Wpływ warsbvy pasywacyjnej na ruchliwość nośników w 2DEG (ang. Two Dimensional Electron Gas)
Wpływ napięcia bramka-dren na prąd upływu bramki dla tranzystora z elektrodą połową A IN i z bramką Schottky’ego
- Termiczne odparowanie (thermal evaporation)
- Rozpylanie jonowe (sputtering)
- Platerowanie jonowe (ion plating, reactiv ion plating)
- Natryskiwanie plazmowe (plasma spraying)
Klasyfikacja ze względu na stosowane ciśnienie:
- osadzanie przy ciśnieniu atmosferycznym APCVD (ang. Atmospheric Pr es surę CVD)
- osadzanie przy obniżonym ciśnieniu LPCVD (ang. Low Pressure CVD)
- osadzanie w wysokiej próżni UHVCVD (ang. Ultrahigh Yacuum CVD)
Różne odmiany CVD:
- osadzanie ze związków metaloorganicznych MOCVD (ang. Metalorganic CVD)
- osadzanie wspomagane plazmowo PECVD (ang. Plasma Enhance CYD)
- osadzanie warstw atomowych ALCVD (ang. Atomie Layer CYD)
Osadzanie dielektryków i warstw krzemu (mono- i polikrystalicznego) Reagenty są dostarczane w postaci gazowej Na grzanym podłożu zachodzą reakcje chemiczne Powstająca warstwa jest ciałem stałym.
Można wytwarzać:
- Azotek krzemu (Si3N4)
• 3SiH4 + 4NH3-> Si3N4+12H2
* warstwa odporna na utlenianie
- Poli-krzem
•SiH4-> Si + 2H2
- Tlenek krzemu
•SiH4 +02-> Si02 + 2H2
P= 10-500 Pa T = 250°C - 400°C Osadzanie: Si3N4, Si02, SiC
R> <&>
(+) Plazma przyśpiesza reakcje chemiczne
(+) Niska temperatura podłoża
(+) Dobre pokrycie stopni
(-) Niepożądane domieszkowanie
(-) Wbudowywanie się wodoru w warstwy (Powstają
naprężenia ściskające, zmieniające się na
rozciągające podczas wygrzewania)
(-) Dziury i luki w warstwach