SDC11630 (2)

K»ko system ob*ht |*sI upioucnnwm obiektu rxocryv»stego iotMnMc okttMu mcxywn»fo i ^90 ■lin (rys. laI 2t»

1

Rys 2 a

wow m mac nota ci*

PP *

dcl

I ^---1

(>i 1—■ rracryamM^o) I

Rys 2 b

Ha pomiaru systemu .jako modelu od—orowanie» ,«st recjulom de których Wf »e mm

IONOIU)

ad My wawyd W