plik


ÿþ 1 Politechnika Lubelska WydziaB Elektrotechniki i Informatyki Katedra Sieci Elektrycznych i ZabezpieczeD Laboratorium Instalacji i O[wietlenia Elektrycznego wiczenie nr 6 POMIAR NAT{ENIA OZWIETLENIA I LUMINANCJI 2 POMIAR NAT{ENIA OZWIETLENIA I LUMINANCJI Celem wiczenia jest zapoznanie si z zasadami wykonywania pomiarów nat|enia o[wietlenia i luminancji. WIADOMOZCI PODSTAWOWE Dobre o[wietlenie jest uzale|nione od wielu warunków, warunki te wynikaj z psychofizjologii, estetyki i ekonomii. Na jako[ widzenia w danym otoczeniu wpBywaj bezpo[rednio warunki panujce w jej [rodkowym polu widzenia, po[rednio natomiast warunki w pozostaBych cz[ciach pola widzenia i w tych cz[ciach otoczenia, które przy poruszaniu mog znalez si w obrbie jej obwodu. Dobre widzenie zale|y równie| od luminancji, kontrastu, a tak|e od rozmiaru ktowego najmniejszego szczegóBu, który ma by zauwa|ony. Przy dostatecznym równomiernym rozkBadzie luminancji w polu widzenia, oraz przy danym rozmiarze szczegóBu, kontra[cie jego z tBem i czasie na którym ten szczegóB si ukazuje, wówczas wzrost luminancji powoduje popraw jako[ci widzenia. Przy znanych wspóBczynnikach odbicia powierzchni pracy, luminancja jest [ci[le zwizana z nat|eniem o[wietlenia, którego minimalna warto[ jest podana w normie PN-84/E-02033  O[wietlenie wntrz [wiatBem elektrycznym . Du|y wpByw na jako[ widzenia ma kontrast tBa ze szczegóBami. Je|eli kontrast jest maBy to zwikszenie go jest mo|liwe poprzez odpowiednie uksztaBtowanie luminancji. Jednak najwikszy wpByw na dobr widoczno[ drobnych przedmiotów ma powikszenie ich rozmiaru ktowego. Powikszenie kta mo|na realizowa nastpujcymi metodami: - zmniejszenie odlegBo[ci przedmiotu od oka, - pozorne powikszenie przedmiotu, - istotne zwikszenie przedmiotu. Dobre postrzeganie jest najlepsze wówczas, kiedy caBe pole widzenia ma równomierny rozkBad luminancji. Dla otrzymania mo|liwie równomiernej luminancji, nale|y unika wszelkich jaskrawych punktów i powierzchni zbyt mocno o[wietlonych w stosunku do wspóBczynnika odbicia, jak równie| pBaszczyzn sBabo o[wietlonych. Poza warunkami psychofizjologicznymi, du|y wpByw na o[wietlenie maja warunki estetyczne, dlatego te| o[wietlenie powinno stanowi jeden z elementów kompozycyjnych caBo[ci obrazu w polu widzenia. O[wietlenie powinno podkre[la caBo[ lub poszczególne fragmenty obrazu, przestrzeni, a tak|e wzmocni atrakcyjno[ obrazu. Pomiar o[wietlenia mo|na realizowa dwoma metodami: - subiektywn, - obiektywn. Metoda subiektywna polega na porównaniu przez obserwatora luminancji wzorcowej z luminancj mierzon. Nie jest ona obecnie stosowana. Metoda obiektywna jest najpopularniejsz metod pomiaru nat|enia o[wietlenia, co realizowane jest za pomoc ogniwa fotoelektrycznego selenowego lub krzemowego i mikroamperomierza wyskalowanego w luksach. Przy wykonywaniu pomiarów luksomierzem obiektywnym nale|y zapewni podstawowe wymagania, dotyczce dokBadno[ci wykonywania pomiarów. Wykonujc pomiar w du|ych pomieszczeniach, [wiatBo