metr2 - część 1, Założenia w pomiarach:


Założenia w pomiarach:

Własności i wymagania wzorców:

Wzorce dzielą się na: podstawowe, I rzędu, II rzędu. Podstawowe zdefiniowane zgodnie z układem SI: 1 metr, niedokładność: 2*10-8; 1kg n: 2*10-9; 1s n: 2*10-15

Pomiar:

x - zbiór wielkości mierzonych - nieuporządkowany

y - zbiór wielkości pomierzonych - uporządkowany wg wartości lub innych elementów

Jest to czynność pobrania ze zbioru x wielkości xi i przyporządkowania do uporządkowanego zbioru y: yi ≤ xi ≤ yi+1

Niedokładność pomiaru wynika z nierówności: yi+1 - yi = 2ε > 0 - jego wartość jest symetrycznie rozłożona po dwóch stronach osi symetrii rozkładu prawdopodobieństwa błędu

Cechy metrologiczne przyrządów pomiarowych:

Parametry charakteryzujące przyrządy pomiarowe:

Przetwarzanie wielkości mierzonej na pomierzoną:

Przetworniki pomiarowe:

Elementy przyrządu pomiarowego lub przyrząd pomiarowy, który przetwarza wielkość mierzoną na pomierzoną. W metrologii przyjmujemy że mają charaktery liniowe. Mogą być czynne (na wyjściu wielkość pomierzona ma charakter energetyczny) lub bierne (nie ma charakteru energetycznego). Do ich opisu używamy parametrów skupionych (równania różniczkowe zwyczajne) lub gdy używamy parametrów rozłożonych (równania różniczkowe cząstkowe)

Cechy przetworników dynamicznych:

Założenia dla przyrządów pomiarowych:

Przyrządy pomiarowe:

Zależność między 3 dziedzinami sygnału:

Funkcja największej wiarygodności:

Za pomocą tej funkcji możemy wyznaczyć parametry opisujące rozkład. Jest to iloczyn prawdopodobieństw dla rożnych wartości x. Jeżeli mamy x1,x2,...(z pomiaru) to funkcja dystrybuanty jest funkcją parametrów . Mając dane funkcje gotowości możemy obliczyć wart.  ze wzoru: 0x01 graphic

Mając wyznaczone ,, wstawiamy je do wzoru na gęstość i możemy wyznaczyć dystrybuantę.

Zależność między wejściem a wyjściem:

  1. przetwarzanie statyczne: y=k*x

  2. przetwarzanie dynamiczne:

SY(jω)=|k(jω)|2*SX(jω);

SX(jω) - gęstość widmowa na wejściu, SY(jω) - na wyjściu

Co wynika z faktu ze sygnał jest procesem stochastycznie stacjonarnym w szerszym sensie i globalnie ergodycznym:

dla procesu stochastycznego x(t) istnieje wartość przeciętna Ex(t) i funkcja korelacyjna KX (t1,t2) jeżeli: Ex(t)=const; KX(t1,t2)=KX(t1-t2)=KX(τ) τ= t1-t2

wartości funkcji autokorelacji zależą tylko od różnicy τ= t1-t2

Ex(i) = lim T∞ (1/T0Txi(t)dt) } są jednakowe dla

KX(τ, i) = lim T∞ (1/T0Txi(t) xi(t+τ)dt) }różnych realizacji

WPŁYW PRZYRZĄDU NA WARTOŚĆ MIERZONĄ:

Przyrząd (przetwornik do przetwarzania dyn.) nie może wpływać na wartość mierzoną, ponieważ musi posiadać następujące cechy:

PoDział błędow pomiarowych:

  1. Ze względu na sposób wyznaczania