Wyznaczenie współczynnika załamania za pomocą mikroskopu:

Zgodnie z prawem Sneliusa wyznaczamy bezwzględny współczynnik załamania fali z rówań:

=

sin α - kąt padania fali;

sin β - kąt wyjścia fali;

n₁, n₂ - bezwzględne współczynniki załamania ośrodków

n = - względny współczynnik załamania

Doświadczalnie możemy zmierzyć to za pomocą miktroskopu. Dzięki pomiarowi grubości pozornej (h) i rzeczywistej (d) badanego materiału (szkła) pozwala wyznaczyć n z równania:

Dla małych kątów tangensy możemy zastąpić sinusami i dzięki temu wyprowadzamy zależność:

≈

n =

Przebieg doświadczenia:

Płytki badane przy pomocy mikroskopu posiadają rysy, które umożliwiają wyznaczenie ich grubości rzeczywistej i pozornej. Płytki kładziemy na stoliku mikroskopu i zmieniając położenie obiektywu śrubą mikrometryczną obserwujemykolejne wartości położenia odpowiadające ostremu widokowi kolejnych rys.

d = III - I h = III - II

Wyznaczanie współczynnika załamania dla płytki szklanej wzorcowej:

I = 0 - położenie odpowiadające ostremu obrazowi rysy na płytce pomocniczej;

II = 65 - położenie odpowiadające ostremu obrazowi rysy na płytce pomocniczej po położeniu płytki badanej;

obroty śruby mikrometrycznej - 1* 50 + 15;

III = 182 - położenie odpowiadające ostremu obrazowi rysy na płytce badanej;

obroty śruby mikrometrycznej - 3 * 50 + 32;

d = 182 µm

h = 182 - 65 = 117 µm

n = = 1,6

Błąd współczynnika załamania w pomiarach za pomocą mikroskopu:

= [ + ] * 100 % - wartość błędu względnego;

Δn = [ + ] * n - wartość błędu bezwzględnego;

Δd, Δh = 2 µm - działka śruby mikrometrycznej.

Wyniki pomiarów:

Ośrodek załamujący	I pomiar µm	II pomiar µm	III pomiar µm	wspólcz. załamania	błąd bezw.	błąd wzgl. %
płytka wzorcowa	0	65	185	1,56	0.044	2.8

Wnioski:

Na dokładność wyniku duży wpływ miało subiektywne oszacowanie ostrości obrazu- ustalenia ostrości rys na płytkach badanych i pomocniczych, nieścisłość odczytu dokładnej ilości obrotów śruby mikrometrycznej.