W ciałach stałych energie elektronów ograniczone są do pewnych poziomów, które z kolei należą do pewnych pasm. Między poszczególnymi pasmami występują tzw. przerwy energetyczne. Przebywanie elektronu w takiej przerwie jest niemożliwe. Pasma wypełnione elektronami walencyjnymi noszą nazwę pasm walencyjnych (lub podstawowych), a pasma wypełnione częściowo lub puste (odpowiadające większym energiom)-przewodnictwa. Elektrony znajdujące się w pasmach całkowicie zapełnionych nie wnoszą żadnego wkładu w przewodnictwo elektryczne, ze względu na brak wolnych, dozwolonych stanów energetycznych. W pasmach przewodnictwa (częściowo zapełnione lub puste) istnieją dozwolone puste stany energetyczne i elektrony pod wpływem np. zewnętrznego pola elektrycznego mogą przenosić się na nie, zatem biorą udział w przewodnictwie elektrycznym. Przewodniki są materiałami o niecałkowicie obsadzonym pasmie podstawowym lub o zlewających się ze sobą pasmach: podstawowym i przewodzenia. Jeżeli najwyższe zapełnione pasmo walencyjne jest oddzielone przerwą od najniższego pasma przewodnictwa to mamy do czynienia z półprzewodnikiem (przerwa energetyczna Eg<2 eV - elektrony mogą łatwo „przeskoczyć" przerwę energetyczną np. czerpiąc energię z fluktuacji termicznych) lub izolatorem (przerwa energetyczna Eg>2eV). Przerwę energetyczną Eg można wyznaczyć na kilka sposobów:
1.z zależności przewodnictwa elektrycznego od temperatury
2.z zależności przewodnictwa elektrycznego od energii padającego promieniowania
elektromagnetycznego
3.z pomiarów współczynnika absorbcji promieniowania elektromagnetycznego w
zależności od energii tego promieniowania.
Elektron może zwiększyć swoją energię jedynie kosztem absorpcji promieniowania elektromagnetycznego. Jeżeli na półprzewodnik padają fotony o energii wystarczającej na przeniesienie elektronu z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa to są one silnie absorbowane. Zatem w widmie absorpcyjnym półprzewodnika można wyróżnić gwałtowny wzrost współczynnika absorpcji w pobliżu energii hn równej szerokości przerwy energetycznej Eg. Efekty tego oddziaływania można prześledzić stosując tzw. materiałowe równania Maxwell'a. Rozwiązaniem tych równań jest równanie fali rozchodzącej się w ośrodku absorbującym:
gdzie n jest rzeczywistym współczynnikiem załamania, a wielkość ℵ jest to współczynnik ekstyncji, który opisuje absorpcję światła. Drugi czynnik ekspotencjalny opisuje tłumienie fali wraz z odległością. Natężenie fali jest wprost proporcjonalne do średniej czasowej z kwadratu pola elektrycznego (I ~ E2). Zatem stosunek natężenia promieniowania padającego do promieniowania, które przebyło pewną drogę wyraża się:
gdzie to współczynnik absorpcji.
Definicją jego jest:
dI=- I dx
gdzie dI to zmiana natężenia fali na odległości dx.
Przejścia elektronowe dla których elektron prawie nie zmienia swojego pseudo-pędu nazywamy przejściami prostymi. Występują one wtedy gdy: pj - pi = pp
gdzie pj - pseudo-pęd elektronu w stanie początkowym, pi - w stanie końcowym, a pp - pęd fotonu.
Ponieważ p=k oraz kp << ki,kj, to kj=ki, gdzie kj, ki są to odpowiednio wektor falowy elektronu w stanie początkowym i końcowym.
Wyrażenie na energetyczną zależność współczynnika absorbcji dla przejść optycznych w obszarze krawędzi absorbcji dane jest:
[25]
gdzie:
m= 1/2 dla przejść prostych dozwolonych
m= 3/2 dla przejść prostych wzbronionych
m= 2 dla przejść skośnych dozwolonych
m= 3 dla przejść skośnych wzbronionych
cm - stała zależna od rodzaju przejścia
Chcąc określić wartość przerwy energetycznej Eg z pomiarów optycznych należy wyznaczyć wartość współczynnika absorpcji , który z kolei można wyznaczyć z pomiarów współczynnika transmisji T, który jest stosunkiem natężenia fali elektromagnetycznej przechodzącej przez próbkę do natężenia fali padającej na próbkę. Transmisję światła można przedstawić jako:
[26]
gdzie jest współczynnikiem odbicia światła na granicy powietrze-warstwa, a jest współczynnikiem odbicia światła na granicy warstwa-podłoże, ns jest współczynnikiem załamania podłoża, d grubość warstwy. Złożoność wyrażenia na transmisje wynika z faktu, iż światło przechodzące przez cienką warstwę ulega nie tylko absorpcji ale także wielokrotnym odbiciom na powierzchniach rozdzielających różne ośrodki optyczne. Ponad to w widmie transmisji występują maksima i minima interferencyjne. Zjawisko interferencji zachodzi ponieważ grubość warstwy półprzewodnika jest porównywalna z długością fali promieniowania elektromagnetycznego padającego na badaną próbkę.
