ćw 5. Pomiary współrzędnościowe przy zastosowaniu wysokościomierza cyfrowego

Pojecie wzorca długości. Rodzaje i zasada działania wzorców długości. Konstrukcja wysokościomierza a postulat Abbe'go. Kalibracja końcówek pomiarowych-do czego służy. Zasada działania wysokościomierza cyfrowego.

Zagadnienia do opracowania

wzorce absolutne i przyrostowe (inkrementalne) stosowane we współczesnych przyrządach

pomiarowych; rodzaje i zasada działania,

schemat budowy i zasada działania wysokościomierza cyfrowego,

sposoby postępowania przy realizacji zadań pomiarowych ID i 2D.

ćw. 6 Nadzorowanie narzędzi pomiarowych

Postulat Abbe'go. Odmiany konstrukcyjne długościomierzy. Odmiany konstrukcyjne mikrometrów. Źródła błędów przy pomiarach mikrometrami. Parametry kontrolowane w mikrometrach. Nadzorowanie narzędzi pomiarowych. Cel i zakres nadzorowania.

Zagadnienia do opracowania

• Cel i zakres nadzorowanie narzędzi pomiarowych

• Postulat Abbego

• Schemat długościomierza poziomego, własności metrologiczne.

• Błędy podlegające kontroli w mikrometrach

ćw. 7 Pomiary współrzędnościowe parametrów geometrycznych elementów mechatronicznych

Metody optyczne pomiarów. Powiększenia stosowane w mikroskopach warsztatowych. Zasada działania fotolinijki i kamery CCD. Wady układów optycznych: aberacja sferyczna i chromatyczna, astygmatyzm i dystorsja.

Zagadnienia do opracowania

Metody optyczne pomiarów.

Odmiany konstrukcyjne mikroskopów warsztatowych i ich podstawowe parametry metrologiczne.

Wady układów optycznych: aberacja sferyczna i chromatyczna, astygmatyzm i dystorsja.

ćw. 8 Statystyczne sterowanie procesem produkcji (SPC)

Idea kontroli statystycznej. Karty kontrolne Shewharta. Typy kart kontrolnych. Zasady pobierania próbek. Charakterystyka przebiegów regulacyjnych na karcie kontrolnej; RUN (passa), TREND (tendencja), MIDDLE THIRD (środkowa 1/3). Metody obliczania kart kontrolnych. Wskaźniki zdolności procesów produkcyjnych: cp, cpk. wzory i interpretacja.

Zagadnienia do opracowania

opisać kartę kontrolną dla metody x- R, opisać wskaźniki zdolności procesu cp, cpk, - scharakteryzować pojęcia: TREND, RUN, MIDD1E THIRD

ćw. 9 Badanie zdolnością systemów metodą „R&R" (Powtarzalność i Odtwarzalność)

Pojęcie systemu pomiarowego. Dokładność, powtarzalność i odtwarzalność pomiarów. Odmiany metody R&R. Postępowanie przy realizacji tych odmian, interpretacja wyników. Wskaźniki zdolności przyrządów pomiarowych i systemów pomiarowych.

Zadania do opracowania

• Definicje parametrów zdolności przyrządów C_g i Cgk i systemów pomiarowych C_p, C_pk

• Podstawowe rodzaje metody R&R (Ford-Type-1, Ford-Type-2 w wersji uproszczonej, Ford-Type2
  w wersji pełnej)

• Definicje dokładności, powtarzalności, odtwarzalności pomiaru i przyrządu pomiarowego

UWAGA ! Podany zakres nie jest zbiorem pytań. Pozwala na bliższe określenie tematyki zawartej w nazwie ćwiczenia i ma za cel ułatwienie zbierania informacji wymaganych do zaliczenia ćwiczenia.