Politechnika Lubelska

Katedra Automatyki i Metrologii

SPRAWOZDANIE

Laboratorium Metrologii Wielkości Elektrycznych

Ćw. LV1 PRÓBKUJĄCE POMIARY PARAMETRÓW SYGNAŁÓW NAPIĘCIOWYCH

Data wykonania ćwiczenia:

07.05.2015

Mechatronika rok 2, GL01

Oliwia Biała

Piotr Jagiełło

1. Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problematyką wyznaczania parametrów sygnałów napięciowych próbkujących układach pomiarowych, a w szczególności zbadanie wpływu sposobu próbkowania na błędy pomiaru.

1. Schemat

1. Tabele pomiarowe i obliczeniowe

• Wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania

Parametry sygnału i próbkowania: Asyg=305V fsyg=50Hz, φsyg=0, SR, n- zmienne, Tp=200ms
Lp
-
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15

• Wpływ długości okna pomiarowego na błędy przetwarzania

Asyg=305V, fsyg=50Hz, φsyg=0, SR=10000 Tp, n- zmienne
Lp
-
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18

ERROR!!

Possible reason(s):

Analysis: The Wareform did not cross the mid reference level enough times to perform this measurement. Check the signal leugth, reference levels, and ref level units.

Tłumaczenie komunikatu:

Prawdopodobny błąd: Przebieg fali nie przekroczył średniego poziomu odniesienia wystarczającą ilość razy by wykonać pomiar. Sprawdź długość sygnału, poziomu odniesienia lub jednostki.

• Wpływ częstotliwości sygnału na błędy przetwarzania

	Asyg=	305V		fsyg=	zmienne		φsyg=	0°
	SR=	1000		Tp=	50ms		n=	50
Lp.	fsyg	Nokr	Umax	URMS	Usr	δ Umax	δ URSM	δ Usr
-	Hz	-	V	V	V	%	%	%
1	48	20,83	302,826	214,905	193,958	0,7127	-0,3535	-0,1087
2	48,2	20,75	303,716	214,478	193,969	-0,4210	-0,5514	-0,1031
3	48,4	20,66	304,634	214,038	194,014	-0,1201	-0,7555	-0,0797
4	48,6	20,58	304,257	213,588	169,573	-0,2437	-0,962	1,2382
5	48,8	20,49	304,184	217,859	196,034	-0,2675	1,0160	0,9607
6	49	20,41	304,362	217,55	195,484	-0,2091	0,8727	0,6775
7	49,2	20,33	304,303	217,214	194,923	-0,3528	0,7171	0,3885
8	49,4	20,24	304,729	216,855	194,351	-0,0888	0,5506	0,0939
9	49,6	20,16	304,284	216,476	193,768	-0,2347	0,3746	-0,2064
10	49,8	20,08	304,374	216,079	193,174	-0,2052	0,1906	-0,5123
11	50	20	289,512	215,668	192,569	-5,0781	0	-0,8238
12	50,2	19,92	304,374	215,246	192,72	-0,2052	-0,1956	-0,7461
13	50,4	19,84	304,284	214,816	192,86	-0,2347	-0,3948	-0,6739
14	50,6	19,76	304,729	214,383	192,99	-0,088	-0,5958	-0,6074
15	50,8	19,69	304,924	213,948	193,108	-0,3528	-0,7972	-0,5465
16	51	19,61	304,248	213,517	193,215	-0,2466	-0,9973	-0,4912
17	51,2	19,53	304,722	213,091	193,311	-0,0913	-1,1947	-0,4417
18	51,4	19,46	304,24	218,16	193,397	-0,2492	1,1559	-0,3978
19	51,6	19,38	304,154	217,78	193,348	-0,2774	0,9793	0,0924
20	51,8	19,31	304,483	217,385	195,751	-0,1694	0,7965	0,8145
21	52	19,23	303,42	216,981	195,326	-0,5181	0,6088	0,596

• Wpływ szybkości próbkowania w stosunku do częstotliwości sygnału

Lp.	SR	n	Nokr	Umax	URSM	Usr	δ Umax	δ URSM	δ Usr
-	SPS	-	-	V	V	V	%	%	%
0	1000	50	19,49698	304,166	212,902	193,351	-0,2734	-1,2822	-0,4212
1	974	48,7	18,99006	303,423	215,61	193,753	-0,5170	0,0267	-0,2141
2	923	46,15	17,99571	299,348	215,643	192,209	-1,8533	-0,0114	-1,0097
3	872	43,6	17,00136	303,117	215,676	194,683	-0,6175	0,0041	0,2648
4	821	41,05	16,00702	282,363	215,712	191,78	-7,422	0,0207	-1,2305
5	769	38,45	14,99318	302,209	215,634	193,457	-0,9151	-0,0158	-0,3667

• Wpływ fazy sygnału na błędy przetwarzania

Lp.	φsyg	nφ	Umax	URMS	Uśr	δUmax	δURMS	δUśr	ks	Kk
-	o	-	V	V	V	%	%	%	-	-
1	0	0	289,512	215,668	192,569	-5,0781	0	-0,8238	1,3424	1,11995
2	30	1,62	182,471		194,703	-40,1733		0,2748	0,846077	1,10768
3	60	3,25	253,564		194,703	-16,8642		0,2748	1,17572	1,10768
4	90	4,87	289,512		192,569	-5,0781		-0,8238	1,3424	1,11995
5	120	6,5	283,186		194,703	-7,1521		0,2748	1,31307	1,10768
6	150	8,12	227,497		194,703	-25,4109		0,2748	1,05485	1,10768
7	180	9,75	289,512		192,569	-5,0781		-0,8238	1,3424	1,11995
8	210	11,37	182,471		194,703	-40,1733		0,2748	0,846077	1,10768
9	240	13	253,564		194,703	-16,8642		0,2748	1,17572	1,10768
10	270	14,62	289,512		192,569	-5,0781		-0,8238	1,3424	1,11995
11	300	16,25	283,186		194,703	-7,1521		0,2748	1,3137	1,10768
12	330	17,87	227,497		194,703	-25,410		0,2748	1,05485	1,10768
13	360	19,5	289,512		192,569	-5,0781		-0,8238	1,3424	1,11995

• Zestawienie krytycznych parametrów próbkowania

Lp	Umax	URMS	Uśr	δUmax	δURMS	δUśr	ks	kk
-	V	V	V	%	%	%	-	-
2	182,471	215,668	194,703	-40,1733	0	0,2748	0,846077	1,10768

Lp	Umax	URMS	Uśr	δUmax	δURMS	δUśr	ks	kk
-	V	V	V	%	%	%	-	-
17	304,722	213,091	193,311	-0,0913	-1,1947	-0,4417	1,43001	1,10232

Lp	Umax	URMS	Uśr	δUmax	δURMS	δUśr	ks	kk
-	V	V	V	%	%	%	-	-
1	288,939	215,668	187,739	-5,2659	0	-3,3117	1,33974	1,14876

1. Wykresy i charakterystyki

• Wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania- wykres zależności błędów δ U_max, δ U_RSM, δ U_sr, w funkcji szybkości próbkowania SR

• Wpływ szybkości próbkowania w stosunku do częstotliwości sygnału- wykres zależności błędów δ U_max, δ U_RSM, δ U_sr, w funkcji częstotliwości sygnału

• Wpływ fazy sygnału na błędy przetwarzania- wykres zależności błędów δ U_max, δ U_RSM, δ U_sr od fazy sygnału

1. Wnioski i uwagi końcowe

……………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………..

Podpis studenta:

……………………….