IMAG0161

Counts

13000

Widmo XPS krzemu o wysokiej rozdzielczości

11000-

9000-

7000-

5000-

Label

I	BE (eV)	FWHM
Si(2p)	99.69	0.58
	100.30	0.56
SijO	100.64	0.10
SłjOj	102.72	0.90
SiOj	103.67	1.35

|W^Ajpł^wUje^erglHJtfd»/efV3/|

'iWHmjpg_

1000-

3000

Binding Energy, eV

nik analizy XPS widma o wysokiej rozdzielczości: Si (2p) - czysty tazem(99.69eV) ' z.n. ŁJ cin. (IM 67eVlSizO(100.64eV)bardzomaio.