2009 11 28;01;24

Obliczenie niepewności:

-    niepewność typu A: Ui=s(x )=0,000265 V

A 7,46-10^ V ... _in._4w

-    niepewność typu B: u, =    =-j=-= 4,31-10 V

v3 v3

-    niepewność łączna: u_c = ^u~ + «7 = y0,000265'V' + 0,000431²V~ =0,000506 V

-    niepewność rozszerzona: U - k-u_c = 3-0,000506 V = 0,00152 V ~ 0,0016 V = 1,6 mV

Wartość średnią ze 100 pomiarów obliczono z dokładnością lepszą niż rozdzielczość pomiarów (10uV), pozostałe parametry obliczano z trzema cyframi znaczącymi, aby można było je ostatecznie zaokrąglić do dwóch lub jednej cyfry znaczącej. Niepewmość rozszerzoną obliczono zakładając rozkład normalny i poziom ufności 99,7% (współczynnik rozszerzenia k=3). Ostatecznie wynik pomiaru napięcia można zapisać następująco:

U=3,6274 V ± l,6mV gdzie liczba za znakiem ± jest wartością niepewności rozszerzonej obliczonej dla współczynnika rozszerzenia k=3 opartego na rozkładzie normalnym i określającym przedział o poziomie ufności szacowanym na 99.7%_

Należy zwrócić uwagę na zapisanie wyniku pomiaru tak aby wynik i jego niepewność były ze sobą zgodne pod względem liczby cyfr znaczących. Niepewność podano z dwoma cyframi znaczącymi, aby uniknąć zbyt dużego zaokrąglenia powyżej 20 %.

Na Rys.3.2. przedstawiono wyniki pomiarów- w postaci histogramu. Liczbę przedziałów o jednakowej szerokości dobrano tak, aby można było ocenić typ rozkładu.

<y>

ro

o

o

o

N5

W

cn

05

NJ

Ol

O

O)

ro

-o

Ol

05

W

O

o

05

05

ro

Ol

05

OJ

Ol

o

05

OJ

"vl

cn

Rys.3.2. Histogram wyników pomiarów napięcia stałego

3.2. Pomiar rezystancji pojedynczego opornika

Multimetrem BM859CF wykonano w krótkich odstępach czasu serię 200 pomiarów rezystancji opornika metalizowanego typu MŁT o wartości 470 kfż i tolerancji ± 10 %. Multimetr ustawiono na zakres 500,00 kśż (ze standardową rozdzielczością 4 ⁴/₅ cyfry). Wyniki opracowano analogicznie jak w punkcie 3.1 i przedstawiono w postaci wykresu na Rys.3.3. Kolejne punkty połączono ze sobą odcinkami. Wyniki pomiarów różnią się wyraźnie między sobą, co oznacza występowanie błędów- przypadkowych.

strona 8 z 17

Pomiary wielokrotne