152
kres napięć stabilizacji rzędu 6 V - 8 V, co pokrywa się z minimum wartości temperaturowego współczynnika pZ- Tak więc najlepsze własności posiadają stabilistory z tego zakresu napięć stabilizowanych Uz.
7.2.8. Diody Shotky’ego
Wpływ temperatury na przebieg charakterystyki prądowo-napięciowej złącza me-tal-półprzewodnik jest jakościowo identyczny z wpływem na złącze p-n. Obserwowane różnice mają tylko charakter ilościowy. I tak, typowe wartości współczynnika dl)/dT określającego zmiany napięcia na złączu są nieco mniejsze i zawierają się w przedziale od -1,2 mV/K do -1,6 mV/K. Natomiast zmiany prądu przewodzenia są większe, co wyrażają wartości temperaturowego współczynnika zmian tego prądu rzędu 10%/K-11%/K.
7.2.9. Tranzystory bipolarne
Właściwości tranzystora bipolarnego jako elementu zawierającego dwa złącza p-n są w znacznym stopniu uzależnione od temperatury pracy. Głównymi wielkościami wrażliwymi na temperaturę są: prądy zerowe Icbo i Iebo, napięcie emiter-baza Ueb (dla stałej wartości prądu Ie = const) oraz współczynniki wzmocnienia prądowego a i p.
Prąd zerowy ICbo będący odpowiednikiem prądu nasycenia ls spolaryzowanego zaporowo złącza p-n również zależy wykładniczo od temperatury. I w tym przypadku można przyjąć, że jego wartość ulega podwojeniu przy pewnym wzroście temperatury zwanym temperaturą podwojenia X (zależność (7.23)).
ai
icbo(t) = icbo(to)'2X (7-23)
gdzie: AT = T -T0.
Jej wartości wynosi 10 K dla germanu i 6 K dla krzemu. Tak więc krzem posiada wprawdzie większą wrażliwość na zmiany temperatury niż german, ale jest to kompensowane znacznie mniejszymi wartościami prądów zerowych (Ge: Icbo - pA, Si: Icbo - nA). Należy też pamiętać, że german nie może pracować w temperaturach wyższych niż 70°C, natomiast dla krzemu taką graniczną temperaturą jest 150°C. Na rys. 7.12 zilustrowano zależność prądów zerowych Icbo w krzemie i germanie od temperatury. Analogicznie zachowuje się prąd zerowy Iebo-
Rys. 7.12 Zależność prądów zerowych od temperatury dla tranzystorów bipolarnych wykonanych z germanu (Icbo = 4 pA) i krzemu (Icso = 1 nA)
Temperaturowy dryft napięcia baza-emiter UBe można wyrazić zależnością analogiczną do (7.17). Wartość tego dryftu zawiera się w granicach od -1,8 mV/K do -2,5 mV/K, w zależności od materiału półprzewodnikowego i wartości prądu emitera. Nieco mniejszą wartość przyjmuje ten dryft w przypadku złącza kolektor-baza. W tym przypadku wartości tego dryftu zawierają się w granicach od -0,3 mV/K do +0,3 mV/K - co wynika z odmiennej budowy tego złącza. Rysunek 7.13 ilustruje wpływ dryftu napięcia UBe na charakterystyki wejściowe tranzystora krzemowego pracującego w układzie wspólnej bazy.
Bardzo istotnym parametrem tranzystora jest współczynnik wzmocnienia prądowego p (i oczywiście a), którego wartość zależy od temperatury otoczenia, co przedstawiono na rys. 7.14. Wpływ ten wynika z oddziaływania temperatury na wartości współczynnika dyfuzji Dp,n oraz czasu życia nośników Tp.n. Czas życia nośników zwiększa się wraz ze wzrostem temperatury, co tłumaczy wzrost wartości wzmocnienia prądowego p, z tym że jest on częściowo kompensowany obniżaniem się wartości współczynnika dyfuzji. Jednocześnie obserwujemy wyraźną zależność wartości wzmocnienia prądowego p od wartości prądu kolektora lc. Ta podwójna zależność może doprowadzić poprzez efekt dodatniego sprzężenia zwrotnego do cieplnego uszkodzenia tranzystora.