1300740458

Przedmiot:

Teoria pomiarów i metody statystyczne

	w	ĆW	L	S	P
Sem. I	15

Wykład:

Populacja generalna i właściwość. Losowanie próbek: próbka - liczność próbki, próbki systematyczne i losowe, losowanie niezależne i zależne, losowanie bezpośrednie i warstwowe. Podział na klasy. Funkcje określone w próbce. Parametry próbki: statystyka -parametr próbki, momenty, wartość średnia w próbce, wariancja w próbce, odchylenie średnie w próbce wartości średniej. Liczba stopni swobody. Estymatory parametrów populacji: określenie estymatora, klasyfikacja estymatorów, metody uzyskiwania estymatorów, metoda momentów, metoda największej wiarygodności. Metoda zmiennej umownej. Pomiary wyważone: uwagi wstępne, wagi najefektywniejszego estymatora wartości oczekiwanej, oszacowanie wariancji, estymator wariancji fikcyjnej obserwacji. Populacja o rozkładzie normalnym, jednostronnie ucięta.

Literatura:

1.    K. Mańczak: Metody identyfikacji wielowymiarowych obiektów sterowania. WNT, Warszawa, 1979.

2.    K. Mańczak: Technika planowania eksperymentu. WNT, Warszawa 1976

Nazwa przedmiotu: Metody Rtg - pracownia Forma zajęć:    pracownia

Liczba godzin:    15 godz.

Status przedmiotu:

Opis przedmiotu:

-    podstawy teoretyczne i zastosowanie analizy funcji RDF (funkcji radialnego rozkładu gęstości atomowej) do opisu budowy materiałów amorficznych. Określanie promieni i liczb koordynacyjnych dla poszczególnych sfer. Określanie parametru uporządkowania bliskiego zasięgu.

-    podstawy teoretyczne i zastosowanie metody Rietvelda do udokładniania struktury materiałów mikro i nanokrystalicznych. Możliwości i ograniczenia metody Rietvelda - określanie parametrów komórki elementarnej, położenia atomów w sieci, wielkości krystalitów, uprzywilejowanej orientacji kryształów, ilościowa analiza strukturalna.

-    X’Pert Plus - uproszczona analiza Rietvelda. - Rentgenowska ilościowa analiza fazowa

-    Graphics & Identify - Rentgenowska jakościowa analiza fazowa

-    WinGixa - możliwości analizy materiałów cienkowarstwowych (do 1000 A). Określanie grubości, szorstkości i gęstości cienkich warstw.

-    Metoda SKP (stałego kąta padania) jako uzupełnienie analizy materiałów cienkowarstwowych jednorodnych i niejednorodnych (układów wielowarstwowych)

6