17757 m pluta mikroskopia optyczna001

f.i/owyc n,e jedn • Wildy 1

znacznie różni się od współczynnika załamania n_m otaczającego rodowiska M. Na pr.<! miot ten pada spójna i równoległa wiązka światła monochromatycznego. • imd/. ze źródła Q znajdującego się w ognisku kondensora K. Powstający w płas/< yżm. ..hu/, wej //' obiektywu Ob obraz B' przedmiotu B jest wynikiem nakład tnia sic .suicio f, poindniege S_h, jak gdyby wprost przechodzącego przez preparat, u. /    i .J i

nr go Sj. ugiętego na przedmiocie fazowym B. Obraz len jest jednak on- 'sti/eg.dm • ti bynajmniej nie dlatego, że sam obiekt B jest mały, ale dlatego, i nie wykaz* on żadiu-| naturalnego kontrastu w stosunku do tła. gdyż jest tak samo pr, zroez; sty jak otac/ o tr go środowisko M.

Jak już wiadomo z rozdziału 3. w płaszczyźnie ognikowej obrazo ej nbiekts *

Ob światło bezpośrednie 5*, dające zerowe maksimi. dyfrakc-.-u zr. dla świąt- (■ koncentruje się na bardzo małym obszarze w ognisk podczas • dy światło ny ci S_Jt dające maksima dyfrakcyjne pierwszego i wyższy *    ędów, TO. pt 'o. ra się w •; • i

tego ogniska na stosunkowo dużym obszarze, ogranie.    n jedyr, nr/,.-,- średni i

nicy wyjściowej obiektywu. Obszar bezpośrednio sąsiad ' z <■ -n dum pd/ic sl • się światło nic ugięte na przedmiocie B. stanowi zarazę _x /pośredni obraz żnuu .mjI?

O Obraz ten ma rówrież strukturę dyf ikcyjną, ale :_:A>wodow . . n icm światła . otworze obiektywu Ob. Jest to po prostu obraz dyfrakcyjny Airy egu. którego ccnlr.iiw plamka, przy określonej ogniskowej obiektywu, jest tym więk-/;- mi mni.jsZj iv.i utwór. Natomiast rozkład natężenia świ. tła w płaszczyźnie ogi>^:.    //„„ po/a i

średnim obrazem źródła światła zależy już głównie od właściwości uyit.ikcyjnych • I miotu łazoweco B. Maksimum natęż-ma światła dyfrakcyjnego ugięlcm r. t przedmiocie, tym hardziej jest odległe od bezpośredniego obrazu źródła • • i przędli > >i ten ia mniejsze wymiary poprzeczne.

i o wyraźne rozdzielanie się w płaszczyźnie ogniskowej obrazowej //«,. obiektywu "f ś- iatła bezj iśredn.ego S_h i światła dyfrakcyjnego Sj szczególnie dóbr, uwidacznia u. jeśli przedn oteni fazowym B jest siatka, składająca się z przeziocystydi pasków w\ wołujących a przemian różne przesunięcia fazowe y, i ę.. fali swi -tlnu. Podobnie i w przypadk siatki amplitudowej (rys. 3.! 5) powstaje dyfrakcyi <■ >ra/ źródła w który jest p< obny do obrazu przedstawionego na rys. 3.17, / tym - •- iatło niczemu -s maksimów ; frakcyjnych jest—jak to zostać., dalej pokazane - przesuń- w i • o rr/2 w stc iku do światła bezpośredniego, czyli zerowego maksima n dyb.ikon • (przy założeniu. że (g,~</₂    jc/2). Jeśli przy tym okr- siatki />. c-zyl: sarna s/m-k.-i

dwóch sąsicd.. vh pasków, jest całkowitą wielokrotnoś | szerokości .r jednego. n.» »i. to z obrazu dyfrakcyjnego (rys. 3.17) będzie wypadać » ','s maksimów wtornub l. 2.3....). Poza zerowym maksimum dyfrakcyjnym r bardziej istotne je ' maksu um pierwszego rzędu, ponieważ ono zawsze pozostaje w -; .irazie dyfrakcyjnym » spust .d wszystkich maksimów wtórnych jego nutężcuv jest największe. Maksimum t -    *

nym źródłem światła dyfrakcyjnego, które intcrfcrując ze światłem be p.-.u -w płaszczyźnie obrazowej //’ obiektywu mikroskopowego Ob (iys. H.l) obraz przednn. fazowego, ale po pewnym zabiegu, o którym będ.ue mowa za chwile. ' wiuiło lut u u-.Si, jest tym bardziej odsepatuw ie w płaszczyźnie ogniskowej obrazowa //„, ol>- : i- •• od św--tl:» hczpośredn o S_h. im mn -s/y k okres siatki fazowo, c/; li m wę.* jej pr/v. u -z.ystc paski wywołujące różnicę In/y 7 ,-y, pizcchódz- - - przez -w -    .*»•

fali świetlnej.

426