na powierzchni czynn ogniwa pada z ró|nych kierunków. StrumieD [wietlny pochodzcy z opraw znajdujcych si z boku w stosunku do ogniwa fotoelektrycznego pada pod du|ym ktem i ilo[ [wiatBa padajca na ogniwo ograniczona jest obrze|em ogniwa, które zmniejsza czynn powierzchni fotoogniwa. ZwiatBo 3 padajce uko[nie ulega równie| cz[ciowemu odbiciu od powierzchni ogniwa pokrytej lakierem, dlatego ogniwo fotoelektryczne powinno posiada nakBadk do korekcji kosinusowej strumienia [wiatBa. Osoba wykonujca pomiary powinna równie| by ubrana w odpowiedni ubiór nie powodujcy odbicia strumienia [wietlnego np. biaBy fartuch. Ogniwo fotoelektryczne nie powinno znajdowa si blisko osoby wykonujcej pomiary. Do wykonania pomiarów i wyeliminowaniu wpBywu osoby wykonujcej pomiary wykorzystuje si odpowiednie wózki pomiarowe. Konstrukcja wózka pomiarowego stosowanego wewntrz pomieszczeD i na terenach otwartych przedstawiona jest na rys 1. Rys. 1. Luksomierz z ogniwem na wózku do pomiarów nat|enia o[wietlenia w terenie. Wózek pomiarowy do pomieszczeD zamknitych posiada regulacj wysoko[ci fotoogniwa. Regulacja tej wysoko[ci wynika z ró|nej pBaszczyzny pomiarowej, która jest: - przy pomiarach o[wietlenia ogólnego wntrz jako pBaszczyzn pomiarow przyjmuje si wysoko[ 0,85 m nad podBog, - przy pomiarach nat|enia o[wietlenia miejscowego w pBaszczyznie pracy wzrokowej, - przy pomiarze o[wietlenia traktów komunikacyjnych we wntrzach na podBodze, - przy pomiarach nat|enia o[wietlenia terenów otwartych na powierzchni ziemi. Badan pBaszczyzn nale|y podzieli na odpowiedni liczb cz[ci, których wymiar i liczba jest uzale|niona od wymiarów badanej pBaszczyzny i dokBadno[ci pomiarów. PosBugujc si luksomierzem obiektywnym mo|na dokona pomiaru wspóBczynnika odbicia jak równie| luminancji. Dla wykonania pomiaru wspóBczynnika odbicia (rys 2) nale|y wykona pomiar nat|enia o[wietlenia pochodzcego od strumienia padajcego na pBaszczyzn Epad, nastpnie mierzy si nat|enie o[wietlenia pochodzce od strumienia odbitego od [ciany Eodb. Ze stosunku nat|enia o[wietlenia odbitego do nat|enia padajcego obliczamy wspóBczynnik odbicia. Rys. 2. Pomiar odbicia du|ej powierzchni równomiernie o[wietlonej. 4 Eodb Á = ( 0.1 ) E pad Luminancje tej pBaszczyzny mo|na obliczy z zale|no[ci: L = 0,32Eodb ( 0.2 ) gdzie: 0,32 jest wspóBczynnikiem proporcjonalno[ci. Przed przystpieniem do pomiarów nale|y wykona czynno[ci wstpne jakimi s: - ustalenie przybli|onej warto[ci mierzonej, - ustalenie wpBywu czynników zewntrznych na ewentualne odchyBki pomiarów, - sprawdzenie poprawno[ci dziaBania miernika, - ustalenie formy notowania wyników pomiarów. W protokole pomiarów nat|enia o[wietlenia nale|y poda: 1. Charakterystyk obiektu. 2. Nazw pomieszczenia. 3. Rodzaj wykonywanej pracy. 4. Wymagania o[wietleniowe (minimalne nat|enie o[wietlenia, konieczno[ rozró|niania barw). 5. Warto[ nat|enia o[wietlenia wedBug dokumentacji. 6. Wymiary pomieszczenia. 7. Struktura wntrza (tablica 1). MateriaB Barwa Rodzaj StopieD powierzchni zabrudzenia Zciany Strop PodBoga 8. O[wietlenie dzienne. 