49881

■ Mechaniczny, gdzie w sprzęcie mierniczym wykorzystywane są układy mechaniczne przy przekazywaniu sygnału pomiarowego od elementów roboczych do elementów wskazujących jak to ma miejsce w pomiarowych metodach stykowych. Styk elementu wykonawczego z powierzclinią przedmiotu może być powierzchniowy, liniowy lub punktowy i jest realizowany odpowiednim doborem końcówki pomiarowej przyrządu. W celu zmniejszenia wpływu stanu powierzcluii detalu na wynik pomiaru, należy stosować punktowe metody styku przedstawione na rysunku 1.2.

p-	a- powierzclinią detalu plaska w styku z kulistą końcówką pomiarową, b- powierzchnia detalu walcowa w styku z nożową końcówką pomiarową; c- powierzchnia detalu kulista w styku z plaska powierzclinią końcówki pomiarowej.
f f
a b c
Kształty końcówek pomiarowych dla uzyskania punktowego styku pomiarowego

Kształt powierzcluii ograniczającej detal oraz materiał z którego jest wykonany, determinuje wybór odpowiedniej końcówki pomiarowej.

Optyczny, polegający na zastosowaniu równoległej wiązki świetlnej dla odwzorowania zarysu przedmiotu, uzyskanego w wyniku przejścia i przesłonięcia wiązki świetlnej na jej drodze optycznej lub w świetle odbitym.

Interferencyjny, wykorzystujący zjawisko interferencji światła czyli wzajemnego wzmacniania i wygaszania się fal, co powoduje powstawanie prążków. Odległość między prążkami L jest związana z długością użytej fali świetlnej X. Porównując wielkość zmian kształtu prążków aL do odległości między prążkami lub zliczając ich ilość można oszacować wartość wielkości mierzonej.

Pneumatyczny, w którym zmiany wielkości mierzonej powodują zmiany ilości lub ciśnienia w strumieniu powietrza przepływającego przez szczelinę utworzoną między powierzchnią przedmiotu a powierzchnią końcówki mierniczej.

	//z '///			y/		'r l l A A A AJ ’
	łłłł			łłł
Pomiar optyczny						Pomiar interferencyjny

Dla realizacji zadań pomiarowych często wykorzystuje się łączenie czynności, charakteryzujących różne rodzaje pomiarów jak np. w metodzie stykowo-optycznej stosowanej w pomiarach na mikroskopach pomiarowych, zwiększającej dokładność pomiaru.