0012

0012




Rys. 6.11. Współczynnik konfiguracji rp powierzchni ożebrowanych


Nazwa materiału

Tempe

ratura

powierz

chni

[°C]

Współ

czynnik

emisyjności

E

Aluminium polerowane

20+600

0,04+0,06

Aluminium utlenione

35 + 500

0,2+0,31

Stal polerowana

100

0,066

Stal utleniona

25

0,80+0,82

Miedź polerowana

80-1-115

0,02+0,023

Miedź utleniona

200

0,57 + 0,87

Mosiądz polerowany

20

0,06

Mosiądz utleniony

20

0,22

Nikiel polerowany

225

0,07

Nikiel utleniony

200

0,37 + 0,47

Blacha ocynkowana

25

N

O

CO

O

Farby olejne różnych

kolorów

100

0,92+0,96

Lakier czarny błyszczący

25

0,87

Lakier czarny matowy

40+95

0,96+0,98

Lakier biały

40 + 95

0,80 + 0,85

S. ODPROWADZANIE CIEPŁA Z URZĄDZEŃ ELEKTRONICZNYCH


nymi w tablicy 6.6 współczynnikami emisyjności wzajemnie na siebie oddziałujących powierzchni, ą> — współczynnik konfiguracji powierzchni — dla konkretnych przypadków jest podawany w formie wykresów (rys. 6.11 i 6.12) lub zależności matematycznych.

Tablica 6.6. Emlsyjność powierzchni różnych materiałów

W urządzeniach elektronicznych wartość ograniczoną przestrzeń <p = 1; dla rozprasza-czy ciepła z równoległymi prostokątnymi żeb-b

rami (p    ——(b — odległość między żebra-

b+2h

mi, h — wysokość żebra).

6.I.6.2. Wpływ rozwiązania

konstrukcyjnego na intensywność odprowadzania ciepła przez promieniowanie

W urządzeniach elektronicznych wartość współczynnika av nie przekracza 5-^-6*10-W/cms °C. Konstruktor sprzętu może wpływać na wielkość tego współczynnika przez dobór materiałów o odpowiedniej emisyjności powierzchni, tzn. na elementy, których temperaturę trzeba obniżyć, należy stosować materiały i pokrycia o dużym współczynniku emisyjności. Należy podkreślić, że w przypadkach odprowadzania ciepła z urządzeń elektronicznych w sposób nie wymuszony, wartość współczynnika ap jest porównywalna z wartością współczynnika przejmowania ciepła przez unoszenie naturalne, co umożliwia odprowadzanie około 30+50% ciepła przez promieniowanie (rys. 6.13). Przy wymuszonych, intensywnych sposobach odprowadzania ciepła z urządzeń lub przy dużych gęstościach upakowania elementów, efekty promieniowania cieplnego można pominąć.

Ponieważ w zjawisku promieniowania zachodzi nie tylko emitowanie ciepła, ale także jego absorbcja, więc część elementów może

186



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
240 2 240 Rys. 7.11. Wymiarowanie krzywizny obrotowej powierzchni walcowej: a) rzut wzdłużny, b) rzu
Rys. 6.12. Wyznaczanie współczynnika konfiguracji powierzchni g? i,2 a)    dla powier
Rys. 6.51. Sposób poprawienia współczynnika a*.dla powierzchni ożebrowanej Rys. 6.52. Zależność
P1070047 20 Czgść I. Przykłady i zadania 2.1.11. (Rys. 1-2.11). Trzy tłoki o powierzchniach: A, = 0,
scan0010 (16) 10 80 Rys. 11. Wykres zmian odkształceń styków w wyniku sprężenia, pomierzonych na zew
077 7 Rys. 11.2. Powierzchnia styku na zębach kół -    obliczyć rozmiary przylegania
11.1.4. KLINY WPUSZCZALNE PN-73/M-85031 2. CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI (rys. 11.1.13). 1. WYMIARY KLINÓ
1101240325 2. Statyka ptyaói 155 jt
1tom205 8. AUTOMATYKA 1 ROBOTYKA412 Współczesne regulatory impulsowe są mikroprocesorowe (rys. 8.11)
M Feld TBM499 11.6. Możliwości kształtowania powierzchni występujących w częściach klasy korpus499 R
M Feld TBM503 11.6. Możliwości kształtowania powierzchni występujących w częściach klasy korpus RYS.
M Feld TBM509 509 11.6. Możliwości kształtowania powierzchni występujących w częściach klasy korpus
SDA Rys. 11. Konfiguracja systemu Jeśli obie linie (data i clock) pozostają w stanie wysokim, magist

więcej podobnych podstron