0,009
70 235 119,71 0,008
80 217 129,71 0,008
90 203 139,71 0,007
100 193 149,71 0,007
150 153 199,71 0,005
200 128 249,71 0,004
250 112 299,71 0,003
300 100 349,71 0,003
350 91 399,71 0,003
400 84 449,71 0,002
450 78 499,71 0,002
500 73 549,71 0,002
550 69 599,71 0,002
600 65 649,71 0,002
1050 47 1099,71 0,001
1550 40 1599,71 0,001
2050 36 2099,71 0,000
2550 34 2599,71 0,000
3050 32 3099,71 0,000
  1. Obliczenia

S=πR2=π∙(29,5[mm])2=2733,97[mm2]=0,002734[m2]

do=$\frac{\varepsilon_{o}S}{C_{o}} = \frac{8,854\left\lbrack \frac{\text{pF}}{m} \right\rbrack \bullet 0,002734\left\lbrack m^{2} \right\rbrack}{497\left\lbrack \text{pF} \right\rbrack} = 4,971 \bullet 10^{- 5}\left\lbrack m \right\rbrack = 49,71\lbrack\mu m\rbrack$

h=do+Δx

Wartość sumy pojemności doprowadzeń i rozproszonych odczytana z wykresu:

Cuk=25,02[pF] ΔCuk=0,93[pF] δ=3,72%

  1. Wykres zależności pojemności kondensatora od odwrotności odległości między okładkami:

Ćwiczenie 2: Wyznaczanie zależności deformacji próbki od napięcia przykładanego do próbki piezoelektryka

  1. Tabele pomiarowe

S=0,002734[m2]

εo=8,854 [pF/m]

Co=205[pF]

U[V] C[pF] Δl[µm] U[V] C[pF] Δl[µm] U[V] C[pF] Δl[µm] U[V] C[pF] Δl[µm] U[V] C[pF] Δl[µm] U[V] C[pF] Δl[µm]
0 205 0 320 164 29,52 0 198 4,175 -320 168 26,01 0 203 1,163 320 163 30,43
10 204 0,579 310 164 29,52 -10 199 3,560 -310 166 27,74 10 204 0,579 310 163 30,43
20 203 1,163 300 164 29,52 -20 200 2,952 -300 169 25,15 20 204 0,579 300 163 30,43
30 202 1,754 290 164 29,52 -30 201 2,350 -290 170 24,31 30 205 0,000 290 164 29,52
40 201 2,50 280 165 28,63 -40 203 1,163 -280 172 22,66 40 206 -0,573 280 165 28,63
50 200 2,952 270 166 27,74 -50 204 0,579 -270 173 21,84 50 206 -0,573 270 165 28,63
60 199 3,560 260 167 26,87 -60 205 0,000 -260 175 20,24 60 207 -1,141 260 166 27,74
70 198 4,175 250 168 26,01 -70 207 -1,141 -250 176 19,46 70 208 -1,703 250 167 26,87
80 197 4,795 240 169 25,15 -80 209 -2,260 -240 178 17,91 80 209 -2,260 240 168 26,01
90 195 6,055 230 170 24,31 -90 211 -3,358 -230 180 16,40 90 210 -2,811 230 169 25,15
100 194 6,695 220 171 23,48 -100 213 -4,435 -220 182 14,92 100 211 -3,358 220 169 25,15
110 193 7,342 210 172 22,66 -110 215 -5,492 -210 184 13,48 110 212 -3,899 210 170 24,31
120 191 8,655 200 173 21,84 -120 217 -6,530 -200 186 12,06 120 213 -4,435 200 171 23,48
130 198 4,175 190 174 21,04 -130 220 -8,051 -190 187 11,37 130 214 -4,966 190 173 21,84
140 188 10,68 180 176 19,46 -140 223 -9,531 -180 189 9,996 140 215 -5,492 180 174 21,04
150 187 11,37 170 177 18,68 -150 225 -10,50 -170 190 9,322 150 215 -5,492 170 175 20,24
160 185 12,76 160 178 17,91 -160 228 -11,91 -160 191 8,655 160 216 -6,013 160 177 18,68
170 184 13,48 150 180 16,40 -170 231 -13,29 -150 193 7,342 170 215 -5,492 150 178 17,91
180 182 14,92 140 181 15,66 -180 235 -15,07 -140 194 6,695 180 215 -5,492 140 180 16,40
190 180 16,40 130 183 14,20 -190 239 -16,80 -130 195 6,055 190 214 -4,966 130 181 15,66
200 178 17,91 120 184 13,48 -200 242 -18,05 -120 196 5,422 200 212 -3,899 120 182 14,92
210 177 18,68 110 185 12,77 -210 242 -18,05 -110 197 4,795 210 186 12,06 110 184 13,48
220 175 20,24 100 187 11,37 -220 245 -19,28 -100 198 4,175 220 184 13,48 100 185 12,77
230 174 21,04 90 188 10,68 -230 246 -19,68 -90 198 4,175 230 178 17,91 90 186 12,06
240 173 21,84 80 189 9,996 -240 247 -20,08 -80 199 3,560 240 175 20,24 80 188 10,68
250 172 22,66 70 191 8,655 -250 247 -20,08 -70 200 2,952 250 172 22,66 70 189 9,996
260 171 23,48 60 192 7,995 -260 244 -18,87 -60 201 2,350 260 170 24,31 60 190 9,322
270 169 25,15 50 193 7,342 -270 184 13,48 -50 201 2,350 270 168 26,01 50 191 8,655
280 168 26,01 40 194 6,695 -280 177 18,68 -40 201 2,350 280 166 27,74 40 193 7,342
290 167 26,87 30 195 6,055 -290 147 46,59 -30 202 1,754 290 165 28,63 30 194 6,695
300 166 27,74 20 196 5,422 -300 172 22,66 -20 202 1,754 300 164 29,521 20 195 6,055
310 165 28,63 10 197 4,795 -310 170 24,31 -10 203 1,163 310 163 30,426 10 196 5,422
320 164 29,52 0 198 4,175 -320 168 26,01 0 203 1,163 320 163 30,426 0 197 4,795
330 163 30,43 - - - -330 166 27,74 - - - 330 162 31,343 - - -
  1. Obliczenia


