Grzegorz
Smyczyński
nr alb. 129000
7
. Złącza
półprzewodnikowe -
właściwości, metody
wytwarzania
Złącze
półprzewodnikowe
Definicja
Złącze półprzewodnikowe – obszar
w obrębie którego występuje
skokowa lub stopniowa zmiana typu
przewodnictwa lub materiału
półprzewodnikowego.
Ogólnie złączem półprzewodnikowym
nazywa się obszar przejściowy
pomiędzy dwoma obszarami
półprzewodnika o różnych
właściwościach elektrycznych.
Rodzaje złącz:
homozłącze, czyli złącze p-n – dwa obszary tego
samego półprzewodnika, o różnym typie
przewodnictwa (różnią się rodzajem
domieszkowania);
dodatkowo można wyróżnić złącze pp-pp tego
samego typu przewodnictwa, lecz o różnych
koncentracjach domieszek (p+-p- lub n+-n-); jest
to tzw. złącze l-h (ang. Lightly doped region –
heavily doped region)
heterozłącze – złącze dwóch półprzewodników
różnego rodzaju (np. german-krzem);
złącze metal-półprzewodnik, m-s;
złącze metal-izolator-półprzewodnik, MIS.
Złącze
półprzewodnikowe
Rodzaje złącz
Złączem p-n nazywane jest złącze dwóch
półprzewodników niesamoistnych o różnych typach
przewodnictwa: p i n.
W obszarze typu
n
n występują nośniki większościowe
ujemne (elektrony) oraz unieruchomione w siatce
krystalicznej atomy domieszek - donory.
Analogicznie w obszarze typu
p
p nośnikami
większościowymi są dziury o ładunku elektrycznym
dodatnim oraz atomy domieszek - akceptory.
Rodzaje złącz p-n:
skokowe (metoda stopowa, metoda epitaksji, płytka
dyfuzja)
symetryczne (Nd≈Na)
niesymetryczne (np. Na>>Nd: p+ - n)
liniowe (głęboka dyfuzja)
Złącze
półprzewodnikowe
Złącze p-n
Złącze
półprzewodnikowe
Model pasmowy złącza p-n
Założenia:
Założenia:
pole elektryczne - tylko w warstwie
zaporowej, zerowa rezystancja pozostałych
obszarów;
ruchy nośników poza obszarem złącza –
dyfuzyjne;
pomija się generację i rekombinację w
warstwie zaporowej;
pomija się zjawisko przebicia złącza;
model jest jednowymiarowy (x), a obszary „p”
i „n” są jednorodne, nieskończenie rozległe.
Złącze
półprzewodnikowe
Idealne złącze p-n
Zjawiska i parametry:
rezystancja szeregowa złącza (kierunek przewodzenia) R
s
-
rezystancja liniowa, kilka –kilkanaście (rezystancja doprowadzeń
i kontaktów, rezystancja obszarów „p” i „n” poza złączem);
prąd rekombinacji (kierunek przewodzenia) – rekombinacja
nośników „wstrzykiwanych” do warstwy;
rezystancja równoległa złącza (kierunek zaporowy) R
r
– zwana
również rezystancją upływu, związana jest przede wszystkim ze
stanami powierzchniowymi, których wpływ niweluje częściowo
pasywacja (SiO
2
na Si). Jest liniowa, duża;
prąd generacji (kierunek zaporowy). Silne pole „opróżnia”
warstwę zaporową z nośników, emisja elektronów i dziur z centrów
generacji-rekombinacji przeważa nad ich przechwytywaniem
(pułapkowaniem), a więc generacja przeważa nad rekombinacją;
przebicie elektryczne złącza p-n (kierunek zaporowy). W stanie
polaryzacji zaporowej następuje gwałtowny wzrost prądu, gdy
napięcie osiąga wartość zwaną napięciem przebicia. Dwa
mechanizmy przebicia: a) Zenera (jonizacja elektrostatyczna), b)
przebicie lawinowe
Złącze
półprzewodnikowe
Rzeczywiste złącze p-n
Złącze p-n = dioda
Złącze p-n = dioda
Dioda półprzewodnikowa to
dwukońcówkowy element zbudowany z
dwóch warstw półprzewodnika, odmiennie
domieszkowanych- typu n i typu p,
tworzących razem złącze p-n, lub z
połączenia półprzewodnika z odpowiednim
metalem – dioda Schottky’ego;
końcówka dołączona do obszaru n nazywa
się katodą, a do obszaru p - anodą.