Współczynnik załamania n można wyznaczyć korzystając z minimów i maksimów interferencyjnych transmisji z wzoru [26] podstawiając za cos() odpowiednio jego wartość maksymalną i minimalną. Z powstałych równań otrzymujemy:
[27]
gdzie:
Mając wyznaczone R12 i R23 (niezależne od energii) oraz zmierzoną wartość transmisji T=T(hν), można wyliczyć dla każdej energii (długości fali) wartość współczynnika absorpcji korzystając ze wzoru:
[29]
Wzór ten jest słuszny w obszarze dużej absorpcji.
Wartość przerwy energetycznej należy policzyć korzystając z [25].
Opracowanie wyników dla próbki 1B CdIn2O4:
1. Sporządzenie wykresów zależności współczynnika transmisji T od długości fali .
2. Przeliczenie długości fali na energię fotonu wyrażoną w eV.
E=h, =c/
3.Wykreślenie obwiedni dla Tmin i Tmax i wyznaczenie współczynnika załamania n:
dla wielkości ze spektrofotometru jednowiązkowego (sp1):
Tmin = 0.78 = 78%
Tmax = 0.92 = 92%
n = 1.96
dla wielkości ze spektrofotometru dwuwiązkowego (sp2):
Tmin = 0.7233 = 72.33%
Tmax = 0.8904 = 89.04%
n = 2.07
Obliczenia robimy ze wzoru 27.
4. Obliczenie współczynnika odbicia na granicy powietrze-warstwa (R12) i warstwa-podłoże (R23). Współczynik załamania podłoża (szkło) ns = 1.5.
dla sp1: R12 = 0.105
R23 = 0.017
dla sp2: R12 = 0.121
R23 = 0.034
5. Obliczenie w obszarze absorpcji podstawowej współczynnika absorpcji w funkcji energii fotonu i narysowanie wykresu = f(h). liczymy ze wzoru 29.
6. Wykonanie wykresów 1/m = f(h) dla czterech różnych wartości m (1/2, 3/2, 2, 3) oraz poprowadzenie metodą najmniejszych kwadratów prostej przez punkty pomiarowe leżące w obszarze silnej absorpcji.
7. Z przedłużenia prostoliniowej części wykresu do przecięcia z osią energii wyznaczamy wartość przerwy wzbroninej Eg dla poszczególnych rodzajów przejść.
8. Obliczamy za pomocą różniczki zupełnej błąd wyznaczonej przerwy energetycznej.
Eg=0,065 eV
Tabele wyników:
dla spektrofotometru dwuwiązkowego
[nm] |
T |
E=h eV] |
[m-1] |
(h)2 |
(h)2/3 |
(h)1/2 |
(h)1/3 |
300 |
0.0002 |
4.119593 |
3.21E+7 |
1.032E+15 |
101063.3 |
5668.201 |
317.905 |
310 |
0.0019 |
3.986703 |
2.35E+7 |
5.508E+14 |
81973.13 |
4844.552 |
286.31 |
320 |
0.0057 |
3.862118 |
1.92E+7 |
3.703E+14 |
71812.62 |
4386.828 |
267.979 |
330 |
0.0112 |
3.745085 |
1.66E+7 |
2.771E+14 |
65194.84 |
4079.998 |
255.333 |
340 |
0.0183 |
3.634935 |
1.48E+7 |
2.178E+14 |
60165.99 |
3841.61 |
245.288 |
350 |
0.0278 |
3.53108 |
1.31E+7 |
1.729E+14 |
55711.54 |
3626.26 |
236.033 |
360 |
0.0408 |
3.432994 |
1.17E+7 |
1.363E+14 |
51461.76 |
3416.752 |
226.852 |
370 |
0.0598 |
3.340211 |
1.02E+7 |
1.041E+14 |
47044.16 |
3194.326 |
216.897 |
380 |
0.0865 |
3.25231 |
8.78E+6 |
7.716E+13 |
42572.27 |
2963.774 |
206.331 |
390 |
0.1247 |
3.168918 |
7.38E+6 |
5.442E+13 |
37895.96 |
2716.093 |
194.669 |
400 |
0.1748 |
3.089695 |
6.08E+6 |
3.694E+13 |
33305.54 |
2465.399 |
182.498 |
410 |
0.2353 |
3.014336 |
4.94E+6 |
2.435E+13 |
28986.39 |
2221.496 |
170.254 |
420 |
0.3015 |
2.942566 |
3.98E+6 |
1.585E+13 |
25120.88 |
1995.382 |
158.496 |
430 |
0.3623 |
2.874135 |
3.28E+6 |
1.073E+13 |
22053.34 |
1809.696 |
148.504 |
440 |
0.4127 |
2.808813 |
2.77E+6 |
7.695E+12 |
19742.82 |
1665.547 |
140.509 |
450 |
0.4516 |
2.746395 |
2.43E+6 |
5.893E+12 |
18062.79 |
1558.076 |
134.398 |
460 |
