Wszystkie fale, niezależnie od rodzaju ulegają odbiciu, załamaniu, dyfrakcji i interferencji. Procesy te są wynikiem wzajemnego oddziaływania fali i cząstek ośrodków, które fala napotyka na swojej drodze. Badanie powyższych zjawisk jest szeroko wykorzystywane do określania struktury ośrodka. Celem ćwiczenia było wyznaczenie odległości międzypłaszczyznowych w polikrystalicznej warstwie grafitu oraz obserwacja zjawiska dyfrakcji elektronów.
Tabela wartości napięć anodowych UA i odpowiadających im średnic D
dla każdego z pierścieni
Lp. |
Napięcie anodowe [V] |
Mniejszy okrąg [mm] |
Większy okrąg [mm] |
1. |
4000 |
21,9 |
39,8 |
2. |
4500 |
20,3 |
38,1 |
3. |
5000 |
19,9 |
35,5 |
4. |
5500 |
19,2 |
32,9 |
5. |
6000 |
18,2 |
31,7 |
6. |
6500 |
17,5 |
30,3 |
7. |
7000 |
16,5 |
29,6 |
8. |
7500 |
15,5 |
28,3 |
9. |
8000 |
15,3 |
27,6 |
10. |
8500 |
14,6 |
26,9 |
11. |
9000 |
14,3 |
25,9 |
Obliczenie wartości sin
W celu wyznaczenia wartości sin
musimy znaleźć sin4
, a następnie kąt
.
gdzie:
D - średnica okręgów
R = 65mm - promień lampy
Wyznaczone wartości
dla mniejszego i większego okręgu
Lp. |
|
Mniejszy okrąg [mm] |
|
[rad] |
|
Większy okrąg [mm] |
|
[rad] |
|
1 |
0,015811388 |
21,9 |
0,168461538 |
0,042317173 |
0,042304544 |
39,8 |
0,306153846 |
0,077787560 |
0,077709136 |
2 |
0,014907120 |
20,3 |
0,156153846 |
0,039198881 |
0,039188843 |
38,1 |
0,293076923 |
0,074360874 |
0,074292363 |
3 |
0,014142136 |
19,9 |
0,153076923 |
0,038420287 |
0,038410835 |
35,5 |
0,273076923 |
0,069147519 |
0,069092429 |
4 |
0,013483997 |
19,2 |
0,147692308 |
0,037058646 |
0,037050164 |
32,9 |
0,253076923 |
0,063964849 |
0,063921240 |
5 |
0,012909944 |
18,2 |
0,140000000 |
0,035115354 |
0,035108137 |
31,7 |
0,243846154 |
0,061582438 |
0,061543522 |
6 |
0,012403473 |
17,5 |
0,134615385 |
0,033756326 |
0,033749916 |
30,3 |
0,233076923 |
0,058810139 |
0,058776244 |
Lp. |
|
Mniejszy okrąg [mm] |
|
[rad] |
|
Większy okrąg [mm] |
|
[rad] |
|
7 |
0,011952286 |
16,5 |
0,126923077 |
0,031816587 |
0,031811219 |
29,6 |
0,227692308 |
0,057426770 |
0,057395211 |
8 |
0,011547005 |
15,5 |
0,119230769 |
0,029878772 |
0,029874327 |
28,3 |
0,217692308 |
0,054862362 |
0,054834845 |
9 |
0,011180340 |
15,3 |
0,117692308 |
0,029491429 |
0,029487155 |
27,6 |
0,212307692 |
0,053483971 |
0,053458476 |
10 |
0,010846523 |
14,6 |
0,112307692 |
0,028136283 |
0,028132571 |
26,9 |
0,206923077 |
0,052107230 |
0,052083653 |
11 |
0,010540926 |
14,3 |
0,110000000 |
0,027555762 |
0,027552275 |
25,9 |
0,199230769 |
0,050143223 |
0,050122212 |
Obliczenie współczynników nachylenia prostych oraz błędu metodą najmniejszych kwadratów.
W tym celu posłużyliśmy się arkuszem kalkulacyjnym i otrzymaliśmy następujące wyniki:
dla małego okręgu:
współczynnik nachylenia prostej a1=2,84434134
błąd współczynnika nachylenia
współczynnik korelacji r = 0,98405178
dla dużego okręgu:
współczynnik nachylenia prostej a2=5,30214176
błąd współczynnika nachylenia
współczynnik korelacji r = 0,99262118
Obliczenie odległości międzypłaszczyznowych d według wzoru
,
gdzie:
- stała Plancka,
a - współczynnik nachylenia prostej,
- masa spoczynkowa elektronu,
- ładunek elektronu
Obliczenie błędu wielkości d metodą różniczki zupełnej
Błędy względne
Wnioski
Na ekranie lampy elektronowej widoczne były dwa okręgi, które odpowiadały dwóm różnym odległościom międzypłaszczyznowym w graficie tak jak to widać na rysunku 4) w instrukcji do ćwiczenia.
Wykresy zależności sin(Θ) od
pokazują wyniki poszczególnych pomiarów w odniesieniu do prostych regresji liniowej. Ponieważ współczynnik korelacji jest zbliżony do jedności oznacza to, że nasze wyniki są z dużym prawdopodobieństwem poprawne. Wyliczone przez nas na podstawie pomiarów odległości międzypłaszczyznowe są zbliżone do odległości podanych na rysunku 4). Współczynnik korelacji bliski jedności oraz błędy względne w1 i w2 równe odpowiednio 4,24% i 2,87% wskazują na wysoką jakość wykonanych przez nas pomiarów i wyliczeń. Ewentualne niedokładności mogą wynikać z niedokładnego odczytu średnic okręgów spowodowanej zbyt małym zaciemnieniem pomieszczenia oraz niedokładnością przyrządu pomiarowego jak również napięcie generowane przez zasilacz wysokiego napięcia nie było stabilne.
wartość sinΘ
liniowy sinΘ
wartość sinΘ
liniowy sinΘ