Sieć odwrotna a zjawisko dyfrakcji rentgenowskiej

background image

Konstrukcja osi współrzędnych X*, Y*, Z* i oznaczenia
parametrów komórki elementarnej a*, b*, c*. a) komórka
elementarna sieci rzeczywistej, b) konstrukcja osi
współrzędnych i węzłów komórki elementarnej sieci
odwrotnej, c) komórka elementarna sieci odwrotnej.

Sieć odwrotna a zjawisko dyfrakcji rentgenowskiej

Obraz dyfrakcyjny kryształu jest trójwymiarowym zbiorem punktów i stanowi tzw. Sieć odwrotną
Sieć odwrotna – jest to abstrakcyjnym wzorem geometrycznym, sprzężonym przestrzennie i wymiarowo z siecią krystaliczną
(rzeczywistą). Ułatwia i upraszcza interpretację obrazów dyfrakcyjnych uzyskiwanych doświadczalnymi metodami
krystalografii rentgenowskiej


Konstrukcja osi współrzędnych X*, Y*, Z* i oznaczenia

parametrów komórki elementarnej a*, b*, c*. a) komórka elementarna
sieci rzeczywistej, b) konstrukcja osi
współrzędnych i węzłów komórki elementarnej sieci odwrotnej, c)
komórka elementarna sieci odwrotnej.

Osie krystalograficzne sieci odwrotnej oznacza się X*, Y* i

Z*, stałym sieciowym sieci odwrotnej nadaje się symbole: a*, b*, c*,
a*, b*, g*. Oś X* sieci odwrotnej jest prostopadła do płaszczyzny YZ
sieci rzeczywistej, oś Y* do XZ, a Z* do XY Długości stałych
sieciowych stanowią odwrotności stałych sieci rzeczywistej, aa*=1,
bb*=1, cc*=1 Wektory sieci odwrotnej są powiązane z wektorami
komórki elementarnej kryształu równaniami:
a* = (b ´ c)/V,
b* = (c ´ a)/V
c* = (a ´ b)/v

Objętość komórki elementarnej sieci odwrotnej V* jest

równa odwrotności objętości komórki elementarnej sieci
rzeczywistej: V*V = 1






Konstrukcja geometryczna

Z dowolnego węzła sieci przestrzennej (przyjętego za początek układu
współrzędnych) prowadzi się normalne do wszystkich płaszczyzn
sieciowych. Wzdłuż normalnych zaznacza się punkty w odległościach: H

hkl

=n 1/d

(hkl)

. Otrzymane w ten sposób punkty są ułożone

periodycznie w przestrzeni, tworząc trójwymiarową sieć odwrotną

Każdej rodzinie płaszczyzn sieciowych (hkl) sieci rzeczywistej odpowiada w
sieci odwrotnej węzeł o wskaźnikach hkl lub nhnknl Proste sieciowe i
płaszczyzny sieciowe oznacza się tak jak w przypadku sieci rzeczywistej, ale
z dodatkiem *.
Siecią odwrotną nazywa się, związaną z siecią rzeczywista trójwymiarową
sieć punktową, mającą tę właściwość, że każdy wektor H

hkl

łączący węzeł

000 sieci z dowolnym innym węzłem:

H

hkl

= ha

o

* +kb

o

* + lc

o

*

jest prostopadły do jednej z rodzin płaszczyzn sieciowych (hkl) sieci
rzeczywistej, a jego długość H

hkl

jest wielkością odwrotną do dległości

międzypłaszczyznowej d

(hkl)

pomnożoną przez liczbę całkowitą n.

Właściwości sieci odwrotnej

Sieć odwrotna jest jednoznacznie określona przez rozmiary i kształt komórki elementarnej sieci
rzeczywistej, natomiast nie zależy od położeń
atomów w komórce elementarnej tej sieci

Sieć rzeczywista jest siecią odwrotną względem swojej sieci odwrotnej.

Układ krystalograficzny sieci odwrotnej jest taki sam jak układ krystalograficzny sieci rzeczywistej

Punktowa grupa symetrii sieci odwrotnej jest taka sama jak punktowa grupa symetrii sieci rzeczywistej.