0.4832 |
2.686691 |
2.17E+6 |
4.698E+12 |
16748.22 |
1472.233 |
129.415 |
470 |
0.512 |
2.629528 |
1.94E+6 |
3.782E+12 |
15580.57 |
1394.561 |
124.822 |
480 |
0.5434 |
2.574746 |
1.72E+6 |
2.944E+12 |
14332.56 |
1309.914 |
119.719 |
490 |
0.5807 |
2.5222 |
1.46E+6 |
2.133E+12 |
12872.84 |
1208.525 |
113.459 |
500 |
0.6221 |
2.471756 |
1.2E+6 |
1.43E+12 |
11265.2 |
1093.463 |
106.138 |
510 |
0.6674 |
2.42329 |
9.25E+5 |
8.562E+11 |
9495.727 |
961.9359 |
97.446 |
520 |
0.7154 |
2.376688 |
6.58E+5 |
4.332E+11 |
7566.653 |
811.2933 |
86.9865 |
530 |
0.7635 |
2.331845 |
4.08E+5 |
1.664E+11 |
5500.285 |
638.6882 |
74.1639 |
540 |
0.8056 |
2.288663 |
2.01E+5 |
4.06E+10 |
3436.84 |
448.8689 |
58.6246 |
550 |
0.8416 |
2.247051 |
3.33E+4 |
1.111E+9 |
1035.86 |
182.5896 |
32.1848 |
Wiedząc z 25, że Cm jest współczynnikiem kierunkowym (wyznaczonych metodą najmniejszych kwadratów) prostych otrzymujemy:
Cm = 3.2382 ⋅ 1014 dla przejść prostych dozwolonych i Eg=3,05 eV,
Cm = 46704.7 dla przejść prostych wzbronionych i Eg=2.3 eV,
Cm = 2584.56 dla przejść skośnych dozwolonych i Eg=2.1 eV,
Cm = 131.285 dla przejść skośnych wzbronionych i Eg=1.7 eV.
dla spektrofotometru jednowiązkowego
cechowanie spektrofotometru
[nm] |
T [%] |
350 |
6.5 |
370 |
20 |
390 |
43 |
410 |
64 |
430 |
81 |
450 |
93 |
470 |
93 |
490 |
91 |
510 |
79 |
530 |
65 |
550 |
70 |
570 |
65 |
590 |
50 |
wyniki pomiarów
[nm] |
T |
E=h eV] |
m-1] |
(h)2 |
(h)2/3 |
(h)1/2 |
(h)1/3 |
350 |
0.01 |
3.5418 |
1.7218E+7 |
2.965E+14 |
66678.77 |
4149.451 |
258.2223 |
400 |
0.23 |
3.0991 |
5.1584E+6 |
2.661E+13 |
29854.33 |
2271.201 |
172.7841 |
420 |
0.375 |
2.9515 |
3.2782E+6 |
1.075E+13 |
22067.57 |
1810.573 |
148.5516 |
440 |
0.47 |
2.8173 |
2.4097E+6 |
5.807E+12 |
17973.81 |
1552.316 |
134.0665 |
460 |
0.59 |
2.6948 |
1.5351E+6 |
2.357E+12 |
13307.39 |
1238.995 |
115.3577 |
480 |
0.66 |
2.5825 |
1.1039E+6 |
1.219E+12 |
10681.12 |
1050.661 |
103.3495 |
500 |
0.72 |
2.4792 |
7.6923E+5 |
5.917E+11 |
8395.322 |
877.0574 |
91.62599 |
520 |
0.78 |
2.3839 |
4.6137E+5 |
2.129E+11 |
5970.834 |
679.2448 |
77.27118 |
540 |
0.87 |
2.2956 |
41376 |
1.712E+9 |
1196.278 |
203.4108 |
34.58725 |
Z powyższych pomiarów wynika, że:
Cm = 7.63367⋅ 1013 dla przejść prostych dozwolonych i Eg= 3,12 eV,
Cm = 48048.2 dla przejść prostych wzbronionych i Eg=2.35 eV,
Cm = 2890.26 dla przejść skośnych dozwolonych i Eg=2.22 eV,
Cm = 160,897 dla przejść skośnych wzbronionych i Eg=1.98 ev.
Z powyższych czterech możliwych przejść wybieramy przejścia proste dozwolone gdyż dla nich mamy największą liczbę punktów wykresu pokrywających się z punktami prostej regresji,a dla innych rodzajów przejść otrzymane wartości Eg leżą w obszarze słabej absorpcji. Czyli dla sp1 Eg=3,05 ±0,065eV, a dla sp1 Eg=3,12eV. Błędy zależą od dokładności pomiaru (a właściwie ustawienia) długości fali i współczynnika transmisji T. Istotna jest także krzywa cechowania spektrofotometru charakteryzująca czułość detektora dla poszczególnych długości fali. Dodatkowe błędy wynikały z tego, że dla spektrofotometru jednowiązkowego czułość detektora była najmniejsza właśnie dla długości fali odpowiadającej krawędzi absorpcji podstawowej.
Nr ćwiczenia:
37
Nr zespołu:
Data ćwiczenia:
Wydział EAiE. Rok I. Grupa
Wyznaczanie przerwy energetycznej.