Badanie podstawowych właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych

Politechnika Lubelska

w Lublinie

Laboratorium Inżynierii Materiałowej

Katedra Urządzeń Elektrycznych

i Techniki Wysokich Napięć

Imię i Nazwisko:

Jakub Machometa

Marcin Łupina

Michał Kryszczuk

Semestr: IV

Grupa: 4.3

Temat: Badanie podstawowych właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych.

Ćwiczenie

nr 6

I. Cel ćwiczenia

Poznanie podstawowych własności charakteryzujących półprzewodniki i elementy półprzewodnikowe.

Wskazania atmosferyczne

II. Schemat pomiarowy:

III. Pomiar rezystancji półprzewodników:

  1. Tabela pomiarowa:

T T 1000/T RSi RGe RGaAs σSi σGe σGaAs
°C K 1/K MΩ kΩ kΩ 1/Ω·cm 1/Ω·cm 1/Ω·cm
26 299 3,344482 5,032 1,452 1075 0,140563 0,487131 0,000658
30 303 3,30033 4,482 1,687 873,9 0,157812 0,419273 0,000809
40 313 3,194888 4,101 1,633 540,4 0,172473 0,433138 0,001309
50 323 3,095975 3,494 1,579 442,6 0,202437 0,44795 0,001598
60 333 3,003003 3,37 1,537 259,6 0,209885 0,460191 0,002725
70 343 2,915452 2,957 1,455 212,9 0,2392 0,486126 0,003322
80 353 2,832861 2,873 1,363 130 0,246193 0,518939 0,005441
90 363 2,754821 2,642 1,287 112,3 0,267719 0,549583 0,006298
100 373 2,680965 2,405 1,221 74,68 0,294101 0,57929 0,009471
110 383 2,610966 2,052 1,147 66,86 0,344695 0,616664 0,010579
120 393 2,544529 1,975 1,085 50,27 0,358133 0,651902 0,01407
130 403 2,48139 1,679 1,02 47,05 0,421271 0,693445 0,015033
140 413 2,421308 1,611 0,967 39,75 0,439053 0,731452 0,017794
150 423 2,364066 1,495 0,947 38,87 0,473119 0,746899 0,018197

Tab.1. Tabela z wynikami pomiarów rezystancji i obliczeń konduktancji półprzewodników.

  1. Tabela zlogarytmowanych konduktancji:

LnσSi lnσGe lnσGaAs
-15,7776 -7,6270 -14,2341
-15,6619 -7,7770 -14,0270
-15,5730 -7,7445 -13,5463
-15,4128 -7,7108 -13,3467
-15,3767 -7,6839 -12,8132
-15,2460 -7,6290 -12,6149
-15,2171 -7,5637 -12,1216
-15,1333 -7,5064 -11,9752
-15,0393 -7,4537 -11,5672
-14,8806 -7,3912 -11,4566
-14,8424 -7,3356 -11,1714
-14,6800 -7,2738 -11,1052
-14,6386 -7,2205 -10,9366
-14,5639 -7,1996 -10,9143

Tab.2. Tabela zlogarytmowanych konduktancji półprzewodników.

Energia pasma zabronionego poszczególnych próbek półprzewodników:

Krzem 0,14eV

German 0,19eV

Arsenek Galu 0,63eV

  1. Przykładowe obliczenia:

$\mathbf{\sigma}_{\mathbf{\text{Ge}}}\mathbf{=}\frac{\mathbf{1 \bullet l}}{\mathbf{R \bullet s}}\mathbf{=}\frac{\mathbf{1 \bullet 1,42\lbrack cm\rbrack}}{\mathbf{1,455 \bullet}\mathbf{10}^{\mathbf{3}}\mathbf{\lbrack\mathrm{\Omega}\rbrack \bullet 0,0756\lbrack}\mathbf{\text{cm}}^{\mathbf{2}}\mathbf{\rbrack}}\mathbf{= 0,486126 \bullet}\mathbf{10}^{\mathbf{- 3}}\left\lbrack \frac{\mathbf{1}}{\mathbf{\Omega}\mathbf{\bullet cm}} \right\rbrack$

