polak,miernictwo,Systemy pomiarowe

Systemy pomiarowe

Budowane w celu pomiaru wartości wielu różnych wielkości

Inteligentny czujnik -wyposażony w mikroprocesor i stanowić może odrębny podsystem

Oprogramowanie systemów pomiarowych może być skupione na jednej jednostce komputerowej lub rozproszone na wielu jednostkach

Obiekty pomiarowe - modele i parametry

Okresowe (sinusoidalne, prostokątne, trójkątne)

Nieokresowe:

• Krótkotrwałe (impulsowe, zanikające)

• Długotrwałe (prawie okresowe, losowe)

Obiekty pomiarowe – sygnały i ich parametry

Sygnały (prąd, napięcie)

Obiekty pomiarowe - parametry

Obiekty pomiarowe – parametry

Wartości skuteczne sygnałów: sinusoidalnego, trójkątnego, prostokątnego

Obiekty pomiarowe - modele

Pomiar częstotliwości

Częstościomierz - metoda bezpośrednia

Pomiar okresu (czasu)

Częstościomierz - metoda pośrednia

Pomiar fazy

Faza chwilowa

Pomiar fazy

Faza średnia


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Miernictwo i systemy pomiarowe II LAB
1. Podstawowe określenia. Jednostki miary, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- D
polak,miernictwo,PROCES POMIAROWY
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012 Mech
KP1 POMIARY WYMIARÓW ZEWNĘTRZNCH, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszyk
8. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne narzędzi pomiarowyc, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo
ZIMK21 Miernictwo i systemy pomiarowe
ZIMK72 Miernictwo i systemy pomiarowe
Miernictwo i systemy pomiarowe II lista
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE
2. Przyrzady pomiarowe podziałki, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszy
7. Racjonalny dobór narzędzi, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszyk
3. Błędy pomiarów. Bł.systematyczny i przypadkow, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomia
Program?TS Miernictwo i systemy pomiarowe
ĆWICZENIE NR5 POMIAR PARAMETRÓW GWINTU, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Da
Miernictwo i systemy pomiarowe szyper, Studia
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012 WEiA
Miernictwo i systemy pomiarowe I stopień lista
nie ma na liscie MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012

więcej podobnych podstron