EZ 4.1

Protokół

16. 05. 1997

Borkowski Robert

Wetoszka Robert

Cholewiński Jan

Pomiar techniczny oporności

1. Pomiar rezystancji metodą techniczną.

a) układ z poprawnie mierzonym prądem

Schemat pomiarowy:

Aparatura pomiarowa:

V -miernik uniwersalny

A -miernik uniwersalny

R - rezystor suwakowy

Źródło napięcia stałego: zasilacz stabilizowany

Tabela pomiarowa:

L.p.	UV	IA	RA	Rx'	Rx	δm	δs
	[V]	[mA]	[Ω]	[Ω]	[Ω]	[%]	[%]
1
2
3
4

Przykładowe obliczenia:

b) układ z poprawnie mierzonym napięciem

Schemat pomiarowy:

Aparatura pomiarowa:

V -miernik uniwersalny;

A -miernik uniwersalny;

R - rezystor suwakowy;

Źródło napięcia stałego: zasilacz stabilizowany

Tabela pomiarowa:

L.p.	UV	IA	RV	Rx”	Rx	δm	δs
	[V]	[mA]	[kΩ]	[Ω]	[Ω]	[%]	[%]
1
2
3
4

2. Pomiar oporności skrośnej i powierzchniowej odchyłową metodą porównawczą prądową.

Schemat pomiarowy:

Aparatura pomiarowa:

Z - próbnik przebicia;

V -miernik uniwersalny;

BA - bocznik Ayrtona;

G - galwanometr

R_p - rezystor porównawczy;

Próbki:

1 - d =

2 - d =

3 - d =

d₁ =

d₂ =

d₃ =

d₄ =

Połączenie elektrod przy pomiarze oporności skrośnej a) i powierzchniowej b):

a) b)

Tabela pomiarowa do pomiaru oporności skrośnej:

Up=250V Rp=9MΩ kp=0,005 apl=64dz app=63dz apśr=63,5dz

L.p.	Numer	Mnożnik	U	alew	apraw	aśr	Gr. próbki	Rx	ρS
	próbki	bocznika	[V]	[dz]	[dz]	[dz]	d [mm]	[Ω]	[Ω*mm]
1
2
3
4
5
6

Tabela pomiarowa do pomiaru oporności powierzchniowej:

L.p.	Numer	Mnożnik	U	alew	apraw	aśr	Rx	ρS
	próbki	bocznika	[V]	[dz]	[dz]	[dz]	[Ω]	[Ω*mm]
1
2
3
4
5
6

3.Pomiar indukcyjności i pojemności metodą techniczną.

Schemat układu:

Spis przyrządów:

Amperomierz

Voltomierz

Dławik

Kondensator

	indukcyjność			pojemność
Lp	I [A]	U[V]	L[mH]	I[A]	U[V]	C[μF]

---