CCI20110406014

CCI20110406014



Drugi segment stanowiska „Wyznaczanie wpływu temperatury na parametry dioc jak sama nazwa wskazuje, to zespół urządzeń do badania wpływu temperatury na diod^s krzemową i germanowa ( bez diody z arsenku galu i diody Zenera).

Pomiary będą wykonywane w oparciu o układ z segmentu pierwszego.

Rys. 2.2 Widok płyty czołowej pierwszego i drugiego segmentu stanowiska laboratoryjnego -wyznaczania wpływu temperatury na elementy półprzewodnikowe z uwzględnieniem przełącznikc** wykorzystywanych podczas pomiarów


SU


Opis zaznaczonych przycisków:

1    - miejsce przyłączenia zasilacza prądu stałego.

2    - miejsce przyłączenia woltomierza mierzącego napięcie wejściowe

3    - miejsce przyłączenia miliamperomierza mierzącego prąd przepływający przez diodę

4    - przełącznik kierunku pracy diody (przewodzenia / zaporowy)

5    - przełącznik wyboru diody

6    - miejsce przyłączenia woltomierza mierzącego napięcie na diodzie

7    - włącznik grzania diod

8    - włącznik chłodzenia

Urządzenie składa się z probówki wypełnionej olejem, w którym zanurzone badane elementy półprzewodnikowe oraz układu pomiarowego z segmentu pierwszec Probówka podgrzewana jest przez grzałkę, istnieje możliwość chłodzenia za porno: wentylatorów. Pomiar temperatury realizowany jest przez cyfrowy termometr z dołączo’ termoparą zanurzoną w oleju razem z próbkami.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
11139 strona? 80 5.3.2. Analiza wpływu wahań temperatury na parametry robocze wzmacniacza Zbadam zmi
Ćwiczenie I gadanie wpływu temperatury na rezystancję przewodników i półprzewodników. 1.
Tablica 2. Wyniki badań wpływu temperatury na czułość przetwornika pomiarowego. Wartości
Laboratorium Elektroniki cz I 1 158 158 159 7.7. Literatura 3. Określenie wpływu temperatury na wł
r. «o*c «oo°c Ryi.ll. Porównanie wpływu temperatury na zmianę przewodnictwa cieplnego mat z włókien
57182 stronau 755.3. Analiza wpływu wahań napięcia zasilającego oraz zmian temperatury na parametry
CCF20100310001 Komora do podgrzewania próbek -220V Rys. 5. Schemat układu pomiarowego do badania wp

więcej podobnych podstron