9. Urzdzenia o[wietleniowe. 10. Wysoko[ zawieszenia. 11. Czas u|ytkowania obiektu od momentu wymiany zródeB [wiatBa. 12. Data ostatniej konserwacji opraw o[wietleniowych. 13. Moce zainstalowanych zródeB [wiatBa. 14. Zastosowane przyrzdy pomiarowe. 15. Rozmieszczenie punktów pomiarowych. 16. Temperatura powietrza w pomieszczeniu. 17. WspóBczynnik odbicia [wiatBa od elementów budowlanych i wyposa|enia. 18. RozkBad luminancji. 19. Zrednie nat|enie o[wietlenia, równomierno[ o[wietlenia, cienisto[. 20. Wnioski. PROGRAM WICZENIA. Nale|y wykona pomiary nat|enia o[wietlenia w sali podanej przez prowadzcego, luksomierzem obiektywnym wyposa|onym w ogniwo krzemowe, a nastpnie selenowe. Pomieszczenie nale|y podzieli na kwadraty o boku 0,5 m. Za punkty pomiarowe nat|enia o[wietlenia nale|y przyj [rodki kwadratów. Na planie pomieszczenia nale|y zaznaczy poBo|enie opraw o[wietleniowych, drzwi i okien. Wskazania pomiarowe warto[ci nat|enia o[wietlenia nale|y nanie[ w prawym górnym rogu siatki na planie pomieszczenia, ró|nym kolorem dla poszczególnych luksomierzy. 5 Pomiar cienisto[ci Pomiar cienisto[ci przeprowadzi w warunkach zasBonicia postaciowego, wystpujcego w rzeczywisto[ci przy pisaniu lub wykonaniu pomiarów. Pomiar cienisto[ci wykona w 3  6 przyjtych punktach pomiarowych na stolikach audytoryjnych, dla ka|dego punktu wykona nale|y jednokrotne odczyty nat|enia o[wietlenia przy nie zacienieniu ogniwa Ec i przy zacienieniu ogniwa osob siedzc przy stoliku Ev w sposób charakterystyczny dla pisania. Wyniki notowa w tablicy 2. Ec - Ev C = ( 0.3 ) Ec Tablica 2. Miejsce pomiarowe Ec Ev Ec-Ev Cienisto[ [lx] [lx] [lx] Pomiar luminancji powierzchni Tablica 3. Miejsce pomiarowe Eodb Epad L Á [lx] [lx] [nit] Zrednie nat|enie o[wietlenia n 1 E[r = ( 0.4 ) "Ei n i=1 Równomierno[ o[wietlenia Emin ´ = ( 0.5 ) [r E[r Emin ´ = ( 0.6 ) min Emax SPOSÓB OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW W celu poprawnego opracowania wyników pomiarów nale|y wykona: 1. Rysunek pomieszczenia z naniesionymi warto[ciami nat|enia o[wietlenia. 2. Wykre[li linie izoluksów. 3. Porówna wyniki pomiaru luksomierzem selenowym i krzemowym. 4. Oceni wyniki pomiarów zgodnie z obowizujc norm.

Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
cw 2 pomiary rezystywnosci skrośnej i powierzchniowej materiałów elektroizolacyjnyc stałych
Do Ćw 2 IŚ Systemy oświetlenia I
Pomiary natężenia przepływu
Cykl 2 cw 3 pomiar kasowanie luzu (2)
Cw 1 Pomiar rezystancji
Cw 1 Pomiary napiec stalych
Cw 5 Pomiar napiecia i pradu stalego przyrzadami analogowymi i cyfrowymi
Ćw 4 Pomiary prędkości obrotowej
Cw 3 Pomiar mocy pradu jednofazowego
Ćw 2 Pomiary za pomocą automatycznego mostka RLC
Ćw 2 Pomiary za pomocą automatycznego mostka RLC
Cw 1 Pomiar rezystancji
Ćw 5 Pomiary rezystancji metodami technicznymi oraz bezpośrednią
cw 4 pomiary uziemien roboczych
Cw 2 Pomiary za pomoca automatycznego mostka RLC

więcej podobnych podstron