KATEDRA ELEKTROTECHNIKI I AUTOMATYKI
LABORATORIUM ELEKTRONIKI
INSTRUKCJA LABORATORYJNA
Ćwiczenie numer: 2
Temat : Badanie tranzystora bipolarnego w układzie OE .
Bielsko - Biała 2011/2012
Uwagi wstępne.
Przed przystąpieniem do wykonywania pomiarów sprawdzić poprawność połączenia układu. Wszelkie, nawet najmniejsze wątpliwości należy zgłaszać prowadzącemu zajęcia.
Zgłosić gotowość do przeprowadzenia ćwiczenia prowadzącemu laboratorium.
Po każdym pomiarze wyniki skonsultować z prowadzącym zajęcia.
Cel ćwiczenia.
Celem ćwiczenia jest:
praktyczne zapoznanie się z metodą wyznaczania charakterystyk statycznych tranzystorów bipolarnych metodą punkt po punkcie,
wyznaczanie wybranych parametrów modelu małosygnałowego tranzystorów bipolarnych.
Schemat układu pomiarowego do badania tranzystora bipolarnego w konfiguracji OE.
Rys. 1. Schemat układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyk statycznych tranzystorów bipolarnych metodą ,,punkt po punkcie” w konfiguracji OE.
Do przeprowadzenia ćwiczenia został użyty tranzystor 2N3055.
UCEmax = 12 V
ICmax = 250 mA
IBmax = 1000 μA
Pomiar charakterystyki wyjściowej tranzystora IC = f(UCE)/I B = const.
Sposób przeprowadzenia pomiarów.
W układzie pomiarowym jak na rys. 1. zmieniając napięcie na zasilaczu Z1 ustawiamy zadaną wartość prądu bazy IB = 1000 μA, IB = 1500 μA, IB = 2000 μA. Prąd bazy IB w czasie pomiaru charakterystyki nie może się zmieniać, w razie potrzeby stosować korekcję. Regulując napięcie na zasilaczu Z2 zmieniamy wartość napięcia UCE od 0 V do 10 V co 1 V odczytując dla każdej z wartości UCE odpowiadający jej prąd IC .
Tabela 1. Wyniki pomiarów charakterystyki wyjściowej tranzystora w układzie OE.
UCE V |
IB = 1000 μA |
IB = 1500 μA |
IB = 2000 μA |
|
IC mA |
IC mA |
IC mA |
0 |
|
|
|
1 |
|
|
|
2 |
|
|
|
3 |
|
|
|
4 |
|
|
|
5 |
|
|
|
6 |
|
|
|
7 |
|
|
|
8 |
|
|
|
9 |
|
|
|
10 |
|
|
|
Pomiar charakterystyki wejściowej tranzystora UBE = f(Ib)/UCE = const.
Sposób przeprowadzenia pomiarów.
W układzie pomiarowym jak na rys. 1. zmieniając napięcie na zasilaczu Z2 ustawiamy daną wartość napięcia: UCE = 2V, UCE = 3V, które w czasie pomiaru charakterystyki nie może się zmieniać. Zmieniając napięcie na zasilaczu Z1 zmieniamy wartość prądu bazy IB od 0 μA do 1000 μA co 100 μA, odczytując dla każdej z ustawionych wartości IB odpowiadające jej napięcie UBE .
Tabela 2. Wyniki pomiaru charakterystyki wejściowej tranzystora w układzie OE:
UBE = f(IB)/UCE = const.
IB μA |
UCE = 2 V |
UCE = 3 V |
|
UBE V |
UBE V |
0 |
|
|
100 |
|
|
200 |
|
|
300 |
|
|
400 |
|
|
500 |
|
|
600 |
|
|
700 |
|
|
800 |
|
|
900 |
|
|
1000 |
|
|
Pomiar charakterystyki przejściowej prądowej tranzystora
IC = f (IB ) |UCE = const.
Sposób przeprowadzenia pomiarów.
W układzie pomiarowym jak na rys. 1. regulując napięcie na zasilaczu Z2 ustawiamy daną wartość napięcia UCE = 2V, UCE = 3V, które w czasie pomiaru charakterystyki nie może się zmieniać. Zmieniając napięcie na zasilaczu Z1 regulujemy prąd bazy IB od 0 μA do 2000 μA co 250 μA, odczytując dla każdej z ustawionych wartości IB ..
Tabela 3. Wyniki pomiarów charakterystyki przejściowej prądowej IC = f (IB ) |UCE = const.
IB μA |
UCE = 2 V |
UCE = 3 V |
|
IC mA |
IC mA |
500 |
|
|
750 |
|
|
1000 |
|
|
1250 |
|
|
1500 |
|
|
1750 |
|
|
2000 |
|
|
Pomiar charakterystyki zwrotnej napięciowej tranzystora
w układzie OE UBE = f( UCE ) |IB = const.
Sposób przeprowadzenia pomiarów.
W układzie pomiarowym jak na rys. 1. zmieniając wartość napięcia na zasilaczu Z1 ustawiamy daną wartość prądu bazy IB = 200 μA, IB = 400 μA, IB = 600 μA, która w czasie pomiaru charakterystyki nie może się zmieniać. Zasilaczem Z2 regulujemy napięcie UCE od 0 do 10V co 2V, odczytując dla każdej z ustawionych wartości UCE .
Tabela 4. Wyniki pomiarów charakterystyki zwrotnej napięciowej tranzystora
UBE = f ( UCE ) |IB = const.
UCE V |
IB = 200 μA |
IB = 400 μA |
IB = 600 μA |
|
UBE V |
UBE V |
UBE V |
0 |
|
|
|
2 |
|
|
|
4 |
|
|
|
6 |
|
|
|
8 |
|
|
|
10 |
|
|
|
Wyznaczanie wartości parametrów małosygnałowego, małoczęstotliwościowego modelu tranzystora.
Sposób wyznaczenia parametrów.
Korzystając z wykreślonych charakterystyk tranzystora w zadanym punkcie pracy wyznaczyć wartości parametrów małosygnałowego, małoczęstotliwościowego modelu
tranzystora o strukturze mieszanej (wij). Poniżej przedstawiono metodę wyznaczania tych parametrów na przykładzie konfiguracji wspólnego emitera.
Wyznaczenie parametrów h11e.
Rys.2. Sposób wyznaczania parametru h11e z charakterystyk wejściowych tranzystora.
- 4 -
Wyznaczenie parametrów h12e.
Rys. 3. Sposób wyznaczania parametru h12e z charakterystyk a) oddziaływania zwrotnego,
b) wejściowych.
- 5 -
Wyznaczenie parametrów h21e.
Rys.4. Sposób wyznaczania parametru h21e z charakterystyk a) przejściowych,
b) wyjściowych.
- 6 -
Wyznaczenie parametrów h22e.
Rys. 5. Sposób wyznaczania parametru h22e z charakterystyk wyjściowych.
Opracowanie wyników pomiarowych.
Wszystkie uzyskane wyniki należy zapisać w protokole pomiarowym który po zakończeniu ćwiczenia powinna być podpisany przez prowadzącego i dołączona do sprawozdania.
Narysowane charakterystyki statyczne tranzystora w układzie OE .
Wyznaczanie wartości parametrów małosygnałowego, małoczęstotliwościowego modelu tranzystora.
Sprawozdanie należy dostarczyć w formie wydrukowanej i dokumentu
elektronicznego
1