Tester diod i tranzystorów
Model M-02
do Dydaktycznego Systemu
Mikroprocesorowego DSM-51
Instrukcja u\
ytkowania
Copyright © 2007 by MicroMade
All rights reserved
Wszelkie prawa zastrze\
one
MicroMade
Gałka i Drożdż sp. j.
64-920 PIA
A, ul. Wieniawskiego 16
Tel./fax: [phone]
E-mail: [e-mail]
Internet: www.micromade.pl
Wszystkie nazwy i znaki towarowe u\
yte w niniejszej publikacji są własnością od-
powiednich firm.
M-02 Tester diod i tranzystorów
1. Przeznaczenie modelu
Model M-02 jest przystawkÄ… do Dydaktycznego Systemu Mikroprocesorowego
DSM-51 umo\
liwiającą zdejmowanie charakterystyk prądowo-napięciowych diod
półprzewodnikowych (równie\
diod Zenera w kierunku przewodzenia i zaporowym)
oraz rodziny charakterystyk wyjściowych tranzystorów n-p-n.
Przystawka nie jest precyzyjnym miernikiem parametrów diod i tranzystorów. Stano-
wi natomiast doskonały przykład mo\
liwości wykorzystania Dydaktycznego Systemu
Mikroprocesorowego DSM-51 do wykonywania serii pomiarów.
W celu samodzielnego uzyskania charakterystyki badanego elementu na ekranie
monitora niezbędne jest opanowanie następujących zagadnień:
sterowanie układu 8255,
sterowanie przetwornika C/A,
pomiary z wykorzystaniem przetwornika A/C,
przesyłanie danych po łączu RS232,
wyświetlanie charakterystyk w oknie systemu Windows.
W pliku DSM-51\Modele\M02\m02.txt są zebrane propozycje zadań do wykonania z
wykorzystaniem modelu M-02.
2. Budowa i zasada działania
Poszukiwana charakterystyka to zale\
ność płynącego przez element prądu od panują-
cego na nim napięcia. System DSM-51 nie ma wejść umo\
liwiających bezpośredni
pomiar prądu. W przystawce pomiar płynącego przez element prądu wykonywany
jest poprzez pomiar spadku napięcia na rezystorze włączonym w szereg z badanym
elementem.
© 08/2007 MicroMade System DSM-51 1
M-02 Tester diod i tranzystorów
Model M-02 jest sterowany przez system DSM-51 za pośrednictwem dwu złącz: złą-
cza wejść/wyjść cyfrowych oraz złącza wejśc/wyjść analogowych. Badany element
zasilany jest z wyjścia przetwornika C/A systemu DSM-51 poprzez rezystor 200 &!.
Napięcia z obu końców rezystora podane są do wejść analogowych (IN0, IN1) prze-
twornika A/C systemu. Pomiar tych dwu napięć pozwala ustalić zarówno napięcie
panujące na badanym elemencie jak i płynący przez ten element prąd.
Rodzina charakterystyk wyjściowych tranzystora to zestaw charakterystyk prądowo-
napięciowych złącza kolektor-emiter przy ró\
nych wartościach prądu bazy. Pomiar
tej rodziny charakterystyk jest mo\
liwy dzięki umieszczeniu na przystawce sterowa-
nego z
ródła prądowego zasilającego bazę badanego tranzystora.
PrÄ…d z
ródła jest sterowany liniami PA0...PA3 układu 8255 za pośrednictwem proste-
go 4-bitowego przetwornika C/A umieszczonego na przystawce. Port A układu 8255
powinien pracować jako port wyjściowy w trybie 0. Prąd bazy tranzystora wynosi 0,
gdy wszystkie 4 linie sterujÄ…ce sÄ… w stanie 0. Ka\
dy wzrost podanej na port A warto-
Å›ci liczbowej o 1 powoduje wzrost prÄ…du bazy o ok. 10 µA. MaksymalnÄ… wartość prÄ…-
du bazy uzyskuje się, gdy wszystkie linie (PA0...PA3) są ustawione w stan 1 (wartość
liczbowa = 15). PrÄ…d bazy wynosi wtedy ok. 150 µA.
Pomiar charakterystyki polega na wpisywaniu kolejnych wartości (od 0 do 255) do
przetwornika C/A i mierzeniu napięć panujących na wejściach IN0 i IN1. W ten spo-
sób uzyskuje się kolejne punkty badanej charakterystyki napięciowo-prądowej. Jeśli,
odczytane z przetwornika A/C, liczby wynoszą odpowiednio N0 i N1, to wartość na-
pięcia panującego na badanym elemencie i płynącego prądu mo\
na uzyskać ze wzo-
rów:
U = ( N1 / 255 ) * 5 V
I = {[ ( N0 - N1 ) / 255 ] * 5V } / 200 &!
