spraw, CW51OLE, Pomiary oscyloskopowe


POLITECHNIKA WROCŁAWSKA

INSTYTUT FIZYKI

SPRAWOZDANIE Z ĆWICZENIA NR 51

Temat : Pomiary oscyloskopowe.

Morajko Oleg

WYDZ. : IZ ROK : II

DATA :

OCENA :

Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia było zapoznanie się z :

Wstęp teoretyczny - zjawisko fizyczne

Oscyloskop elektroniczny jest uniwersalnym przyrządem laboratoryjnym służącym do obserwacji, rejestracji i pomiarów napięć elektrycznych zmieniających się w czasie. Podstawowym elementem oscyloskopu jest lampa oscyloskopowa. Ponadto w skład budowy oscyloskopu wchodzą : wzmacniacz odchylenia poziomego X i pionowego Y, generator podstawy czasu i urządzenie zasilające (Rys.1).

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
WY

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
Y Z ~220V

0x08 graphic
0x08 graphic
S

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
WX O

O - lampa oscyloskopowa

Y - wzmacniacz odchylenia pionowego

X - wzmacniacz odchylenia poziomego

WX ,WY - gniazdka wejściowe wzmacniaczy

G - generator podstawy czasu

Z - zasilacz (przewody zasilania oznaczono

linią przerywaną)

S - obwód synchronizacji

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
X G

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

Wzmacniacze X oraz Y służą do wzmacniania amplitudy badanych sygnałów w celu umożliwienia obserwacji i pomiarów nawet bardzo słabych sygnałów. Napięcia wyjściowe są przyłożone do odpowiednich par płytek odchylających lampy oscyloskopowej.

Generator podstawy czasu G służy do wytwarzania napięcia okresowo zmiennego o przebiegu piłokształtnym. Napięcie to podczas jednego okresu wzrasta proporcjonalnie do czasu, a następnie możliwie szybko opada.

Urządzenia zasilające oscyloskopu przetwarzają napięcie sieci na napięcie stałe, potrzebne do zasilania wzmacniaczy, generatora podstawy czasu i lampy oscyloskopowej.

Podstawowe zastosowania pomiarowe oscyloskopu elektronowego :

Przyrządy pomiarowe

W ćwiczeniu wykorzystano następujące przyrządy pomiarowe :

Przebieg ćwiczenia

Obserwacja i pomiar napięcia przemiennego.

W tym celu dołączyliśmy generator funkcyjny, który wytwarza odpowiednio napięcia sinusoidalne, prostokątne i piłokształtne ( trójkątne ).

wartość amplitudy A = 1dz = 1 cm

- zakres generatora podstawy czasu

Todczyt = t2 - t1 = 1.6 [cm] - odczytany z wykresu okres przebiegu

stąd T = Todczyt * Tx = 1.6 * 2 = 3.2 [ms]

wartość amplitudy A = 1dz = 1 cm

częstotliwość przebiegu : T = 3.2 [ms] oraz f = 312.5 [Hz]

wartość amplitudy A= 0.2 [cm]

częstotliwość przebiegu T = 1.2 cm * 2 [ms/cm] = 2.4 [ms] skąd f = 416.7 [Hz ]

Podstawą działania wielu układów elektronicznych są procesy ładowania i rozładowania kondensatora przez rezystancję. Obserwację takich procesów na ekranie oscyloskopu można przeprowadzić korzystając z układu jak na poniższym rysunku .

Schemat układu różniczkującego, złożony z kondensatora C i rezystora R :

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
A I A'

0x08 graphic
C

U R U1

0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
B B'

Do zacisków AA' doprowadza się impulsy sinusoidalne o amplitudzie U0 , a zaciski BB' łączy się z wejściem wzmacniacza Y. W wyniku powstają impulsy zdeformowane, w których część narastająca odpowiada procesowi ładowania, a część opadająca - procesowi rozładowania kondensatora C przez rezystor R. Szybkość narastania lub opadania napięcia na kondensatorze zależy od wartości iloczynu RC, tzw. stałej czasowej obwodu τ. Dla dostatecznie małych wartości R i C napięcie wyjściowe U1(t) jest proporcjonalne do pochodnej dU/dt napięcia wejściowego :

gdzie Q - ładunek zgromadzony na kondensatorze C,

Uc - napięcie między okładkami kondensatora.

Dla małych wartości R i C, U1<< U, Uc ≅ U :

W ćwiczeniu na wejście układu podano napięcia sinusoidalne, prostokątne i piłokształtne. Otrzymane przebiegi przedstawiono na wykresach

Obserwacja i pomiar napięcia przemiennego na wyjściu układu prostowania jedno- i dwupołówkowego.