$\mathbf{ln(}\mathbf{\sigma}_{\mathbf{Ge)}}\mathbf{= ln}\left( \mathbf{0,486126 \bullet}\mathbf{10}^{\mathbf{- 3}} \right)\mathbf{= - 7,629}\left\lbrack \frac{\mathbf{1}}{\mathbf{\Omega}\mathbf{\bullet cm}} \right\rbrack$

$\mathbf{E}_{\mathbf{\text{Ge}}}\mathbf{=}\frac{\mathbf{(ln}\mathbf{\sigma}_{\mathbf{1}}\mathbf{- ln}\mathbf{\sigma}_{\mathbf{2}}\mathbf{) \bullet 2000}\mathbf{k}}{\frac{\mathbf{1000}}{\mathbf{T}_{\mathbf{1}}}\mathbf{-}\frac{\mathbf{1000}}{\mathbf{T}_{\mathbf{2}}}}\mathbf{=}\frac{\left( \mathbf{- 6,9 + 8,25} \right)\mathbf{\bullet 2000 \bullet 8,6173 \bullet}\mathbf{10}^{\mathbf{- 5}}}{\mathbf{3,65 - 2}}\mathbf{= 0,19}\mathbf{\text{eV}}$

  1. Wykresy:

wyk.1. Wykres zależności logarytmu konduktancji w funkcji odwrotności temperatury dla krzemu

wyk.2. Wykres zależności logarytmu konduktancji w funkcji odwrotności temperatury dla germanu

wyk.3. Wykres zależności logarytmu konduktancji w funkcji odwrotności temperatury dla arsenku galu

Wnioski :

Wykresy lnσ =f(1000/T] dla krzemu , germanu , arsenku galu są funkcjami malejącymi .

Wartość konduktywności zależy od rezystancji , natomiast konduktywność jest odwrotnie proporcjonalna do rezystancji.

Przy wyznaczaniu wpływu temperatury na parametry przyrządów półprzewodnikowych podczas chłodzenia wartości rezystancji zwiększają się dla krzemu od 1,495 MΩ do 5,032 MΩ , dla germanu od 0,947kΩ do 1,452 kΩ , a dla arsenku galu od 38,87kΩ do 1075 kΩ

Energia pasma zabronionego dla krzemu wynosi 0,14eV dla germanu 0,19 eV , a dla arsenku galu 0,63 eV.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Badanie podstawowych właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych
protokół Badanie podstawowych właściwości materiałów i przyrządów, Politechnika Lubelska, Studia, St
Materiałoznawstwo, Badanie właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych, POLITECHNIKA LUBE
3 BADANIE PODSTAWOWYCH WŁAŚCIWOŚCI MATERIAŁÓW I MAS FORMIERSKICH
badanie podstawowych właściwości materiałów przewodzących kalk exl
11. Badanie podstawowych właściwości warikapów, Elektrotechnika - notatki, sprawozdania, Inżynieria
Ćw 3 Badanie podstawowych własności materiałów ferromagnetycznych
Ćw 4 Badanie podstawowych własności materiałów przewodzących
Badanie podstawowych właściwości mas formierskich i rdzeniowych, technologia wytwarzania
badanie podstawowych wlasciwosc Nieznany (4)
Laboratorium urządzeń elektrycznych, Badanie podstawowych właściwości łuku, Politechnika Lubelska
Badanie wpływu właściwości materiałów magnetycznych na reluktancję obwodu magnetycznego
przygotowanie i badanie podstawowych właściowości mas formierskich, SPRAWOZDANIE
Podstawowe właściwości materiałów
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 5 , LABORATORIUM FIZYCZNE

więcej podobnych podstron