Test 1.
Elektron to:
Elementarny nośnik ujemnego ładunku elektrycznego
Po grecku – bursztyn
Ładunek gromadzący się na pręcie szklanym pocierany jedwabiem
Ładunek gromadzący się na pręcie ebonitowym pocieranym wełną
Nośnik większościowy w półprzewodniku typu n
Półprzewodnik to materiał o charakterze:
Związku chemicznego o charakterze AIIIBV
Pierwiastkowym (atomy jednego pierwiastka z 7. gr. układu Mendelejewa)
Pierwiastkowym (atomy jednego pierwiastka z 4. gr. układu Mendelejewa)
Dwu lub więcej pierwiastków lub związków chemicznych , których skłąd ilościowy może zmieniać się w szerokich granicach
Ciało polikrystalicznego, składającego się z krystalitów o lokalnej periodyczności
Kulomb to:
Jednostka ładunku w układzie SI
Francuski fizyk, twórca prawa fizycznego o oddziaływaniu wzajemnych ładunków
Jednostka pojemności w układzie SI
Jednostka ładunku gromadzącego się na powierzchni ciała stałego, pozwalająca na określenie tzw. powierzchniowej gęstości ładunku
Ładunek, który przepływa w ciągu 1 s przez przekrój poprzeczny przewodnika w którym płynie prąd o natężeniu równym 1 A
Rezystancja zastępcza szeregowo połączonych rezystorów R1, R2,R3 o rezystancjach odpowiednio 10k, 20k i 30k wynosi:
30k
6000k
60k
15k
1/60k
Nośniki ładunku w materiale półprzewodnikowym ulegają:
Bezwładnym ruchom cieplnym
Ruchom skierowanym
Działaniu pola E, nakładającego się na chaotyczny ruch cieplny
Dyfuzji w wyniku działania pola elektrycznego E
Dyfuzji pod wpływem gradientu koncentracji nośników ładunku
Test 2.
Półprzewodnik to:
Materiał nieorganiczny lub organiczny o rezystywności poniżej 10-6Ωm
Materiał nieorganiczny lub organiczny o rezystywności powyżej 106Ωm
Materiał nieorganiczny lub organiczny o rezystywności 10-6 – 106Ωm
Rezystywność półprzewodnika zależy od temperatury, oświetlenia, stopnia czystości
Materiał o szerokości pasma zabronionego mniejszego od 5eV
Defekt strukturalny to:
Nieprawidłowe rozmieszczenie atomów w sieci krystalicznej
Atomy obce w węzłach lub położeniach międzywęzłowych sieci krystalicznej
Wakanse, węzły sieci krystalicznej przypadkowo nieobsadzone przez właściwe atomy
Lokalna zmiana składu chemicznego materiału rodzimego
To atom lub grupa atomów, powodująca lokalną zmianę sieci krystalicznej materiału półprzewodnikowego, skutkująca poprawą jakości kryształu
Ładunek punktowy (+q)
Ładunek pozwalający na badanie natężenia pola elektrycznego
Ma wartość ładunku elementarnego 1e
Ładunek naładowanego ciała o małych wymiarach geometrycznych w porównaniu z odległością punktu w przestrzeni w którym znajduje się ładunek Q od tego ciała
Umieszczony w dowolnym pkt w przestrzeni , oddalony od ładunku Q będącego źródłem pola określa się F = E x q
Pozwala na określenie wartości napięcia elektrycznego w polu E
Pojemność zastępcza połączonych równolegle kondensatorów płaskich o pojemnościach C1, C2, C3 odpowiednio wynoszących 0,1nF, 0,2nF, 0,3nF wynosi:
0,6 nF
10/6 nF
1/(6) nF
600 pF
0,003 nF
Półprzewodnik samoistny to:
Półprzewodnik występujący w przyrodzie
Półprzewodnik domieszkowy pracujący w bardzo wysokich temperaturach
Półprzewodnik, w którym nośnikami ładunku są pary elektron-dziura
Półprzewodnik w którym koncentracja dziur jest równa koncentracji elektronów
Półprzewodnik samoistnie zmieniający poziom domieszkowania
Test 3.
