IMAG0150
Schemat spektrometru XPS
układ soczewek skupiających
działo jonów
próbka
działo niskoenergelycznych elektronów
* Działo jonowe —
pozwala na „ścieranie" kolejnych powłok próbki i analizę głębiej położonych warstw|
■ Działo
i u okoenergets czn> eh elektronów - pozwala skompensować wytwarzający się w trakcie pomiani dodatni ładunek próbki.
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
IMAG0147 Linie spektralne XPS są identyfikowane przez energię powłoki, z której sjj wybijane (ls, 2s
IMAG0152 Schemat blokom układu pomiarowego XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) (elektrony wybija
uprzednio ogniskowej f ), aby otrzymany układ soczewek był skupiający. Opisaną powyżej metodą wyzna
Rodzaje soczewekSoczewki skupiające dwuwypukła
Sam Naprawiam Renault Twingo 5 up by dunaj2 Schemat 30. ELEKTRYCZNY UKŁAD WSPOMAGANIA KIEROWNICY
Strona00142 - 142 - 127. Przeć enlacz mikrofonowy z wzmacnia ozem operacyjnym Schemat powyższy przed
Slajd12 SOCZEWKA SKUPIAJĄCA I ROZPRASZAJĄCA ❖ to prosta przechodząca przez środki sfer tworzących
kscan25 e) Detektor Detektorami stosowanymi w spektrometrach ramanowskich są fotopo-wielacze. Schem
fia9 Soczewki 14.37. W celu wyznaczenia ogniskowej soczewki skupiającej przeprowadzono doświadczeni
fizyka optyka Przedmiot znajduje się w odległości 2 cm od soczewki skupiającej. Ogniskowa jest równ
< ^ W Rys. 5. - Schematyczny przekrój stojana - układ uzwojeń stojana z rysunku 4 widziany
IMAG0161 Counts 13000Widmo XPS krzemu o wysokiej rozdzielczości 11000- 9000- 7000- 5000- Label I B
IMAG0422 Schemat spektrometru
Rys. 2 Pierwszy schemat (Rys.i) przedstawia układ do pomiaru charakterystyki wyjściowej zasilacza
więcej podobnych podstron