przewody próżniowe h) Interfejs i zestaw adaptacyjny do SEM System powinien współpracować z posiadanym przez zamawiającego systemem „Cryo” typ CT1500 firmy Oxford Instruments, możliwością wykorzystania posiadanego wyposażenia jak pompy rotacyjne firmy Edwards typ E2M8, dewary, stoliki, uchwyty | ||
29 |
Aparat do suszenia w punkcie krytycznym (CDP) powinien posiadać następujące parametry: a) komora horyzontalna b) minimalne wymiary komory: długość 75 mm, średnica 33 mm, c) otwierane drzwi tylne komory d) płaszcz wodny do ogrzewania/oziębiania komory e) -czujniki pomiaru parametrów ciśnienia i temperatury f) okno podglądu z przodu urządzenia o wymiarze 22mm | |
30 |
Oferowany mikroskop powinien być kompatibilny z posiadanym systemem LE03435VP i mieć możliwość wykorzystania posiadanych cylindrów Wehnelta, katod, stolików na próby, uchwytów, stolików wstępnie zamrożonych w systemie Cryo | |
Mikroanalizator rentgenowski EDX powinien bezwzględnie spełniać następujące wymagania: | ||
31 |
Układ spektrometru EDX powinien być konstrukcyjnie (sprzętowo i programowo) przystosowany do integracji z układem mikroskopu SEM. | |
32 |
EDX musi umożliwiać detekcje pierwiastków od Boru (5) do Ameryku (95) | |
33 |
Detektor typu SDD powinien być chłodzony podwójnym systemem Peltier | |
34 |
Rozdzielczość co najmniej 129 eV (dla linii MnKa przy liczbie zliczeń 100.000 cps) | |
35 |
Liczba zliczeń na wejściu 700.000 cps lub lepsza, liczba zliczeń na wyjściu 250.000 cps lub lepsza | |
36 |
Detektor EDX typu SDD nie może wymagać konserwacji oraz chłodzenia ciekłym azotem | |
37 |
Spektrometr EDX musi umożliwiać wykonanie analizy jakościowej i ilościowej .całkowicie bezwzorcowo lub z wykorzystaniem wzorców analitycznych | |
38 |
Układ EDX musi zapewniać możliwość wykonania poprawnej mikroanalizy jakościowej i ilościowej z powierzchni chropowatych, prób polerowanych oraz cienkich warstw | |
39 |
System EDX musi zapewnić poprawną, bezwzorcową |