U—-1* -
1. SPEKTRALNA ANALIZA EMISYJNA. OKREŚLANIE ŚLADOWYCH PIERWIASTKÓW W STOPACH PRZY UŻYCIU SPEKTROGRAFU Q-24.
2. PROMIENIOWANIE ROENTGENA. OKREŚLANIE POŁOŻENIA DEFEKTÓW W CIAŁACH STAŁYCH.
3. WŁAŚCIWOŚCI OPTYCZNE I ELEKTRYCZNE MATERII. POMIAR WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA W FUNKCJI STĘŻENIA I TEMPERATURY.
4. PÓŁPRZEWODNIKI. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYKI DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWEJ,PROSTOWNIKA JEDNOPOŁÓWKOWEGO ORAZ W UKŁADZIE GROETZA.
5. PÓŁPRZEWODNIKI. BADANIE NIEKTÓRYCH FUNKCJI WZMACNIACZA OPERACYJNEGO.
6. WPŁYW OPORU, INDUKCJI WŁASNEJ I POJEMNOŚCI NA NATĘŻENIE PRĄDU PRZEMIENNEGO.
7. PROMIENIOTWÓRCZOŚĆ. WYZNACZANIE MASOWEGO WSPÓŁCZYNNIKA POCHŁANIANIA PROMIENIOWANIA GAMMA DLA RÓŻNYCH CIAŁ.
8. STANY ENERGETYCZNE W ATOMACH. DOŚWIADCZENIE FRANKA - HERTZA.
9. LAMPY ELEKTRONOWE. WYZNACZANIE PRĘDKOŚCI TERMOELEKTRONÓW ORAZ PRACY WYJŚCIA.
10. KONTAKTOWA RÓŻNICA POTENCJAŁÓW. CECHOWANIE TERMOOGNIWA. POMIAR TEMPERATURY WRZENIA CIECZY.
11. PROMIENIOWANIE TEMPERATUROWE. WYZNACZANIE ROZKŁADU NATĘŻENIA PROMIENIOWANIA ŹRÓDŁA W FUNKCJI TEMPERATURY (SPRAWDZENIE PRAWA WIENA)
12. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK FOTOTRANZYSTORA.
13. WŁAŚCIWOŚCI ANIZOTROPOWE CIAŁ STAŁYCH. WYZNACZANIE OSI DWÓJŁOMNYCH ORAZ GRUBOŚCI RYSY METODĄ MIKROSKOPU INTERFERENCYJNO-POLARYZACYJNEGO.
15. SKŁADANIE DRGAŃ, KRZYWE LISSAJOUS. WYZNACZANIE PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO DRGAŃ SKŁADOWYCH PRZY UŻYCIU OSCYLOSKOPU.