LABORATORIUM ELEKTRONICZNE |
|||
BADANIE UKŁADÓW CMOS |
|||
ARMATYS TOMASZ BROŻEK RAFAŁ DROZDOWSKI JERZY DROZDOWSKI WOJCIECH FABIA MATEUSZ |
DATA: |
OCENA: |
PODPIS: |
WSTĘP:
Układy logiczne buduje się również przy użyciu tranzystorów unipolarnych. W układach scalonych stosuje się tranzystory z izolowaną bramką zwane MIS (MISFET), przy czym gdy izolatorem jest tlenek krzemu ( a tak jest najczęściej), stosowana jest nazwa MOS (MOSFET).
Istnieją trzy podstawowe rodzaje układów:
z tranzystorami z kanałem typu p (PMOS),
z tranzystorami z kanałem typu n (NMOS),
z tranzystorami komplementarnymi (CMOS).
Układy CMOS mają korzystne właściwości odróżniające je od realizowanych w technice PMOS i NMOS:
napięcia zasilające mogą zmieniać się w dużym zakresie (4 ÷ 16 V);
moc pobierana w stanach spoczynkowych jest znikomo mała, rzędu nanowatów i „liczy się” głównie moc tracona podczas przełączanie;
odporność na zakłócenia jest bardzo duża (podobnie jak układów DZTL);
układy CMOS mogą współpracować z układami TTL, DZTL i MOS.
Układy CMOS wytwarza się w małej, średniej i dużej skali scalenia.
Technologia wytwarzania układów typu CMOS polega na wykonaniu w tej samej kostce krzemowej dwóch tranzystorów unipolarnych MOS z kanałami wzbogaconymi o przeciwnym typie przewodnictwa „p” i „n”.
Łącząc szeregowo dwa tranzystory MOS ( elektrodami wspólnymi są obie bramki i oba dreny, a końcówki podłoży łączy się ze źródłami ) uzyskuje się inwerter CMOS:
TABELE I WYKRESY:
A) Inwerter ...
We [v] |
Wy [v] |
We[v] |
Wy [v] |
0.11 |
4.92 |
5.02 |
0.004 |
0.32 |
4.90 |
4.55 |
0.006 |
0.51 |
4.94 |
4.0 |
0.005 |
1.07 |
4.95 |
3.54 |
0.005 |
1.55 |
4.82 |
3.01 |
0.006 |
2.0 |
4.80 |
2.85 |
0.009 |
2.21 |
4.79 |
2.75 |
0.49 |
2.23 |
1.52 |
2.5 |
1.5 |
2.35 |
1.35 |
1.99 |
4.97 |
2.42 |
0.96 |
1.49 |
4.97 |
2.54 |
0.42 |
1.0 |
4.97 |
2.67 |
0.012 |
0.44 |
4.97 |
2.73 |
0.008 |
0.03 |
4.97 |
3.02 |
0.006 |
|
|
3.49 |
0.003 |
|
|
4.01 |
0.001 |
|
|
4.53 |
0.001 |
|
|
5.04 |
0.0 |
|
|
B) Badanie układu GD 4069 UB
We [v] |
Wy [v] |
We[v] |
Wy [v] |
0.03 |
4.97 |
4.99 |
0.0 |
0.46 |
4.97 |
4.79 |
0.0 |
1.02 |
4.97 |
4.5 |
0.0 |
1.43 |
4.97 |
4.0 |
0.0 |
2.11 |
4.87 |
3.81 |
0.001 |
2.60 |
4.20 |
3.7 |
0.006 |
2.66 |
2.69 |
3.54 |
0.018 |
2.68 |
2.69 |
3.38 |
0.042 |
2.71 |
1.87 |
3.13 |
0.112 |
2.74 |
0.84 |
2.80 |
0.4 |
2.80 |
0.4 |
2.50 |
4.52 |
2.94 |
0.22 |
1.97 |
4.92 |
3.0 |
0.17 |
1.59 |
4.97 |
3.12 |
0.11 |
1.04 |
4.97 |
3.31 |
0.05 |
0.47 |
4.97 |
3.65 |
0.008 |
|
|
3.76 |
0.002 |
|
|
3.8 |
0.001 |
|
|
3.9 |
0.0 |
|
|
4.1 |
0.0 |
|
|
4.5 |
0.0 |
|
|
3. WNIOSKI
Wejścia ,których stan jest obojętny (np.wejścia nie wykorzystanych bramek ) nie mogą nigdy pozostawać rozwarte w układach CMOS. Wejścia CMOS mogą być w miarę potrzeby zwierane bezpośrednio do masy lub do napięcia zasilania Udd . Ponieważ wejścia ustawiające SET i zerujące RESET w układach CMOS są zazwyczaj aktywne poziomem wysokim , powinny zostać zwarte do masy, podczas gdy np. na nie wykorzystane wejścia wielowejściowej bramki NAND powinno się podać stały poziom wysoki . Nie wolno pozostawić luzem nie wykorzystanych fragmentów układów , znajdujących się w jednej strukturze scalonej CMOS, co jest dopuszczalne w innych rodzinach układów. Nie wykorzystana bramka z rozwartym wejściem zacznie pobierać z zasilania spory prąd , płynący przez dwa jednocześnie przewodzące tranzystory, a na jej wyjściu ustali się napięcie o wartości połowy napięcia zasilania.