795333511

Załącznik nr 4 do ZW 33/2012

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki KARTA PRZEDMIOTU
Nazwa w języku polskim:	Metody statystyczne w EMF
Nazwa w języ ku angielskim:	Statistics for EPM
Kierunek:	Elektronika i Telekomunikacja
Stopień i forma:	II stopnia / Stacjonarne
Rodzaj przedmiotu:	Obowiązkowy / Wydziałowy
Kod przedmiotu:	ETD008075
Grupa kursów:	NIE

	Wykład	Ćwiczenia	Laboratorium	Projekt	Seminarium
Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni (ZZU)	15	15
Liczba godzin całkowitego nakładu pracy studenta (CNPS)	30	60
Forma zaliczenia	Z	Z
Liczba punktów ECTS	1	2
Liczba punktów odpowiadająca zajęciom o charakterze praktycznym (P)	0	2
Liczba punktów ECTS odpow iadająca zajęciom wymagającym bezpośredniego kontaktu (BK)	0,6	1,4

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

1.    Znajomość podstaw rachunku prawdopodobieństwa i analizy matematycznej

CELE PRZEDMIOTU

C01 Nabycie wiedzy w zakresie roli metod statystycznych w działalności inży nierskiej oraz na temat metod zbierania danych statystycznych

C02 Nabycie wiedzy na temat metod analizy danych statystycznych z zastosowaniem takich narzędzi, jak statystyka opisowa, estymacja przedziałowa, testowanie hipotez, analiza wariancji, regresja liniowa

C03 Zaznajomienie z metodami statystycznego sterowania jakością

C04 Nabycie umiejętności samodzielnego rozwiązywania problemów z zakresu zastosowania metod statystycznych

C05 Utrwalanie świadomości studenta odnośnie potrzeby stosowania metod statystycznych w działalności inżynierskiej_