$$l = \varepsilon_{o}S\left( \frac{1}{C_{u}} - \frac{1}{C_{o}} \right) = 8,854\left\lbrack \frac{\text{pF}}{m} \right\rbrack \bullet 0,002734\left\lbrack m^{2} \right\rbrack \bullet \left( \frac{1}{203\lbrack pF\rbrack} - \frac{1}{205\lbrack pF\rbrack} \right) = 1,163 \bullet 10^{- 6}\lbrack m\rbrack$$

Δl=d∙U

Odczytane z wykresu:

d=0,0887

Δd=0,0013

δ=1,47%

  1. Wykres

Powstała tzw. Kompletna pętla histerezy-krzywa deformacji podczas ładowania nie pokrywa się z krzywą podczas rozładowywania elementu.

  1. Wyniki:

Cuk=25,02±0,93[pF]

d=0,0887±0,0013


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Cw 68 Badanie odwrotnego zjawis Nieznany
cw.91 - Badanie zewn©trznego zjawiska fotoelektrycznego, EDUCATION, PWR, FizykaLab
91, cw.91 - Badanie zewnętrznego zjawiska fotoelektrycznego, Zespół Szkół Elektronicznych
BADANIE ZEWNĘTRZNEGO ZJAWISKA
Sieć odwrotna a zjawisko dyfrakcji rentgenowskiej
Nowicka pojęcia służące do badania dynamiki zjawisk kulturowych
ZASTOSOWANIA ODWROTNEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO I ELEKROSTRYKCJI
Badanie zjawiska fotoelektrycznego i wyznaczanie stałej Plan
Badanie zjawiska fotoelektrycznego - Ania, Fizyka
Badanie zjawiska dyfrakcji i polaryzacji światła, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, F
Badanie zjawiska twardości wtórnej w stalach
Badanie zjawiska halla, Badanie zjawiska Halla 3, Wydział Elektryczny
54, F54 xx KG Badanie zjawiska rezonansu elektromagnetycznego
badanie zjawiska halla
Badanie zjawisk galwanomagnetycznych, Badanie zjawisk galwanomagnetycznych
cwiczenie 6, tabela1, A -badanie zjawiska Halla
Badanie zjawiska piezoelektrycznego, Lab48v0, LABORATORIUM FIZYCZNE
Badanie zjawisk galwanomagnetycznych, Badanie zjawisk galwanomagnetycznych

więcej podobnych podstron