5027719448
PROGRAM ROZWOJOWY
I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ
8.2. Dane techniczne i schematy układów pomiarowych testera Rigel 233 TESTER BEZPIECZEŃSTWA RIGEL 233
Producent: Rigel Research Ltd. W. Brytania._
Fot.l. Rigiel 233
Dane techniczne:
Zakresy pomiarów;
prądu stałego i przemiennego (prawdziwa wartość skuteczna „True RMS") 10, 50,
100, 500, 1000, 5000 pA,
rezystancji uziemienia od 0 do 5 Q
rezystancji izolacji od 0 do 50 MQ
napięcia zasilania sieciowego (AC) 0 do 300 V
Dokładność pomiarów:
prądu i napięcia: 5% zakresu pomiarowego,
rezystancji: 10% wartości połowy zakresu pomiaru.
Manipulatory i wskaźniki:
1. Przycisk zasilania (POWER Switch)
Przełącznik wciskany zapadkowy, zielony, podświetlany w pozycji włączonej. Jego wciśnięcie załącza również zasilanie „Gniazda Testera".
KAPITAŁ LUDZKI
UNIA EUROPEJSKA
EUROPEJSKI FUNDUSZ SPOŁECZNY
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
PROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ 8.2. Dane techniczne i schematy układów pomiarowychPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ N/R switch Rys. 7. Schemat testów 8, 9 i 10 - pomiaPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ N/R switch Rys. 7. Schemat testów 8, 9 i 10 - pomiaPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Rys. 3. Schemat testu 3 - pomiar rezystancji izolacPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Rys. 9. Schemat testów 14,15 i 16 - pomiary prąduPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Rys. 3. Schemat testu 3 - pomiar rezystancji izolacPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Rys. 9. Schemat testów 14,15 i 16 - pomiary prąduPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Fot.2. Widok rzeczywisty płyty głównejPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Enclosure Rys. 5. Test 5 - pomiar rezystancji uziemPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Część aplikacyjna typu BF - część typu B z dodanąPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ za pomocą „Electrical Safety Tester RIGELPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Fot.2. Widok rzeczywisty płyty głównejPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Enclosure Rys. 5. Test 5 - pomiar rezystancji uziemPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Część aplikacyjna typu BF - część typu B z dodanąPROGRAM ROZWOJOWY I111 POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ za pomocą „Electrical Safety Tester RIGELPROGRAM ROZWOJOWY I15! POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJKlasyfikacja defektów struktury krystalicznej wg wymprogram rozwojowy Ćwiczenie 3 5 politechniki warszawskiejPROGRAM ROZWOJOWY lUl POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Ćwiczenie 3 „Czujniki pól magnetycznych. Badanieprogram rozwojowy Ćwiczenie 1 3 politechniki warszawskiejwięcej podobnych podstron