DSC00961 Flat

DSC00961 Flat



Tabela 3.1. Zależność liczby przejść elektronów od szerokości pasma zabronionego i temperatury

w*, eV

100K

300K

500K

I000K

6

10™°“

,0-so

,0-JU

10*“

3

10*u"

io-JU

IO*0

10“

1

IO'30

IO5

10,J

io17

0.5

I0‘*

10u

10W

To^

0.25

W~

10w

10‘*

io*1

Dla porównania rzędów ilość atomów w kuli ziemskiej jest na poziomie 10so


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
DSC00961 (6) Tabela 3.1. Zależność liczby przejść elektronów od szerokości pasma zabronionego i
DSC00961 (6) Tabela 3.1. Zależność liczby przejść elektronów od szerokości pasma zabronionego i
Img00247 251 Rys. 4.85-1. Zależność własności porcelany elektrotechnicznej od zawartości składników
slajd10 Zależność liczby poziomów kwantowania od liczbyKażdy kolejny bit sygnału cyfrowego powoduje
IMG59 (3) Rys Zależność liczby poziomów kwantowania od liczby bitów przetwornika w—1- Kod binarny n
IMAG0156 Widma fotoelektronów OWykres zależności natężenia strumienia elektronów od ich Ekjn (EB) —
BIOFIZ16 2 6. Wyniki pomiarów zależności liczby zliczanych impulsów od grubości warstwy absorbującej
rys2 5 NIE) Rys. 2.5. Zależność rozkładu stanów elektronowych od energii. Linią przerywaną zaznaczon
P1120604 [1024x768] 151 Rys 2. Zależność przewodnictwa równoważnikowego elektrolitów od ich stężenia
DSC00909 Flat Zerwanie wiązania kowalentncgo -uwolnienie elektronu z wiązania eh odpowiada w modelu
Slajd37 Zależność gęstości prądu elektrycznego od natężenia pola elektrycznego eE m ez ^ v, = z
Slajd38 Zależność gęstości prądu elektrycznego od natężenia pola elektrycznego J =ne2z ^
DSC00935(1) III AON Zależność przebiegu linii Intetaekcyjnych od ukształtowania terenu Unia intersek

więcej podobnych podstron