2013013021200

2013013021200



widok w okularze zaopatrzonego w a wskazuje.



Rymndc obok przedstawi

mikroskopu

sfTcmsz Abbe’pD '

*•»

a • 69026; : 69-261;

: 36569:

e 5:669


li z H2»    zda* zawiera Warnię ?

a    »t>'.«2ssev:s. saszy^acE pttŁŚar/wytfe E^krofcompsiter spemia funkcje

i1wi;łń ry nczati - '.c-jczeaaowe pęzrtaafzanie danych pomorowych) i sterujące

(mzmeamc frw pcsgzegófer*^ fkmraaćm mzsrjwy pommo*Kj%

hi wtŚmkamęma -zmz ^rwrmtmr zatómmo r.ress. gtowicy pcmtarcnwg jak i jej

prędkc^Kę

c> <fcr^rfcwae prędkością ckmcv poaunwg BcaaZiiwia s^nsnaiizacje błędów

^B (sj I ’ (| 11

sterowne t:4ea ę1o*k> pozwala na dokładną i wydajna kocfltrołę złożonych

pcroazzfcc: krzywohniowyiii

j sfekr* * za^: v. wva komputera makia wraz ze wzrostem stopnia mechanizacji i

aatomanzacp n~ ny proi—nm j

J9 Analizując wpł-.w dokładności pocntteów na charakterystykę operacyjna kontroli

techniczna można dojść do wniosku, że:

«) z* wzrostem Nędu pomiaru rośnie prawdopodobieństwo przepuszczenia \wmiam niezgodnego i makie prawdopodobieństwo przepuszczenia wymiaru zgodnego;

b) ze wzrostem btedu pomiaru rośnie prawdopodobieństwo przepuszczenia wymiaru zgodnego i maleje prawdopodobieństwo przepuszczenia wymiaru niezgodnego;

c) ze wzrostem bkdu pomiaru rośnie prawdopodobieństwo przepuszczenia zarówno wymiaru zgodnego jak i wymiaru niezgodnego;

<*) ze wzrostem błędu pomiaru maleje prawdopodobieństwo przepuszczenia zarówno wymiaru zgodnego jak i wymiaru niezgodnego;

c) ze wzrostem błędu pomiaru rośnie prawdopodobieństwo przepuszczenia wymiaru niezgodnego, a prawdopodobieństwo przepuszczenia wymiaru zgodnego jest od dokładności kontroli niezależne.

t) dokładność pomiaru nie ma wpływu ani na prawdopodobieństwo przepuszczenia wymiaru zgodnego, ani na prawdo podobieństwo przepuszczenia wymiaru niezgodnego;

l hvugn!


Wymiar zzodny - wymiar rzeczywisty o wartości należącej do zbioru wartość czujnych;

bm*so. Zakładamy. * .    .

oznacza, że pole pod tm-», - T^Eovvln> waded~ '    ^


^ fj&


**"* »** * s^ssar-^rs:

,    ^1 v p* p,-. ^

S>M

Ksófc z w w póL względnie ich sum pracownik kontroli oceni sprawdzam



*)P. + P»: b) p, - p.; c) p,- p*. d) p^ _ p_.


*:■ * - H.


21. Klon. z elementów


- U- ?*.


a) g

d)


składowy ch czujnika sy gnalizacja świetlną ?

b)




. ?


e) rejestrator.


c) w


Którez P«uźsz>-ch stwierdzeń jest nieprawdziwe ?


1. W zrost dokładności pomiarów powoduje konieczność węc przeważnie droższych, narzędzi pomiarowych.

wydłużenie się czasu dokonywania


’ P^Ltkladn°'Ci P°miaróVV P°'VOdUje »**«i

3    ttsZSSST* —*»—*—

J' -21^Łiżrlt "Tr* *—*»

5. Wzrost ł w a .TT P    V ('v>'dzielone Pomieszczenia, klimatyzacja, itp.)

kontroli technicznej;^™3™’ P°W°duje 2mmeJszen,e liczby mylnych decyzji służb

biedzi:

:0pierwsze;    b) drogie; c) trzecie; d) czwarte; e) piąte;

wszystkie powyższe stwierdzenia są prawdziwe;


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
2013013018270 1T. Rysunek obok przedstawia widok w okularze mikroskopu odczytowego zaopatrzonego w&
funkcje A GRUPA A X -2 -i 0 1 2 y i 2 1 2 4 FUNKCJE 1. Wykres obok przedstawia zmiany
funkcje A` FUNKCJEGRUPA A °c X -2 -i 0 1 2 y i 2 1 2 4 1- Wykres obok przedstawia zmiany
image044 (4) 4. Rysunek obok przedstawia kolejkę systemową (wątek W: ma najwyższy- priorytet). Przyj
img031 (72) ZESTAW V 14. Na zdjęciu obok przedstawiono A.    wannę dezynfekcyjną. B.
logistyka zaopatrzenia3 2. Koszty powstające wewnątrz przedsiębiorstwa, wynikające z użytkowani pos
MALI EINSTEINI 1 Zabaw się w portrecistę i, krok po kroku, narysuj portret Leosia - tak jak wskazu
fizyka zad2 40V 30V-20V ■ 10V 10cm <-> 1A. Rysunek obok przedstawia przekrój przez powierzchni
image017 i2D- 4. Rysunek obok przedstawia kolejkę systemową (wątek W1 ma najwyższy priorytet). Przyj
image019 W 3 4. Rysunek obok przedstawia kolejkę systemową (wątek W1 ma najwyższy priorytet). Przyjm
image020 4. Rysunek obok przedstawia kolejkę systemową (wątek Ki ma najwyższy priorytet). Przyjmujem

więcej podobnych podstron