45887 Zdjęcie0006 (2)

5?. Dfci danych jak wyk)

a)    IM

b)    0,66

wskaźnik zdolno**-! jakoActeWej c^z

t A«w*

c)

1.00

U3

58. Dla dnnych jak wyttj, górna tła ta kontrolna dla karty i-R. obliczona aa podstawia odchylenia staadardowcfo I dla a - 0.0027 jest położona na wysokoicls

a)    *5.00

S**

b)    -6,00

c)    5,00

d)    6.00

59.    Dla danych jak wyłej. górna Hnia kontrolna dla karty i K, obliczona aa podstawi* ircdnwgo rozstępu jesi położona aa wyjnkMd:

a)    *5,42

$**

b)    *6,42

c)    5,42

* ^ /

60.    Ma danych jak wydaj, próbka o wartmkłach ft-ł -ZR ’) wskazuj*^a*:

a)    punkt łady powykaj Ol X

b)    punkt leży pontżaj DUt *) punkt lijy pnwriędty Hńią Di K i t,

d)    punkt My pemtdn limą t, l IłLK

61. Pofciżratr puaktu wg danych w pytaniu poprzednim oznacza. ł»

0 unydUi wytuby są produkowane poza tolerancją P    b) procesjo* Ok

cl    proce* ase ma wy starczającej zdolności jakościowej

d) ptooca należy Harptani* > bezwzględnie poddać regulacji

Dane dn pytań (62-65k

Proca pnMhduys eSenrocratów elektrycznych (oporników)

Wartość nonunahai tnderaafjs rezystancji 100(1 ♦/»2£ł Odchylenie standardowe prosem:    ® ** I (1

Pomtary próbki 5 - rlpuotnwrj    4 - 9Ś (1

IX Dla podlanych daayck, frakcja oporników niezgodnych a wymaganiami wynosi:

aj 0.160 b> 0.500 C) 0.0027 d) 0,0135

*<?

63.    Dla podanych danych, frakcja oporników o upora* w pnnłtlah K > Kit 11 wyaoai

■)    0,1657

ry    b)    0,5000

c)    0.0027

d)    0,00135

64.    Dla podanego odchylenia standardowego i po wycentrowaniu procesu frakcja oporników niezgodnych wyniosłaby:

#1    0,0456

“    b)    0,0135

c)    0,0027

d)    0.15*7    m

65.    Jeiłi wskaźnik zdolności jakościowej c,- 143, lo należy spodziewać się następującej frakcji wyrobów niezgodnych:

f    h)    oŁ 0,00006

$>    b)    ok 0,000001

c) ok. 0.0027