Dioda
IDEALNA
charakteryzuje się
jednokierunkowym przepływem prądu - od
anody do katody, w drugą stronę prąd nie
płynie (zawór elektryczny).
Podstawową cechą diod półprzewodnikowych jest prostowanie
prądu przemiennego (tj. umożliwianie przepływu prądu tylko
w jedną stronę), jednak ich gama zastosowań jest o wiele
szersza; w związku z tym rozróżniamy następujące rodzaje
diod:
dioda prostownicza - prostowanie prądu przemiennego,
stabilizacyjna (stabilistor, d. Zenera) – w układach stabilizacji U i I
tunelowa - z odcinkiem ch-ki o ujemnej rezystancji dynamicznej,
pojemnościowa (warikap) - o pojemności zależnej od przyłożonego
napięcia,
LED (elektroluminescencyjna) – (dioda świecąca od UV do IR)
laserowa,
mikrofalowa (np. Gunna),
detekcyjna - niewielkiej mocy, używana w układach demodulacji
AM,
fotodioda - dioda reagująca na promieniowanie świetlne
(widzialne, UV, IR).
Dioda
półprzewodnikowa
Rodzaje i zastosowania
Dioda
półprzewodnikowa
Charakterystyka diody (1)
gdzie:
- I
S
jest teoretycznym prądem wstecznym,
- m jest współczynnikiem korekcyjnym i wynosi od 1 do 2,
- U
T
=kT/q jest potencjałem elektrokinetycznym.
Potencjał ten w temperaturze normalnej (pokojowej) wynosi:
Dioda
półprzewodnikowa
Charakterystyka diody (2)
Dioda
półprzewodnikowa
fotodioda a fotoogniwo
Tranzystor jest elementem
o trzech końcówkach
(elektrodach) i służy do
wzmacniania lub przełączania
sygnałów
wyróżnia się dwa typy tranzystorów
bipolarnych: npn lub pnp.
patrząc na diodowe modele zastępcze
tranzystorów można stwierdzić, że
tranzystor składa się z dwóch
połączonych ze sobą diod o wspólnej
warstwie n lub p. Dołączona do
wspólnej warstwy elektroda
nazywana jest bazą - B. Pozostałe
elektrody tranzystora bipolarnego
mają następujące nazwy: C - kolektor,
E - emiter.
Złącz
a
półprzewodnikowe
p-n + n-p = tranzystor bipolarny
Złącz
a
półprzewodnikowe
charakterystyki tranzystora
bipolarnego
wejściow
e
wyjściow
e
przejściow
e
zwrotn
e
Złącza
półprzewodnikowe
tranzystor polowy
Tranzystory polowe (unipolarne) tak jak i
tranzystory bipolarne są elementami
półprzewodnikowymi lecz różnią się od
bipolarnych po pierwsze tym, że są sterowane
poprzecznym polem elektrycznym, a po drugie –
działanie tranzystorów unipolarnych jest oparte
na przepływie tylko jednego rodzaju nośników.
Złącza
półprzewodnikowe
charakterystyki tranzystorów
polowych
Dioda PIN (od
p-type, intrinsic, n-type
semiconductor) to element półprzewodnikowy ze
złączem p-n z wbudowaną pomiędzy obiema
warstwami warstwą niedomieszkowaną (najlepiej
warstwa półprzewodnika samoistnego),
stosowany jako rezystor w układach wysokiej
częstotliwości, a także jako detektor.
Złącze
półprzewodnikowe
struktura p-i-n
Złącze
półprzewodnikowe
struktura p-i-n
Diody te charakteryzuje
wysoka rezystancja oraz niska
pojemność dla polaryzacji w
kierunku zaporowym, a w
układzie pracy ze zmienną
impedancją: niewielkie
tłumienie diody załączonej i
wysokie tłumienie, gdy dioda
nie przewodzi. Zmiany te
mogą być ogromne, a czas
powrotu do napięcia
zaporowego, zwany
bezwładnością zależy od
czasu życia nośników
mniejszościowych. Poniżej
określonej granicy diody te
funkcjonują jak zwykłe złącze
p-n
HETEROZŁĄCZE: granica rozdziału pomiędzy dwoma
różnymi półprzewodnikami tworzącymi strukturę
monokrystaliczną.- (Anderson–1960 r.).