Schemat układu prostowniczego z filtrem RC wygładzającym tętnienia przedstawia poniższy rysunek :

0x08 graphic
D1

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
| | WY

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
~220 C1 C2 R1 R2

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
| |

0x08 graphic
0x08 graphic
D2

gdzie :

D1, D2 - diody krzemowe,

C1, C2 - kondensatory filtrujące,

R1, R2 - rezystory obciążenia

Wpływ elementów R i C na wartość napięcia tętnień oraz odpowiednie wykresy podano w

Pomiar częstotliwości napięcia przemiennego przy pomocy figur Lissajous

Pomiar częstotliwości polega na podaniu na płytki X sygnału z generatora o znanej częstotliwości, a na płytki Y sygnału o czestotliwosci szukanej. Częstotliwość na kalibrowanym generatorze ustawiamy tak, aby uzyskać stałą figurę na ekranie. Częstotliwość wyznaczamy ze wzoru:

gdzie :

y -liczba przecięć wykresu z osią Y,

mx - liczba przecięć wykresu z osią X,

f v - znana częstotliwość,

fx - szukana częstotliwość.

Odczyty z przyrządów pomiarowych :

fv = 100 Hz * 2.7 = 270 Hz - częstotliwość generatora funkcji G 432

fx = 0.9 * 100 Hz = 90 Hz - częstotliwość generatora podstawy czasu

Z wykresu

my = 1, nx = 3

Dla drugiego wykresu

fv = 200 Hz

m = 2; n = 4

stąd : fx = 100 Hz

Pomiar przesunięcia fazowego

Aby zmierzyć różnice faz dwu przebiegów sinusoidalnych należy podać dwa przebiegi o jednakowych amplitudach i częstotliwościach. Na ekranie otrzymujemy prosta elipsę albo koło. Przesunięcie fazowe obliczamy ze wzoru:

, a- amplituda na osi Y, b - maksymalna amplituda wartości funkcji

ϕ - różnica faz

W wyniku złożenia przebiegów sinusoidalnych o jednakowej częstotliwości na ekranie pojawia się obraz :

a = 1.6 * 2 = 3.2 cm

b = 2 * 2 = 4 cm

sinϕ = 0.8

Wnioski

Oscyloskop służy do obserwacji przebiegów napięć w zależności od czasu U(t). Nie należy go jednak stosować do dokładnego pomiaru napięć, a jedynie do orientacyjnego. Układy wejściowe, a zwłaszcza wzmacniacze X i Y oraz generator podstawy czasu są elementami odbiegającymi od idealnie liniowych, co wprowadza dość znaczne błędy pomiarowe.

Oscyloskop jest urządzeniem bardzo przydatnym w pracowni zajmującej się elektroniką analogową, ponieważ umożliwia obserwację okresowych sygnałów pojawiających się w obwodach analogowych. Przy pomiarze zwykłym oscyloskopem błąd przekracza kilka procent, nie ma sensu zaś rozpatrywanie wielkości plamki.

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
spraw, CW 51, Pomiary Oscyloskopwe
Metrologia Pomiary oscyloskopowe i wobulator
OSCYLOSK, Studia, Pracownie, I pracownia, 51 Pomiary oscyloskopowe, Ludwikowski
Pomiary oscyloskopowe wobulatora, Data
Sprawozdania - Seria 1, Sprawozdanie 6,7 - Zapoznanie z budową i pomiary oscyloskopem, ZESPÓL SZKÓŁ
Metrologia-lab-Pomiary Oscyloskopowe, OSCYL P, POLITECHNIKA RADOMSKA
Pomiary oscyloskopowe
NO2 POM OSCYLOSKOPOWE, MIERNIC2, POMIARY OSCYLOSKOPOWE
Pomiary oscyloskopowe, POMIAR~3, Politechnika Radomska
Pomiary oscyloskopem
2 pomiary oscyloskopowe cw2 id Nieznany
Pomiary oscyloskopowe id 374431 Nieznany
Metrologia-lab-Pomiary Oscyloskopowe, Oscyloskop, POLITECHNIKA RADOMSKA
1999 [WNT] Pomiary Oscyloskopowe
51, DOS51, Pomiary oscyloskopowe
Miernictwo- Pomiary oscyloskopami i wobuloskop, Pomiary oscyloskopami i wobuloskop
Pomiary oscyloskopowe i wobulator, LABORATORIUM MIERNICTWA CYFROWEGO
Chemia fiz. - moje spraw, 50 pomiar SEM ogniwa elektrochemicznego, Marzena Chmielecka
BADANIE CZWÓRNIKÓW PRZESUWAJĄCYCH FAZĘ Z WYKORZYSTANIEM POMIARÓW OSCYLOSKOPOWYCH, metrologia

więcej podobnych podstron