Elektron to:
Elementarny nośnik ujemnego ładunku elektrycznego
Po grecku – bursztyn
Ładunek gromadzący się na pręcie szklanym pocierany jedwabiem (gromadzi się dodatni)
Ładunek gromadzący się na pręcie ebonitowym pocieranym wełną
Nośnik większościowy w półprzewodniku typu n
Kulomb to:
Jednostka ładunku w układzie SI
Francuski fizyk, twórca prawa fizycznego o oddziaływaniu wzajemnych ładunków
Jednostka pojemności w układzie SI
Jednostka ładunku gromadzącego się na powierzchni ciała stałego, pozwalająca na określenie tzw. powierzchniowej gęstości ładunku
Ładunek, który przepływa w ciągu 1 s przez przekrój poprzeczny przewodnika w którym płynie prąd o natężeniu równym 1 A
Dla dzielnika napięcia jak na rysunku UWY będzie wynosiło, gdy UWE= ????? R1=???Ω, R2 = 68 Ω
5,91 V
59,1 V
0,591 V
47 V
68 V
Półprzewodnik domieszkowy typu p:
Półprzewodnik domieszkowany atomami pochodzącymi z III gr. układu okresowego pierwiastków
Półprzewodnik domieszkowany atomami pochodzącymi z V gr. układu okresowego pierwiastków
Półprzewodnik domieszkowany atomami boru (B), glinu (Al) ..?...
Półprzewodnik , którym w T=300K wszystkie atomy domieszki akceptorowej są zjonizowane
Półprzewodnik , którym w T=300K wszystkie atomy domieszki donorowej są zjonizowane
Nośniki ładunku w materiale półprzewodnikowym ulegają:
Bezwładnym ruchom cieplnym
Ruchom skierowanym
Działaniu pola E, nakładającego się na chaotyczny ruch cieplny
Dyfuzji w wyniku działania pola elektrycznego E
Dyfuzji pod wpływem gradientu koncentracji nośników ładunku
Test 4.
Defekt strukturalny to:
Nieprawidłowe rozmieszczenie atomów w sieci krystalicznej
Atomy obce w węzłach lub położeniach międzywęzłowych sieci krystalicznej
Wakanse, węzły sieci krystalicznej przypadkowo nieobsadzone przez właściwe atomy
Lokalna zmiana składu chemicznego materiału rodzimego
To atom lub grupa atomów, powodująca lokalną zmianę sieci krystalicznej materiału półprzewodnikowego, skutkująca poprawą jakości kryształu
Obwód elektryczny:
Zrównoleglona droga przepływu prądu elektrycznego
Przynajmniej jedna zamknięta droga dla przepływu prądu elektrycznego
Połączenie elementów liniowych i nieliniowych, przedstawionych za pomocą symboli graficznych, tworzących zamknięta drogę dla przepływu prądu elektrycznego
Obwód liniowy zawiera liniowe i nieliniowe elementy
Obwód nieliniowy zawiera co najmniej jeden element nieliniowy w strukturze zamkniętej drogi przepływu prądu elektrycznego
Pojemność zastępcza połączonych szeregowo kondensatorów płaskich o pojemnościach C1, C2, C3 odpowiednio wynoszących 10nF, 20nF, 30nF wynosi:
5,45 nF
0,545 nF
545 nF
5,45 x 10-9 F 1/10+1/20+1/30=6/60+3/60+2/60=11/60=1/c c=60/11=5.45nF
1/60 nF
Dla dzielnika napięcia UWY, będzie wynosić, gdy UWE = 50 V, R1 = 10 Ω, R2= 40 Ω:
40 V
400 V
0,4 V
10 V
50 V
Półprzewodnik samoistny to:
Półprzewodnik występujący w przyrodzie
Półprzewodnik domieszkowy pracujący w bardzo wysokich temperaturach
Półprzewodnik, w którym nośnikami ładunku są pary elektron-dziura
Półprzewodnik w którym koncentracja dziur jest równa koncentracji elektronów
Półprzewodnik samoistnie zmieniający poziom domieszkowania
Test 5.
