131156339993792049305E6848070 n

131156339993792049305E6848070 n



LABORATORIUM METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Katedra Przeróbki Plastycznej i Metrologii Wydziału Mechanicznego Politechniki Wrocławskiej

0.    Pomiary wybranych odchyłek kształtu

1.    Pomiar odchyłki prostoliniowości

Charakterystyka wymiaru oraz opis metody pomiarowej:

Łi.fugęajkC.^. 6au^**^.*, Łoaea..ct^en


?r


.../KLfe-lVi*A^rv.


*9~


.....$----------    4w-‘...............................................


Tab.l. Wyniki pomiaru odchyłki prostoliniowości [w pm]

Nr pom.

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

Odczyt

0

0

1 l

JL

Przedstawienie wyników pomiaru prostoliniowości na wykresie


[pmL

10    11    12 pomiar

Wynik pomiaru = największa wartość odległości punktu pomiarowego od prostej przylegającej

Ap ■    2.___i

Klasa dokładności wykonania cechy geometrycznejn:_________

Ocena poprawności wykonania wymiaru:.......... .....

2. Pomiar odchyłki płaskości powierzchni

Charakterystyka wymiaru oraz opis metody pomiarowej:

jLrfrłw* . j\**AM*xjjhoai- -be    u»I^. «ły- Ls*

y%\    •^v'pC*^7 łt a ^    l* #1/1

'Tab. 2. Wyniki pomiaru płaskości powierzchni [w pm]

Kolumny

A

B

c

0

E

Wiersze

1

(7

0

1~L

<3

2

if

' &

-1

3

-14

- f

-7 <7

- 51

4

-3o

*>v

- 7 0

-30

- CH

S

-

-7 9

-V7

SPRAWOZDANIE Z ĆW 3K R00V00 Opracował: X Fita. /. Ziemba

r> Patrz -.. Materiały do ćwiczeń z Metrologii Wieikości Geometrycznych "


Strona 3


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
13094191?8889922166476@83182897062777619 n LABORATORIUM METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Katedra
13094191?8889922166476@83182897062777619 n (1) LABORATORIUM METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Kate
13100881?8889838833151721182702583208860 n LABORATORIUM METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Katedra
13115367?9993788715972?9638760 n LABORATORIUM METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Katedra Przeróbki
IMG90 9 LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i
IMG90 9 LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i
CCF20101007000 LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyk
Katedra Przeróbki Plastycznej Data ćwiczenia 18.06.2017 Temat ćwiczenia: Dokładność kształtowo
DSC00785 LABORATORIUM METROLOGU Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i
CCF20101012000 LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyk
/ X‘. Katedra Przeróbki Plastycznej i Inżynierii Bezpieczeństwa Wydział Inżynierii Produkcji i
1 (188) LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i
Obraz (294) LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i Metro
LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i
DSCN4275 (2) LABORATORIUM METROLOGII Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Automatyki i
LABORATORIUM METROLOGII WYDZIAŁ: EAiE Rok: II Grupa: 3 Tytuł ćwiczenia: Pomiary

więcej podobnych podstron