Niezależnie od układu krystalograficznego brawesowskie komórki typu P, C (A, B), R sieci rzeczywistej w
sieci odwrotnej pozostają
komórkami tego samego typu. Rzeczywista komórka typu I staje się w sieci
odwrotnej komórką
typu F, a komórka typu F komórka

typu I

Prosta sieciowa ma kierunek prostopadły do płaszczyzn sieciowych pierwotnych

background image

Płaszczyzny (hkl) tworzące pas w sieci rzeczywistej, w sieci odwrotnej reprezentowane są przez węzły leżące
w jednej płaszczyźnie, przechodzącej przez węzeł 000

Odległość odwrotna d* miedzy dwoma sąsiednimi węzłami na prostej jest odwrotnością odległości d między
płaszczyznami sieciowymi

Objętość komórki elementarnej sieci odwrotnej jest równa odwrotności objętości komórki elementarnej
sieci rzeczywistej



Konstrukcja Ewalda – obrazuje związek sieci odwrotnej z równaniem Bragga

1

. Wykreślamy okrąg o promieniu 1/



2

. Kreślimy poziomą średnicę 2/



- prezentuje ona

bieg promieni pierwotnych

3

. Warunek dyfrakcji zostaje spełniony, gdy węzeł R

sieci odwrotnej przetnie się z okręgiem

4

. Punkt R łączymy z oboma końcami średnicy i

otrzymujemy trójkąt równoboczny ARB

5

. Dodatkowo łączymy punkt R ze środkiemokręgu

O – kąt RAO =



(kąt odbłysku w równaniu

Bragga), a kąt ROB = 2






Uginanie promieniowania
rentgenowskiego na płaszczyźnie
sieciowej monokryształu może
nastąpić tylko i wyłącznie wtedy, gdy
kąt pomiędzy kierunkiem
promieniowania pierwotnego i tą
płaszczyzną spełnia równanie Bragga:
l = 2dsinq Ponieważ |sinq|£1 to l/2d
£1, co oznacza, ze liczba możliwych
do zarejestrowania refleksów jest
ograniczona i zależy od długości
użytego promieniowania (liczba
refleksów w przypadku
promieniowania Mo jest większa niż
dla promieniowania Cu).

Zarejestrować można tylko te refleksy, które znajdują się wewnątrz kuli o promieniu 2/l, zwanej sferą graniczną. Promień tej
sfery jest 2 razy większy od promienia sfery Ewalda

Cechy konstrukcji Ewalda

Warunkiem dyfrakcji jest umieszczenie węzła sieci odwrotnej na sferze Ewalda

Pokazuje kierunek wiązki ugiętej

Pokazuje położenie płaszczyzny powodującej dyfrakcję

Umożliwia znajdowanie położeń kolejnych refleksów dyfrakcyjnych

W celu rejestracji refleksów należy kolejne węzły sieci odwrotnej umieszczać na sferze Ewalda i mierzyć ich
natężenie (Nieruchomy kryształ nie ugina padającej na jego powierzchnie wiązki lub ugina ja tylko w bardzo
ograniczonej liczbie kierunków)

Liczba kierunków dyfrakcji obserwowalnych teoretycznie na danym krysztale jest równa liczbie węzłów jego sieci
odwrotnej zawartej we wnętrzu kuli o promieniu 2/

, której środek pokrywa się z początkiem układu

współrzędnych sieci.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Zjawisko dyfrakcji
Dyfraktometria rentgenowska w badanaich nieniszczących
Badanie zjawiska dyfrakcji i polaryzacji światła, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, F
fiz-interferencja,zjaw fotoelektryczne, prom X, Zjawiska dyfrakcji i interferencji potwierdzają falo
fiz-interferencja,zjaw fotoelektryczne, prom X, Zjawiska dyfrakcji i interferencji potwierdzają falo
Dyfrakcja rentgenowska w analizie fazowej
Cw 68 Badanie odwrotnego zjawis Nieznany
Dyfraktometr rentgenowski
POLARYMETR, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, 10 Badanie zj
Nr ćwiczenia, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, 10 Badanie
Dyfraktometria rentgenowska
Badanie zjawisk dyfrakcyjnych, Politechnika ˙l˙ska Studia Wieczorowe
fiz-interferencja,zjaw fotoelektryczne, prom X 5, Zjawiska dyfrakcji i interferencji potwierdzają fa
sprawozdanie dyfrakcyjna rentgenowska analiza fazowa, sprawka
BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA
Dyfraktometria rentgenowska

więcej podobnych podstron