Ciało stałe w zależności od stopnia uporządkowania struktury wewnętrznej, to:
Ciało amorficzne o uporządkowaniu dalekiego zasięgu
Ciało amorficzne o uporządkowaniu bliskiego zasięgu, materiał bezpostaciowy
Ciało krystaliczne o uporządkowaniu dalekiego zasięgu
Ciało monokrystaliczne o uporządkowaniu w całej objętości bryły z dokładnością do defektów struktury
Ciało monokrystaliczne hodowane sztucznie w określonych warunkach krystalizacji o dużej czystości
Prąd elektryczny to:
Ukierunkowany przepływ strumienia ładunków elektrycznych w materiale przewodzącym
Ruch nośników ładunków unoszonych w polu elektrycznym
Ruch nośników ładunków – elektronów lub jonów
Prąd przesunięcia związany z przemieszczeniem ładunków wewnątrz atomu bez naruszenia jego struktury
Prąd dyfuzji związany z gradientem koncentracji nośników ładunku
Rezystancja zastępcza równolegle połączonych rezystorów R1, R2,R3 o rezystancjach równych 100 Ω wynosi:
33,(3) Ω
300 Ω
1003 Ω
3/100 Ω
1/100 Ω
Półprzewodnik domieszkowy typu n:
Półprzewodnik domieszkowany atomami pochodzącymi z III gr. układu okresowego pierwiastków
Półprzewodnik domieszkowany atomami pochodzącymi z V gr. układu okresowego pierwiastków
Półprzewodnik domieszkowany atomami fosforu (P), antymonu (Sb), arsenu (As)
Półprzewodnik , którym w T=300K wszystkie atomy domieszki akceptorowej są zjonizowane
Półprzewodnik , którym w T=300K wszystkie atomy domieszki donorowej są zjonizowane
Defekt strukturalny to:
Nieprawidłowe rozmieszczenie atomów w sieci krystalicznej
Atomy obce w węzłach lub położeniach międzywęzłowych sieci krystalicznej
Wakanse, węzły sieci krystalicznej przypadkowo nieobsadzone przez właściwe atomy
Lokalna zmiana składu chemicznego materiału rodzimego
To atom lub grupa atomów, powodująca lokalną zmianę sieci krystalicznej materiału półprzewodnikowego, skutkująca poprawą jakości kryształu
Test 6.
Ładunek punktowy (+q)
Ładunek pozwalający na badanie natężenia pola elektrycznego
Ma wartość ładunku elementarnego 1e
Ładunek naładowanego ciała o małych wymiarach geometrycznych w porównaniu z odległością punktu w przestrzeni w którym znajduje się ładunek Q od tego ciała
Umieszczony w dowolnym pkt w przestrzeni , oddalony od ładunku Q będącego źródłem pola określa się F = E x q
Pozwala na określenie wartości napięcia elektrycznego w polu E
Rezystancja zastępcza równolegle połączonych rezystorów R1, R2,R3 o rezystancjach równych 100 Ω wynosi:
33,(3) Ω
300 Ω
1003 Ω
3/100 Ω
1/100 Ω
Półprzewodnik typu p to :
Półprzewodnik w którym nośnikami mniejszościowymi są dziury
Półprzewodnik w którym nośnikami mniejszościowymi są elektrony
Półprzewodnik w którym nośnikami większościowymi są dziury
Półprzewodnik w którym nośnikami większościowymi są elektrony
Półprzewodnik w którym przy niewielkim pobudzeniu termicznym (W ≥ WA) dojść do jonizacji atomu domieszki akceptorowej, znajdującej się na poziomie WA , w wyniku której w paśmie walencyjnym pojawia dziura jako nośnik większościowy
Ciało stałe w zależności od stopnia uporządkowania struktury wewnętrznej, to:
Ciało amorficzne o uporządkowaniu dalekiego zasięgu
Ciało amorficzne o uporządkowaniu bliskiego zasięgu, materiał bezpostaciowy
Ciało krystaliczne o uporządkowaniu dalekiego zasięgu
Ciało monokrystaliczne o uporządkowaniu w całej objętości bryły z dokładnością do defektów struktury
Ciało monokrystaliczne hodowane sztucznie w określonych warunkach krystalizacji o dużej czystości
Pojemność zastępcza połączonych równolegle kondensatorów płaskich o pojemnościach C1, C2, C3 odpowiednio wynoszących 0,1nF, 0,2nF, 0,3nF wynosi:
0,6 nF
10/6 nF
1/(6) nF
600 pF
0,003 nF