Badanie cyfrowych bramek logicznych2, Laboratorium układów elektronicznych


Laboratorium układów elektronicznych

Temat : Badanie cyfrowych bramek logicznych

  1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest poznanie zasady działania i własności podstawowych bramek logicznych w technologii bipolarnej i MOS.

  1. Obserwacja charakterystyki przejściowej.

0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

  1. Obserwacja przełączania bramki i pomiar czasu propagacji

0x08 graphic

Podstawa czasu - 0,05[μs/cm]/10

0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

  1. Uwagi i wnioski

Tematem ćwiczeń laboratoryjnych było badanie czasu propagacji oraz obserwacja charakterystyk przejściowych bramek typu NAND układów scalonych typu 74LS00, 7400, 74HCT00, TC4001BP.

Ostatni układ był układem typu MOS a pozostałe typu TTL.

Porównanie charakterystyki przejściowej odczytanej z oscyloskopu układu TC4001BP, z charakterystyką z charakterystyką katalogową potwierdziło, że układ pracuje prawidłowo i charakterystyki pokrywają się. Pozostałe charakterystyki układów TTL są „mniej więcej” zgodne z oczekiwanymi.

Druga część ćwiczenia polegała na badaniu czasu propagacji badanych układów. Uzyskane wyniki z pomiarów dowodzą, że układy 74LS00, 74HCT00, TC4001BP zostały zbadane odpowiednio gdyż ich wyniki mieszczą się w danych katalogowych. Natomiast układ 7400 teoretycznie też się znajduje w zakresie odpowiedniego przedziału czasowego lecz odczytany czas propagacji w porównaniu z układem 74LS00 jest zbyt mały jak dla tego typu układu. Cechą charakterystyczną zauważoną podczas ćwiczeń układów MOS-owskich było większa wrażliwość na zakłócenia. Objawiało się to podczas przybliżania ręki do jednego z wejść układu przy podłączonym drugim wejściu. Spowodowane jest tym, że układy MOS są układami napięciowymi w przeciwieństwie do układów bipolarnych - prądowych.

G

We 1

Pomiar Uwe

R23

Wy 3

We 1

We 2

X-Y

Syn

Syn

X-Y

We 2

We 1

Wy 4

Z2

Bramka typu 74LS00

TpLH = 7,5ns

TpHL = 7ns

Tp = 7,25ns

We 2

G

Wy 1

Z10

Bramka typu 7400

TpLH = 6ns

TpHL = 6,6ns

Tp = 6,3ns

Bramka typu 74HCT00

TpLH = 5ns

TpHL = 5,5ns

Tp = 5,25ns

Bramka typu TC4001BP

TpLH = 7ns

TpHL = 8ns

Tp = 6ns

74LS00

7400

74HCT00

TC4001BP

[V]

[V]

[V]

[V]

[V]

[V]

[V]

0 0,2

0 0,2

0 0,2

0 0,2

1

1

1

Uwy=f(Uwe)



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Elektronika - Badanie cyfrowych bramek logicznych, Politechnika Opolska, sprawozdania, zachomikowane
Badanie cyfrowych bramek logicznych1, Nr. ?wiczenia: Temat:
BADANIE CYFROWYCH BRAMEK LOGICZNYCH, WSI
Badanie cyfrowych bramek logicznych6, Politechnika Opolska
Układy logiczne cz.2, Laboratorium układów elektronicznych
Układy logiczne cz.1, Laboratorium układów elektronicznych
Przetworniki anologowo-cyfrowe, Laboratorium układów elektronicznych
Metrologia - Pomiar współczynników tłumienia zakłóceń woltomierza cyfrowego napięcia stałego, Labora
Badanie prądnicy synchronicznej v3, LABORATORIUM MASZYN ELEKTRYCZNYCH
Elektronika- Stabilizator napiecia stałego o działaniu nieciągłym, Laboratorium układów elektroniczn
Elektronika- Stabilizator napiecia stałego o działaniu nieciągłym, Laboratorium układów elektroniczn
Badanie indukcyjnego silnika pierścieniowego, LABORATORIUM MASZYN ELEKTRYCNYCH
Badanie transformatora trójfazowego - b, Opracowanie laboratorium maszyn elektrycznych
Przetwornice napięcia stałego, Laboratorium układów elektronicznych
LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH-GENERATORY RC, NAUKA, WIEDZA
Badanie rezonansu w obwodach RLC, laboratorium podstaw elektroniki

więcej podobnych podstron