JEDNOSTKI PODSTAWOWE

- metr (m) to długość drogi przebytej w próżni przez światło w czasie 1/299 792 458 sekundy

- kilogram (kg) to jednostka masy, która jest równa masie międzynarodowego prototypu kilograma przechowywanego w Międzynarodowym Biurze Miar w Sevres

- sekunda (s) to czas równy 9 192 631 770 okresom promieniowania odpowiadającego przejściu między dwoma nadsubtelnymi poziomami stanu podstawowego atomu Cezu 133

- amper (A) to prąd elektryczny nie zmieniający się, który występując w dwóch równoległych prostoliniowych, nieskończenie długich przewodach o przekroju kołowym znikomo małym, umieszczonych w próżni w odległości od siebie, wywołałby między tymi przewodami siłę 2*10-7 N na każdy metr długości

- kelwin (K) jest to 1/273,16 temperatury termodynamicznej punktu potrójnego wody

- mol (mol) to liczność materii układu zawierającego liczbę cząstek równą liczbie atomów w masie o,012 kg węgla 12; przy stosowaniu mola należy określić rodzaj cząstek, którymi mogą być: atomy, cząsteczki, jony, elektrony, inne cząstki lub określone zespoły takich cząstek

- kandela (cd) to światłość jaka ma w danym kierunku źródło emitujące monochromatyczne promieniowanie o częstości 540*1012 Hz i mające w tym kierunku wydajność energetyczną 1.683 W/Sr

JEDNOSTKI POCHODNE (pochodne jednostki miar tworzone są z jednostek podstawowych zgodnie z zależnościami fizycznymi pomiędzy odpowiednimi wielkościami)

Przykłady

- jednostka miary objętości jest zdefiniowana za pomocą wzoru na objętość sześcianu V = 1, gdzie V jest objętością, a 1 (jednostka m) długością krawędzi sześcianu, stąd więc jednostką miary SI objętości jest 1m3

- jednostka miary siły jest zdefiniowana za pomocą pierwszej zasady dynamiki Newtona F = ma, gdzie F to siła działająca na cząstkę masy m (jednostka miary kg) z przyspieszeniem a ( jednostka miary m/s2), stąd więc jednostką miary SI siły jest 1kg m/s2, któremu nadano specjalną nazwę N (niuton)

- ciśnienie – paskal (Pa)- p=1 kg m^-1s^-2

- energia, praca – dżul (J)- E= 1 kg m²s^-2

- moc – wat (W)- P= 1 kg m2s-3

- ładunek elektryczny – kolumb (C)- q= 1 As

- napięcie elektryczne – wolt (V)- U= 1 kg m²s^-3A^-1

- pojemność elektryczna – farad (F)- C= 1 kg^-1m^-2s⁴A²

- rezystancja – om (Ω)- R= 1 kg m²s^-3A^-2

- przewodność elektryczna – simens (S)- σ= 1 kg^-1m^-2s³A²

- strumień magnetyczny – weber (Wb)- ϕ= 1 kg m²s^-2A^-1

- indukcja magnetyczna – tesla (T)- B= 1 kg s^-2A^-1

- indukcyjność – henr (H)- L= 1 kg m²s^-2A^-2

Odchyłka prostoliniowości - to odległość pomiędzy dwiema prostymi równoległymi stycznymi z elementem zaobserwowanym i zawierającymi ten element

- proste należy tak dobrać, by odległość między nimi była najmniejsza

Odchyłka płaskości- to odległość pomiędzy dwiema płaszczyznami równoległymi stycznymi z elementem zaobserwowanym i zawierającym ten element

- płaszczyzny należy tak dobrać, by odległość między nimi była najmniejsza

Odchyłka okrągłości- to odległość pomiędzy dwoma współśrodkowymi okręgami stycznymi z elementem zaobserwowanym i zawierającymi ten element