3. Oprogramowanie
Przykładowe programy (dioda.asm i tranzyst.asm) demonstrujące sposób wykorzy-
stania modelu M-02 znajdujÄ… siÄ™ w katalogu DSM-51\Modele\M02. Programy te uru-
chamiane w systemie DSM-51 współpracują z programami Dioda.exe i
Tranzystor.exe uruchamianymi na komputerze. Kody z
ródłowe tych programów
(Dioda.cpp i tranzystor.cpp) znajdujÄ… siÄ™ w katalogu DSM-51\Modele\MO2\Source.
Program dioda.asm mierzy charakterystykę diody (lub innego elementu 2 końców-
kowego). Dla ka\
dego punktu pomiarowego wykonywane są pomiary dwóch napięć:
napięcia na wyjściu przetwornika C/A,
napięcia na badanym elemencie.
Wyniki pomiarów przesyłane są przez łącze RS232 do komputera. Program na kom-
puterze przelicza wyniki (oblicza prąd na podstawie spadku napięcia na rezystorze
2 Model DSM-51 © 08/2007 MicroMade
M-02 Tester diod i tranzystorów
włączonym w szereg z mierzonym elementem) i wykreśla na ekranie zmierzoną cha-
rakterystykÄ™.
Program tranzyst.asm mierzy rodzinę charakterystyk tranzystora dla 8 prądów bazy.
Dla ka\
dego punktu pomiarowego wykonywane są pomiary dwóch napięć:
napięcia na wyjściu przetwornika C/A,
napięcia na badanym elemencie.
Wyniki pomiarów przesyłane są przez łącze RS232 do komputera. Program na kom-
puterze przelicza wyniki i wykreśla na ekranie rodzinę charakterystyk tranzystora.
Aby uruchomić odpowiednią parę programów nale\
y:
Do systemu DSM-51 przesłać program dioda.hex lub tranzyst.hex i uruchomić
go.
Na komputerze uruchomić odpowiedni program Dioda.exe lub Tranzystor.exe.
Programy te czekają na dane wysłane z DSM-51 i po ich odebraniu przedsta-
wiają wyniki w postaci wykresów.
Umieścić diodę lub tranzystor w podstawce modelu M-02.
Nacisnąć klawisz [Enter] (klawiatury 2 x 8) systemu DSM-51. Spowoduje to wy-
konanie przez DSM-51 pomiarów charakterystyki badanego elementu i przesła-
nie ich przez złącze COM1 systemu do komputera.
Aby zmierzyć inny element nale\
y po jego umieszczeniu w podstawce ponownie na-
cisnąć klawisz [Enter] systemu DSM-51. Nowa charakterystyka zostanie zmierzona i
przesłana, a program na komputerze automatycznie ją wykreśli.
© 08/2007 MicroMade System DSM-51 3
1 2 3 4 5
D D
U2A
R18
3
VCC VCC 1
C1 2 1k
100n
R15
LM358D
GND
10k
R12
VCC
20K_1%
12 C4
R1
S1 S2
11 GND
100u/16
R19
PA7 26 25 PA6 PA0 13 14 13
20K_1% GND
PA5 24 23 PA4 10k U1D 12 11 OUT
VCC GND
AHC00 R13
PA3 22 21 PA2 10 9
10k_1%
U1A V8
R16
PA1 20 19 PA0 1 IN0 8 7 IN1
R2
C 3 C2 C
R20
PC7 18 17 PC6 PA1 2 1k 6 5
100u/16
R8
20K_1%
PC5 16 15 PC4 10k R7 4 3
AHC00
100/0.25W
R10 10k_1%
PC3 14 13 PC2 2 1 GND
10k_1%
U1C VCC
PC1 12 11 PC0 9
R9
R3
8 D100/14GK
R21
PB7 10 9 PB6 PA2 10 V8 100/0.25W
R17
C3
20K_1%
PB5 8 7 PB4 10k 100n
AHC00
1k
R11
R14 R6
PB3 6 5 PB2 GND
10k_1%
U1B 100k 10k_1%
PB1 4 3 PB0 4
R4
6 5
R22
2 1 PA3 5 7
T1
20K_1% 6
BC857
R5
10k
AHC00
D100/26GK
10k_1%
GND
S3
U2B
1 6
LM358D
2 5
3 4
DIP6P
GND GND
B B
Tytuł:
Tytuł:
DSM-51 Tester diod i tranzystorów
A DSM-51 Tester diod i tranzystorów A
Symbol: Nr rys.: REV.
Symbol: Nr rys.: REV.
D
D
Model M02 DM02
Model M02 DM02
Data: Plik: Arkusz:
Data: Plik: Arkusz:
9-May-2007 D:\MM\MM_PROT\DSM\M02\DM02_D.SCH 1 z 1
9-May-2007 D:\MM\MM_PROT\DSM\M02\DM02_D.SCH 1 z 1
1 2 3 45
14
7
V
G
8
4