Laboratorium Elektroniki cz I 7

IV. D o d a t k i

D1. OPIS TESTERA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

W kilku pierwszych ćwiczeniach, wykonywanych w ramach części pierwszej laboratorium z elektroniki, do wyznaczania charakterystyk statycznych przyrządów półprzewodnikowych wykorzystywany jest uniwersalny tester wyposażony w stałe i nastawne źródła zasilające. Płyta czołowa testera jest przedstawiona na rys. D1. Gniazdo łączeniowe z 6 wyprowadzeniami, do którego wkładany jest badany przyrząd półprzewodnikowy, znajduje się w środku testera. Do każdego z wyprowadzeń podłączono dwa gniazda „bananowe", co pozwala na podłączenie źródeł i zewnętrznych przyrządów pomiarowych. Ponad tym podstawowym gniazdem łączeniowym znajduje się większe pole montażowe z czterema wielowtykowymi gniazdami. W środku pola znajdują się dwa trzyrzędowe gniazda, które mają być wykorzystywane do badania układów scalonych o większej niż 6 liczbie wyprowadzeń lub do montażu układów pomiarowych zawierających kilka przyrządów półprzewodnikowych, kilka rezystorów itp. W tych gniazdach połączone ze sobą są tylko po trzy odpowiadające sobie wyprowadzenia, a więc pó włożeniu w tym polu układu scalonego w obudowie DIL mamy możliwość podłączenia do każdego z wyprowadzeń jego obudowy jeszcze dwu przewodów łączących.

Zewnętrzne dwa dwurzędowe gniazda wielowtykowe pola montażowego są na płycie czołowej podzielone na prostokąty oznaczone różnymi kolorami i opisane symbolami napięć zasilających -12 V, +5 V I +12 V, symbolem masy i literami NC oznaczającymi pole nie podłączone, do wykorzystania przez użytkownika.

W omawianych zewnętrznych gniazdach wielowtykowych wszystkie wyprowadzenia leżące w obrębie prostokąta naniesionego na płycie czołowej są ze sobą zwarte oraz połączone z gniazdem bananowym i gniazdem typu BNC zamocowanym wewnątrz tego prostokąta. Połączenia w obrębie omawianych czterech gniazd wielowtykowych są realizowane za pomocą przygotowanych w tym celu specjalnych

251    I powered by

I Mi siol

aoooooo

Rys. D1