- okręgi należy dobierać tak, aby wartość odchyłki była najmniejsza

Odchyłka walcowości - to odległość pomiędzy tworzącymi dwóch cylindrów współśrodkowych stycznych z elementem zaobserwowanym i zawierającymi ten element

- cylindry należy dobrać tak, by odległość między nimi była najmniejsza

Odchyłka równoległości płaszczyzny do płaszczyzny bazowej to największa różnica odległości pomiędzy płaszczyzną zaobserwowaną, a płaszczyzną bazową w obszarze płaszczyzny zaobserwowanej

Odchyłka prostopadłości osi do płaszczyzny

bazowej to maksymalna promieniowa odległość pomiędzy osią elementu zaobserwowanego a osią prostopadłą do płaszczyzny bazowej na długości osi elementu zaobserwowanego.

Odchyłka współosiowości to podwojona maksymalna odległość promieniowa obliczona pomiędzy osią bazową a osią elementu zaobserwowanego w obszarze tego elementu

Współśrodkowość - Oś otworu lub walca określona tolerancją powinna mieścić się wewnątrz walca (okręgu) którego średnica jest równa tolerancji współosiowości wyrażonej średnicowo a jego oś pokrywa się z osią odniesienia

Symetria - Płaszczyzna symetrii określona tolerancją powinna mieścić się między dwoma płaszczyznami równoległymi, których wzajemna odległość jest równa tolerancji symetrii.

Pozycja punktu - Pozycja punktu określona tolerancją powinna mieścić się wewnątrz okręgu, którego średnica jest równa tolerancji pozycji punktu wyrażonej średnicowo, a środek tego okręgu powinien leżeć na współrzędnych nominalnych.

Odchyłka bicia promieniowego - to maksymalna różnica odległości punktów zmierzonego zarysu od osi bazowej w kierunku prostopadłym do tej osi, mierzona w wybranym przekroju na powierzchni badanej.

Odchyłka całkowitego bicia promieniowego - to maksymalna różnica odległości punktów zmierzonego zarysu od osi bazowej w kierunku prostopadłym do tej osi, mierzona na całej długości powierzchni badanej.

Odchyłka bicia osiowego - to maksymalna różnica odległości płaszczyzny zmierzonej w wybranym promieniu a powierzchni badanej do płaszczyzny prostopadłej do osi bazowej

Odchyłka całkowitego bicia osiowego - to maksymalna różnica odległości płaszczyzny prostopadłej do osi bazowej.

przyrządy suwmiarkowe z czujnikiem zegarowym

suwmiarka tzw. cyfrowa

suwmiarka z wyjściem do transmisji danych

suwmiarka uniwersalna z kompletem ramion pomiarowych

głębokościomierz suwmiarkowy

wysokościomierz suwmiarkowy

suwmiarka modułowa

Odcinek elementarny – długość linii odniesienia przyjmowana do wyznaczania nierówności charakteryzujących chropowatość powierzchni.

Odcinek pomiarowy l_p – długość odcinka, na którym ocenia się wartości parametrów chropowatości. Odcinek pomiarowy może zawierać jeden lub więcej odcinków elementarnych l (najczęściej 5). Długość odcinka pomiarowego zależy od zakładanej dokładności oceny i rodzaju wyznaczanego parametru.

Profil pierwotny powstaje przez odfiltrowanie dolnoprzepustowe krótkofalowych składowych profilu odwzorowanego zgodnie z charakterystyką przenoszenia filtra krótkofalowego o granicznych długościach fali filtra λs po wcześniejszym oddzieleniu nominalnego kształtu

Profil falistości powstaje z profilu pierwotnego po oddzieleniu składowych długofalowych za pomocą filtra oraz składowych krótkofalowych za pomocą filtra λc.

Profil chropowatości uzyskuje się z profilu pierwotnego po zastosowaniu filtra krótkofalowego λs przez odfiltrowanie górnoprzepustowe składowych długofalowych o granicznej długości fali filtra λc.