1 5

1 5



'

II

AGH


POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ

METODY POMIARU PARAMETRU NA -METODA JEFFRIESA

□ METODA JEFFRIESA

❖    Na obraz mikrostruktury płaskiej (na matówce mikroskopu lub na zdjęciu) nanosi się obszar pomiarowy T o polu A(T), mm?,

❖    Na ogół T jest KWADRATEM lub KOŁEM,

❖    Pomiar polega na oddzielnym zliczaniu ziarn należących całkowicie do T i ziarn przeciętych przez T,

□ Nw - liczba ziarn wewnątrz T,

7


UNb- liczba ziarn przeciętych przez brzeg T

❖    Liczba ziarn w T, /y e,o - to współczynniki zależne od kształtu I rozmiarów T

❖ W zależności od kształtu T rozróżnia się dwa warianty metody Jeffriesa: wariant z kołem I wariant z kwadratem


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
1 4(2) II
1 5(2) ŁASKIEJ POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ METODY POMIARU PARAMETRU NA -A
1 4 POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ agh METODY POMIARU PARAMETRU NA □Metoda
1 6(2) AGH POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ - METODY POMIARU PARAMETRU NA -MET
1 6 vv // AGH POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ - METODY POMIARU PARAMETRU NA
1 7(2) POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ AGH METODY POMIARU PARAMETRU NA -METOD
1 7 AGH POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ METODY POMIARU PARAMETRU NA -METODA P
1 8(2) POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJIM METODY POMIARU PARAMETRU I* -AGH POM
1 9(2) AGH POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ - METODY POMIARU PARAMETRU LA -POM
1 9 VI 7/ AGH POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ - METODY POMIARU PARAMETRU
10 AGH POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ METODY POMIARU PARAMETRU LA
1 8 POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ METODY POMIARU PARAMETRU LA -A0H POMIAR L
10(2) POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJPIH metody pomiaru parametru La -ACH WZ
1 3 w AGHPOMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ -PARAMETR NA sT U N - Ijczba ziarn n
rozdział 2 tom 15 TABELA 34.2.    Pomiary sytuacyjno-wysokościowe Część 1  &nbs
1 2
1 2(2) (IIII POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ ach MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ Oranicu ziam Zglad Z o polu
15(2) PI ILOŚCIOWA OCENA MIKROSTRUKTURY agh PŁASKIEJ - METODY PORÓWNAWCZE □    np. w
15(2) AGHMETODY MIKROSKOPOWE OKREŚLANIA WIELKOŚCI ZIARNA Układ powierzchni o orientacji częściowo

więcej podobnych podstron