Jest ono szeroko wykorzystywane w diodach
laserowych LD elektroluminescencyjnych LED i
laserach. Różnica między złączem homogennym a
heterozłączem polega na tym, że w heterozłączu
bariera dla dziur i elektronów nie jest jednakowa.
Półprzewodniki po obu stronach heterozłącza:
mają różną szerokość przerwy energetycznej
charakteryzują się różnymi wartościami mas
efektywnych i ruchliwości nośników
mogą mieć różne współczynniki załamania
Złącze
półprzewodnikowe
Heterozłącze - definicja
Złącze
półprzewodnikowe
Heterozłącze – model pasmowy
Heterozłącze izotypowe
Heterozłącze anizotypowe
Złącze
półprzewodnikowe
Heterozłącze - zastosowania
Strutura MIS (Metal – Insulator –
Semiconductor) jest zasadniczym elementem
składowym tranzystorów MIS i układów
scalonych MIS. Odpowiednia polaryzacja
warstwy metalicznej powoduje odpowiednie
stany w warstwie półprzewodnika: stan
neutralny, akumulacji, zubożenia oraz inwersji.
Złącze
półprzewodnikowe
Struktura MIS (1)
Złącze
półprzewodnikowe
Struktura MIS (2)
Złącze p-n metodą stopową wykonuje się przez
umieszczenie na płytce (np. germanu)
niewielkiej ilości domieszki (np. indu). Całość
podgrzewa się do temperatury, w której
stopiona domieszka rozpuszcza znajdujące
się w najbliższym sąsiedztwie podłoże.
W czasie odpowiednio wolnego studzenia
podłoże krystalizuje zatrzymując w swojej
sieci dużą liczbę atomów domieszki.
Koncentracja domieszkowanych atomów (np.
akceptorów) przewyższa znacznie w
rekrystalizowanym obszarze koncentrację
domieszki podłoża (np. donorów) i w ten
sposób omawiany obszar zmienia typ
przewodnictwa.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze stopowe (1)
Ilość podłoża rozpuszczonego w stopionej
domieszce, podczas wykonywania złącza
p-n zależy od objętości domieszki i od
temperatury, do której została podgrzana
płytka półprzewodnika.
Z uwagi na bardzo dużą ilość atomów
domieszki uczestniczących w procesie
stopowym, wykonane tą metodą złącza p-
n są niesymetryczne. Konduktywność
rekrystalizowanego półprzewodnika jest
bardzo duża. Złącze p-n ma dość dużą
pojemność dyfuzyjną.
Obecnie rzadko stosuje się tę technologię.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze stopowe (2)
Dioda ostrzowa (złącze ostrzowe) powstaje na
granicy zetknięcia germanu typu n lub krzemu
typu p z ostrzem metalowym, wykonanym z
wolframu lub złota.
Złącze ostrzowe „uformowane
powierzchniowo” powstaje przez kontakt
ostrza metalowego z półprzewodnikiem, co z
kolei powoduje powstanie dużej liczby
stanów powierzchniowych, które wywołują
inwersję typu przewodnictwa przy
powierzchni półprzewodnika. W ten sposób
pod ostrzem powstaje złącze p-n
uformowane wskutek zjawisk
powierzchniowych.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze ostrzowe (1)
Złącze ostrzowe „uformowane napięciowo”
powstaje w wyniku przepuszczenia impulsu
elektrycznego przez styk złoto-german (około 100s,
kilka amperów ).
Wówczas pod ostrzem wytwarza się wysoka
temperatura i do półprzewodnika dyfundują
akceptory z igły metalowej (często pokrytej warstwą
indu lub aluminium).
W ten sposób powstaje warstewka półsferyczna typu p i
mówi się o złączu p-n „uformowanym elektrycznie”
Cechy złącz ostrzowych:
małe wartości pojemności złączowych (< 1pF),
małe wartości pojemności dyfuzyjnych ze względu na
małe rozmiary poprzeczne złącza,
śladowe ilości ładunku gromadzonego przy przełączaniu
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze ostrzowe (2)
Dioda ostrzowa jest zatem w praktyce diodą ze
złączem m-s, a co za tym idzie nie ma w
ogóle pojemności dyfuzyjnej. Jedyną
pojemnością jest pojemność złącza,
ewentualnie pojemność oprawki.
