ĆWICZ26, Rok akademicki 1997/98


Rok akademicki 1997/98

LABOLATORIUM Z FIZYKI

Nr ćwiczenia: 26

Wyznaczanie pojemności kondensatora metodą drgań relaksacyjnych.

Wydział: Elektronika

Kierunek: El. I telek.

Grupa: III

Sadecki Andrzej

Smulski Zbigniew

Data wykonania

3.11.1997 rok

Ocena

Data zaliczenia

Podpis

T

S

1. Zasada pomiaru

W obwodzie składającym się z oporu R, źródła prądu stałego, kondensatora o pojemności C i wyłącznika W napięcie na kondensatorze będzie wzrastało w czasie zgodnie z równaniem: (1.1)

Rozbudowując obwód przez równoległe podłączenie do pojemności C neonówki o napięciu zapłonu i gaśnięcia odpowiednio Uz i Ug . Po zamknięciu wyłącznika w obwodzie napięcie na kondensatorze wskutek periodycznego rozładowywania przez neonówkę będzie się zmieniać w sposób piłokształtny.

Obliczamy okres T drgań relaksacyjnych (czas upływający między dwoma kolejnymi rozbłyskami neonówki). (1.2)

T = t1 + t2

gdzie: t1 - czas ładowania kondensatora od napięcia Ug do napięcia Uz;

t2 - czas rozładowania kondensatora od napięcia Uz do napięcia Ug

Czas ładowania t1 obliczymy jako różnicę czasów potrzebnych do naładowania kondensatora od 0 - Uz i od 0 - Ug.

Równanie (1.1) można zapisać w postaci:

Przekształcając te równania otrzymano:

czas ładowania:

t1 = tz - tg

Zmiana napięcia, w czasie rozładowywania kondensatora przebiega zgodnie z równaniem:

W przypadku gdy U0 = Uz a U = Ug, więc czas t2 potrzebny na rozładowanie kondensatora od napięcia Uz do Ug wyniesie:

Podstawiając do równania (1.2) otrzymujemy (1.3)

Nie zmieniając w obwodzie napięcia zasilania U0 oraz neonówki, stwierdzamy, że dla danego obwodu wyrażenie:

jest wartością stałą. Wzór (1.3) można zapisać:

T = R * C * K

Wzór ten stanowi podstawę wyznaczania pojemności kondensatora metoda drgań relaksacyjnych.

Włączamy do obwodu kondensator o znanej pojemności C. W czasie t zaobserwujemy n rozbłysków neonówki. Okres drgań T obliczymy:

Jeżeli teraz do obwodu, w miejsce kondensatora o znanej pojemności, wstawimy kondensator o nieznanej pojemności, to ilość rozbłysków neonówki w tym samym czasie t wyniesie n1, a okres drgań

Dzieląc stronami otrzymujemy:

2. Schemat układu pomiarowego

3. Ocena dokładności pojedynczych pomiarów

1. Dokładność pomiaru czasu Δt = 1 [s]

2. Dokładność wyznaczenia ilości błysków Δn = 2

4. Tabele pomiarowe.

a) C = 1 μF t0 = 180 s

1

2

3

4

5

n

168

172

164

168

175

n1

245

234

284

289

309

Cx [μF]

0,686

0,735

0,577

0,581

0,566

b) C = 1 μF n = 100`

1

2

3

4

5

t [s]

102

107

105

104

98

t1 [s]

62

59

57

57

55

Cx [μF]

0,607

0,551

0,542

0,548

0,561

5. Przykładowe obliczenia wyników pomiarów wielkości złożonej

a) c = 1 [μF]

n = 168

n1 = 245

b) C = 1 [μF]

Rachunek błędów.

Błąd przeciętny pojemności.

Średnia arytmetyczna dziesięciu wartości Cx

Cx = 0,595 [μF]

Lp

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

0,091

0,140

0,018

0,014

0,029

0,012

0,044

0,053

0,047

0,034

Błąd przeciętny wartości C

C = 0,048 [μF]

b)Błąd maksymalny pojemności

Błąd pojemności kondensatora obliczono metodą różniczki logarytmicznej

Przykładowe obliczenie dla danych zawartych w tabeli 1 kolumna 1:

Przykładowe obliczenie dla danych zawartych w tabeli 2 kolumna 1:

7. Zestawienie wyników pomiarów

1. Cx = (0,686± 0,091 ) μF 6. Cx = (0,607 ± 0,012 ) μF

2. Cx = (0,735 ± 0,140 ) μF 7. Cx = (0,551 ± 0,044 ) μF

3. Cx = (0,577 ± 0,018 ) μF 8. Cx = (0,542 ± 0,053 ) μF

4. Cx = (0,581 ± 0,014 ) μF 9. Cx = (0,548 ± 0,047 ) μF

Cx = (0,566 ± 0,029 ) μF 10. Cx = (0,561 ± 0,034 ) μF

Cx = (0,595 ± 0,048 ) μF

8. Uwagi i wnioski

W doświadczeniu pojemność kondensatora mogła być zmierzona nieprecyzyjnie, ponieważ wpłynęło na to błąd reakcji obserwatora przy wyłączaniu i wyłączaniu stopera, oraz przy liczeniu ilości błysków na neonówce. Zauważono, że rozbłyski neonówki nie były regularne co oznacza, że czas został zmierzony nieprecyzyjnie



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
ĆWICZ2~1, Rok akademicki 1997/98
autpapinz3dz2006, **ROZKŁAD ZAJĘĆ NA ROK AKADEMICKI 1997/98
Wyznaczanie błędów przekładników pomiarowych 2, Rok akademicki 1997/98
51 Ładunek Właściwy Elektronu, FIZA 51 NASZA, Rok akademicki 1997/98
Badania materiałów dielektrycznych, Rok akademicki 1997/98
51 Ładunek Właściwy Elektronu, Fiza 51 Nasza, Rok akademicki 1997/98
Badanie statycznych włściwości przetworników pomiarowch 1, Rok akademicki 1997/98
63 Lampy Elektronowe, W63, Rok akademicki 1996 / 1997
63 Lampy Elektronowe, ĆW63 , Rok akademicki 1996 / 1997
download Prawo PrawoAW Prawo A W sem I rok akadem 2008 2009 Prezentacja prawo europejskie, A W ppt
grupa 1clostridia, studia, 3 rok, Mikrobiologia, pytania, testy, ROK AKADEMICKI 2005-2006, MEDYCYNA
Pytania na komisyjny sprawdzian, studia, 3 rok, Mikrobiologia, pytania, testy, ROK AKADEMICKI 2005-2
grupa 6, studia, 3 rok, Mikrobiologia, pytania, testy, ROK AKADEMICKI 2005-2006, MEDYCYNA 2005-2006
Medycyna spr1, studia, 3 rok, Mikrobiologia, pytania, testy, ROK AKADEMICKI 2005-2006, MEDYCYNA 2005
pytania z egzaminu do Boczara rok akademicki 10 11 dzienne
genetyka molekularna i hodowla roślin, W14R03, Wykłady z genetyki i hodowli roślin ozdobnych, Sulech
ZGRZEW, Rok akademicki

więcej podobnych podstron