Wydział Informatyki Politechniki Białostockiej DATA: 27 IV 2012 r.
Laboratorium Techniki Cyfrowej
PRZEDMIOT: Technika Cyfrowa
ĆWICZENIE NR 2 PROWADZCY:
TESTOWANIE UKAADÓW KOMBINACYJNYCH dr inż. Iryna Bulatava
GRUPA V OCENA:
1. Mateusz Kolosa
2. Maciej Januszewski
TREŚĆ ZADANIA:
Wyznaczyć drzewo diagnostyczne dla uszkodzeń a-i w układzie (tylko dla uszkodzeń stałych
wartości 1):
Dla każdego uszkodzenia wyznaczamy testy wykrywające metodą pobudzania ścieżek
polegającą na wyznaczeniu warunków propagacji zmiany na zadanym przewodzie układu do
wyjścia wzdłuż pewnej drogi (ścieżki). W naszym układzie mamy zastosowane bramki
NAND (A-I), które realizują funkcję o wzorze ogólnym:
f(x1, x2,...., xn) = (x1*x2 * ... * xn)
BRAMKA A
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 1 1 1 1 1 1 1 1
001 1 1 1 1 1 1 1 1
011 1 1 1 1 1 1 1 1
010 1 1 1 1 1 1 1 1
110 0 0 0 0 0 0 0 0
111 0 0 0 0 0 0 0 0
101 1 1 1 1 1 1 1 1
100 1 1 1 1 1 1 1 1
BRAMKA B
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 1 1 1 1 1 1 1 1
001 1 1 1 1 0 0 0 1
011 1 1 1 1 0 0 0 1
010 1 1 1 1 1 1 1 1
110 1 1 1 1 1 1 1 1
111 1 1 1 1 0 0 0 1
101 1 1 1 1 0 0 0 1
100
BRAMKA C
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000
001 1 1 1
011 1 1 1
010
110 1 1 1 1 1 1 1 1
111 1 1 1 1 1 1 1 1
101 1 1 1
100
BRAMKA D
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 1 1 1 1 1 1 1 1
001 1 1 1 1 1 1 1 1
011
010
110
111
101 1 1 1 1 1 1 1 1
100 1 1 1 1 1 1 1 1
BRAMKA E
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 0 0 0 0 1 1 1 1
001 0 0 0 0 1 1 1 1
011 1 1 1 1 1 1 1 1
010 1 1 1 1 1 1 1 1
110 1 1 1 1 1 1 1 1
111 1 1 1 1 1 1 1 1
101 0 0 0 0 1 1 1 1
100 0 0 0 0 1 1 1 1
BRAMKA F
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 1 1 1 1 0 0 0 0
001 1 1 1 1 0 0 0 0
011 1 1 1 1 0 0 0 0
010 1 1 1 1 0 0 0 0
110 1 1 1 1 0 0 0 0
111 1 1 1 1 0 0 0 0
101 1 1 1 1 0 0 0 0
100 1 1 1 1 0 0 0 0
BRAMKA G
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 1 1 0 1 1 0 1 1
001 1 1 0 1 1 0 1 1
011 1 1 0 1 1 0 1 1
010 1 1 0 1 1 0 1 1
110 1 1 0 1 1 0 1 1
111 1 1 0 1 1 0 1 1
101 1 1 0 1 1 0 1 1
100 1 1 0 1 1 0 1 1
BRAMKA H
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 0 0 1 0 0 1 0 0
001 0 0 1 0 0 1 0 0
011 0 0 1 0 0 1 0 0
010 0 0 1 0 0 1 0 0
110 0 0 1 0 0 1 0 0
111 0 0 1 0 0 1 0 0
101 0 0 1 0 0 1 0 0
100 0 0 1 0 0 1 0 0
BRAMKA I
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 1 1 1 1 1 1 1 1
001 1 1 1 1 1 1 1 1
011 1 1 1 1 1 1 1 1
010 1 1 1 1 1 1 1 1
110 0 0 0 0 0 0 0 0
111 0 0 0 0 0 0 0 0
101 1 1 1 1 1 1 1 1
100 1 1 1 1 1 1 1 1
USZKODZENIE a
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 X
001
011 X
010 X X
110
111
101
100
USZKODZENIE b
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 X
001
011
010
110
111
101
100 X
USZKODZENIE b1
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000
001
011
010
110
111
101
100
USZKODZENIE c
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 X
001
011
010
110
111
101
100 X
USZKODZENIE d
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 X
001
011
010 X X
110
111
101
100 X
USZKODZENIE e
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000
001
011 X
010 X
110
111
101
100
USZKODZENIE f
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000
001 X
011 X
010
110 X X X X
111 X X X X
101 X
100
USZKODZENIE g
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000
001
011
010
110 X X
111 X
101
100
USZKODZENIE h
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000
001
011
++++
010
110
111
101
100
USZKODZENIE i
ABC/DEF 000 001 011 101 110 111 101 101
000 X
001
011 X
010 X X
110
111
101
100 X
MINIMALIZACJA:
TEST/USZKODZENIE A B C D E F G H I
T1 = 011011 1 1 1
T2 = 010011 1 1 1 1
T3 = 000111 1 1 1 1
T4 = 010111 1 1 1 1
T5 = 100111 1 1 1 1
T6 = 110000 1
T7 = 111000 1
T8 = 001110 1
T9 = 011110 1
T10 = 110010 1
T11 = 110110 1
T12 = 111010 1
T13 = 111110 1
T14 = 101110 1
T15 = 110100 1
T16 = 111100 1
T17 = 110011 1
T18 = 111011 1
T19 = 110111 1
Po zminimalizowaniu, polegającym na usunięciu wierszy, które mają identyczną strukturę
jedynek i pozostawieniu jednego oraz sklejeniu kolumn o jednakowym rozłożeniu jedynek
otrzymaliśmy tabelę:
TEST/USZKODZENIE A B C D E F G H I B2
T1 = 011011 1 1 1
T2 = 010011 1 1 1 1 X
T3 = 000111 1 1 1 1 X
T4 = 010111 1 1 1 1 X
T5 = 100111 1 1 1 1
T6 = 110000 1 X
T17 = 110011 1 X
Minimalny zbiór testów to: T2 ,T3 ,T4 , T6 , T17
DRZEWO DIAGNOSTYCZNE:
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Wykład VI minimalizacja zespołu funkcji, projektowanie układów kombinacyjnychS7 Testowanie ukladow czasowychWykład VIII budowa układów kombinacyjnychMODELOWANIE UKŁADÓW KOMBINACYJNYCH ZA POMOCĄ FUNKTORÓW LOGICZNYCH37 Montowanie i testowanie połączeń układów automatyki2009 pytania testoweAnalizowanie działania układów mikroprocesorowychTestownik EE1Kinematyka i Dynamika Układów Mechatronicznychbudowa i działanie układów rozrządu silników spalinowychPytania testowe na zaliczenieAnalizowanie prostych układów elektrycznychwięcej podobnych podstron