Charakteryzuje się ona bardzo niskim
napięciem progowym, dzięki czemu może
demodulować sygnały z dobrą liniowością.
Obecnie można ją zastąpić specjalnymi
diodami Schottky’ego (m-s) z bardzo niską
barierą potencjału
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze ostrzowe (3)
Złącze dyfuzyjne- powstaje poprzez
wprowadzenie do materiału półprzewodnika
atomów domieszki w drodze dyfuzji. Dzięki temu
można uzyskać:
odpowiedni rozkład domieszek w złączu;
mniejszą pojemność złącza w porównaniu ze
stopowymi złączami p-n;
większą wartość napięcia wstecznego;
niemal prostokątną charakterystykę
przełączania.
Zjawisko dyfuzji polega na przemieszczaniu się
atomów z obszaru o większej koncentracji do
obszaru o mniejszej koncentracji wskutek
chaotycznego ruchu cieplnego tych atomów.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Dyfuzja / złącze dyfuzyjne (1)
Dyfuzję atomów domieszki do wnętrza
półprzewodnika przeprowadza się w podwyższonej
temperaturze, w piecu dyfuzyjnym, przy czym
materiał domieszki znajduje się w stanie ciekłym
lub gazowym.
Przy dyfuzji ze stanu lotnego płytkę, do której
wprowadza się atomy, umieszcza się w atmosferze
składającej się z par domieszki i gazu nośnego
(np.N
2
).
Przy dyfuzji ze stanu ciekłego na wybranej
powierzchni półprzewodnika jest umieszczony
materiał domieszki w stanie ciekłym.
W celu selektywnego domieszkowania
półprzewodnika można stosować maski tlenkowe
zasłaniające miejsca, których nie chcemy
domieszkować.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Dyfuzja / złącze dyfuzyjne (2)
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Epitaksja / złącze epitaksjalne (1)
Złącze epitaksjalne – powstaje w wyniku osadzania
(wykrystalizowania) monokrystalicznej warstwy
półprzewodnikowej (z fazy ciekłej lub gazowej) na
podłożu monokrystalicznym z zachowaniem
ciągłości sieci krystalograficznej podłoża.
Złącze powstaje na styku podłoża z warstwą
epitaksjalną. Podłoże ma stosunkowo dużą
rezystywność i przeciwny typ przewodnictwa w
stosunku do warstwy epitaksjalnej.
Technologicznie możliwe jest wytwarzanie warstw
epitaksjalnych typu n na podłożu p+ (i przeciwnie),
typu n na podłożu p, typu p na podłożu n (lasery np.
VCSEL).
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Epitaksja (2)
LPE – VPE – MOVPE –
LPE – VPE – MOVPE –
MBE
MBE
Epitaksja
Epitaksja jest procesem tworzenia pojedynczych
warstw monokryształu na monokrystalicznym podłożu.
Gdy warstwa epitaksjalna i podłoże stanowi dokładnie
taki sam materiał to proces epitaksji nazywamy
homoepitaksją.
Gdy warstwa epitaksjalna różni się od podłoża w
jakikolwiek sposób to proces taki nazywamy
heteroepitaksją.
Przyjęto jednak nazywać homoepitaksją te procesy,
gdzie warstwa epitaksjalna ma taką samą strukturę
krystaliczną i chemiczną, natomiast heteroepitaksją
procesy, w których mamy do czynienia z różnymi
materiałami.
Uniwersalną metodą otrzymywania płytkich
złącz półprzewodnikowych jest technika
implantacji jonów.
Umożliwia ona dokładną kontrolę głębokości
złącza i koncentracji domieszki. Metoda ta
polega na wstrzeliwaniu jonów danej
domieszki do krzemu przez bombardowanie
jego powierzchni strumieniem jonów
(około 10
16
jonów/cm
2
) o dużej energii
(5-300keV). Głębokość wytworzonego
złącza zależy od energii jonów.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze implantowane / implantacja (1)
Implantacja powoduje jednak w krzemie powstanie
dużej liczby defektów strukturalnych, które można
usunąć albo przez wygrzewanie termiczne, albo też
napromieniowanie wiązką elektronową lub laserową.
Metodę implantacji jonów można stosować do
produkcji wydajnych krzemowych ogniw
słonecznych.
Wytwarzanie złącz
półprzewodnikowych
Złącze implantowane / implantacja (2)
Dziękuję za
uwagę