choroszy3

53

RQ^xl'B>Rz-Rnax-2

fta-l.OjR-c =Rnax~2

R_Q=1.0,R₂=R_r?ox-2

Rq-1.G,R₂ -RriQ5r-2

^Q⁼l-0»^Rz~^rKix⁼2

R_a=i.0,R_z -Rfnax^2

Rys. 3.7. Kilka zarysów powierzchni zasadniczo różnych pod względem tribologii, o identycznych wartościach parametrów R_a, R_v R_max

powatości powierzchni również innych parametrów. Na przykład na podstawie licznych profilogramów wykonanych dla danej powierzchni w przekrojach niewiele od siebie odległych można za pomocą techniki komputerowej otrzymać mapę warstwicową (rys. 3.8). Najdokładniej można odtworzyć taką mapą za pomocą tzw. immersyjnęj interferometrii holograficznej. Ponieważ jest to metoda bezdotykowa, przeto nie ma błędów systematycznych metod profilografometrycznych, takich jak: wpływ kształtu igły, uginanie siąjej lub rysowanie igłą powierzchni. Na podstawie rysunku 3.9, który przedstawia topografię powierzchni uzyskanej w ten sposób, można wyznaczyć wiele cech geometrycznych, jak np. promienie zaokrąglenia wierzchołków i dolin, pochylenia stoków czy zmienność przekroju bruzd.

Bardzo przydatną — do badań procesów zużycia — krzywą nośności powierzchni zbudowali Abbot i Firestone. Określa ona sumę przekrojów powierzchni na poszczegól-